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TiNi/ZnO复合智能薄膜的制备及性能研究
1
作者
曾光
李子全
周衡志
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第8期1447-1450,共4页
使用射频磁控溅射法在石英衬底上制备quartz/ZnO/TiNi及quartz/TiNi/ZnO复合薄膜结构,利用XRD、SEM划痕仪等测试方法研究了复合薄膜的相结构、微观组织、力学性能。利用DMA分别研究了quartz/TiNi与quartz/ZnO/TiNi复合结构的阻尼性能随...
使用射频磁控溅射法在石英衬底上制备quartz/ZnO/TiNi及quartz/TiNi/ZnO复合薄膜结构,利用XRD、SEM划痕仪等测试方法研究了复合薄膜的相结构、微观组织、力学性能。利用DMA分别研究了quartz/TiNi与quartz/ZnO/TiNi复合结构的阻尼性能随振动频率及振幅的变化规律。结果表明,前者频率响应范围在10Hz以内,后者响应范围达到20Hz;前者的临界外加激振电压仅为0.6V,后者的临界外加激振电压达到1.0V。阻尼性能测试表明,quartz/ZnO/TiNi复合结构的阻尼性能优于quartz/TiNi复合结构。由划痕仪测得两种复合薄膜结构与基体的临界结合力分别为45.75和40.15N。
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关键词
智能薄膜
射频磁控溅射
tini
/
zno
复合薄膜
微观结构
阻尼性能
原文传递
题名
TiNi/ZnO复合智能薄膜的制备及性能研究
1
作者
曾光
李子全
周衡志
机构
南京航空航天大学
西北有色金属研究院
出处
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010年第8期1447-1450,共4页
文摘
使用射频磁控溅射法在石英衬底上制备quartz/ZnO/TiNi及quartz/TiNi/ZnO复合薄膜结构,利用XRD、SEM划痕仪等测试方法研究了复合薄膜的相结构、微观组织、力学性能。利用DMA分别研究了quartz/TiNi与quartz/ZnO/TiNi复合结构的阻尼性能随振动频率及振幅的变化规律。结果表明,前者频率响应范围在10Hz以内,后者响应范围达到20Hz;前者的临界外加激振电压仅为0.6V,后者的临界外加激振电压达到1.0V。阻尼性能测试表明,quartz/ZnO/TiNi复合结构的阻尼性能优于quartz/TiNi复合结构。由划痕仪测得两种复合薄膜结构与基体的临界结合力分别为45.75和40.15N。
关键词
智能薄膜
射频磁控溅射
tini
/
zno
复合薄膜
微观结构
阻尼性能
Keywords
intelligent
thin
films
RF
magnetron
sputtering
tini
/
zno
multilayer
thin
films
microstructure
damping
capability
分类号
TG139.6 [一般工业技术—材料科学与工程]
O484 [金属学及工艺—合金]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
TiNi/ZnO复合智能薄膜的制备及性能研究
曾光
李子全
周衡志
《稀有金属材料与工程》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2010
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