并行测试技术已成为未来测试领域的主要研究对象,而并行测试的最终目的是在完成同等测试的情况下,尽可能使用最少的测试时间和测试资源。在确保高精度同步触发的前提下,采用多种测试仪器对不同种类的测试信号同时并发测试是实现并行测...并行测试技术已成为未来测试领域的主要研究对象,而并行测试的最终目的是在完成同等测试的情况下,尽可能使用最少的测试时间和测试资源。在确保高精度同步触发的前提下,采用多种测试仪器对不同种类的测试信号同时并发测试是实现并行测试的一种理想方法。根据并行测试系统实际要求的不同,可采用LXI(LAN Extensions for Instrumentation)硬件触发总线机制、基于LAN同步的触发机制和基于IEEE1588精确时间协议的同步机制。通过测试前的触发信号延时校准调节,这三种触发方式的触发精度可以有很大提高。展开更多
针对SVC(Static Var Compensation,简称SVC)控制系统的同步问题,通过充分利用控制装置硬件资源,设计了一种新型软件锁相环,在DSP(Digital Signal Processing,简称DSP)单元编码实现软件锁相模块,以现场FPGA(Field Programmable Gate Arr...针对SVC(Static Var Compensation,简称SVC)控制系统的同步问题,通过充分利用控制装置硬件资源,设计了一种新型软件锁相环,在DSP(Digital Signal Processing,简称DSP)单元编码实现软件锁相模块,以现场FPGA(Field Programmable Gate Array,简称FPGA),锁相计数器替代复杂的积分环节,产生锁相角θ,配合实现锁相。通过仿真和试验验证,软件锁相环在电压不平衡、电压跌落、频率突变等条件下,仍可快速、可靠的实现锁相,减小触发误差,具有良好的应用效果。展开更多
文摘并行测试技术已成为未来测试领域的主要研究对象,而并行测试的最终目的是在完成同等测试的情况下,尽可能使用最少的测试时间和测试资源。在确保高精度同步触发的前提下,采用多种测试仪器对不同种类的测试信号同时并发测试是实现并行测试的一种理想方法。根据并行测试系统实际要求的不同,可采用LXI(LAN Extensions for Instrumentation)硬件触发总线机制、基于LAN同步的触发机制和基于IEEE1588精确时间协议的同步机制。通过测试前的触发信号延时校准调节,这三种触发方式的触发精度可以有很大提高。
文摘针对SVC(Static Var Compensation,简称SVC)控制系统的同步问题,通过充分利用控制装置硬件资源,设计了一种新型软件锁相环,在DSP(Digital Signal Processing,简称DSP)单元编码实现软件锁相模块,以现场FPGA(Field Programmable Gate Array,简称FPGA),锁相计数器替代复杂的积分环节,产生锁相角θ,配合实现锁相。通过仿真和试验验证,软件锁相环在电压不平衡、电压跌落、频率突变等条件下,仍可快速、可靠的实现锁相,减小触发误差,具有良好的应用效果。
