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应用光栅刻线与CCD测量运动位移的研究
1
作者
王选择
李海华
杨练根
《光电工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期84-88,共5页
将计量光栅作为标准刻线,应用到对微细物体高精度定位的工作台上,并提出了一种新的直接获取运动位移的方法。调整光路使CCD获取清晰的光栅图像;对图像进行分析处理,计算出栅距与像素之间的映射关系;再对工作台移动前后的光栅图像进行对...
将计量光栅作为标准刻线,应用到对微细物体高精度定位的工作台上,并提出了一种新的直接获取运动位移的方法。调整光路使CCD获取清晰的光栅图像;对图像进行分析处理,计算出栅距与像素之间的映射关系;再对工作台移动前后的光栅图像进行对比,采用基于X-Y图的相位差比率算法获取像素位置差;从而计算出工作台的实际运行位移。实验结果表明,该方法能简单快速地实现微电子加工领域亚像素级的测量。
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关键词
位移测量
光栅刻线
图像处理
x
-Y图
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题名
应用光栅刻线与CCD测量运动位移的研究
1
作者
王选择
李海华
杨练根
机构
湖北工业大学机械工程学院
出处
《光电工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期84-88,共5页
基金
国家自然科学基金资助项目(50605018)
新世纪优秀人才支持计划资助
文摘
将计量光栅作为标准刻线,应用到对微细物体高精度定位的工作台上,并提出了一种新的直接获取运动位移的方法。调整光路使CCD获取清晰的光栅图像;对图像进行分析处理,计算出栅距与像素之间的映射关系;再对工作台移动前后的光栅图像进行对比,采用基于X-Y图的相位差比率算法获取像素位置差;从而计算出工作台的实际运行位移。实验结果表明,该方法能简单快速地实现微电子加工领域亚像素级的测量。
关键词
位移测量
光栅刻线
图像处理
x
-Y图
Keywords
displacement measurement
grating ruling
image processing
x
-
ygraph
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
应用光栅刻线与CCD测量运动位移的研究
王选择
李海华
杨练根
《光电工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
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