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基于合并时钟域的片上时钟描述优化方法
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作者 刘洁 李锦明 《微电子学与计算机》 2024年第7期104-109,共6页
多时钟域的可测试性设计有两种描述片上时钟(On Chip Clock,OCC)行为的方法:时钟控制定义(Clock Control Definition,CCD)和命名捕获过程(Named Capture Procedure,NCP)。但这两种方法都存在不足:CCD无法定义复杂的时钟方案和捕获方案;... 多时钟域的可测试性设计有两种描述片上时钟(On Chip Clock,OCC)行为的方法:时钟控制定义(Clock Control Definition,CCD)和命名捕获过程(Named Capture Procedure,NCP)。但这两种方法都存在不足:CCD无法定义复杂的时钟方案和捕获方案;NCP所需的测试向量数目多,运行时间久。有鉴于此,提出了一种合并时钟域NCP方法。合并时钟域NCP提高了对时钟、捕获方案、流程的可控性,弥补了CCD不可控的不足。实验数据表明,合并时钟域NCP在不影响覆盖率的情况下,为固定型故障(Stuck At Fault,SAF)节省约28%的测试向量数量和22%的运行时间,为跳变延迟型故障(Transition Delay Fault,TDF)节省约18%的测试向量数量和13%的运行时间,提升了测试向量的效率,弥补了NCP的不足。 展开更多
关键词 多时钟域 可测试性设计 片上时钟 合并时钟域NCP
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专用集成电路设计分析
2
作者 徐睿 《微电子技术》 2003年第6期26-28,共3页
本文介绍了专用集成电路的设计方法 ,分别阐述了ASIC设计的分类 ,ASIC的高层设计语言 (VHDL) ,数字逻辑系统的仿真 。
关键词 ASIC设计 硬件描述语言 仿真 可测性设计 专用集成电路
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边界扫描测试技术的发展和影响 被引量:4
3
作者 郑先刚 《电子元器件应用》 2005年第1期40-41,46,共3页
扼要介绍边界扫描测试技术的发展、IEEE 1149系列测试标准及其影响。
关键词 边界扫描 测试 可测试性设计 集成电路
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基于逻辑函数的电路可测性设计及多故障测试 被引量:2
4
作者 潘中良 《应用科学学报》 CAS CSCD 2002年第2期111-115,共5页
逻辑函数可以根据需要被表示成多种不同的形式 ,其中的 ESOP形式所需积项较少且具有一般性 .针对数字电路的多故障 ,基于逻辑函数的 ESOP形式 ,采用与门阵列和异或门树来进行电路的可测性设计 ,提出了在这种电路结构下的多故障测试方法 ... 逻辑函数可以根据需要被表示成多种不同的形式 ,其中的 ESOP形式所需积项较少且具有一般性 .针对数字电路的多故障 ,基于逻辑函数的 ESOP形式 ,采用与门阵列和异或门树来进行电路的可测性设计 ,提出了在这种电路结构下的多故障测试方法 ,给出了检测电路中多故障的通用测试集 .该测试集可从电路结构图直观求得 ,无需进行复杂处理 ,从而使测试生成变得简单快捷 . 展开更多
关键词 多故障测试 逻辑函数 可测性设计 数字电路 测试集 ESOP形式 XOR树
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脉冲多普勒雷达数字信号处理机机内测试的新方法 被引量:3
5
作者 龙腾 孙亚民 +1 位作者 何佩琨 毛二可 《北京理工大学学报》 EI CAS CSCD 1997年第6期748-752,共5页
提出了一种脉冲多普勒雷达数字信号处理机机内测试方法.该方法介于系统级和板级之间,集系统调试、在线测试和离线测试于一体,设计简单,易于实现.论证了处理机各个关键模块的具体测试方法.针对其中“数据存储重排”模块,计算了故... 提出了一种脉冲多普勒雷达数字信号处理机机内测试方法.该方法介于系统级和板级之间,集系统调试、在线测试和离线测试于一体,设计简单,易于实现.论证了处理机各个关键模块的具体测试方法.针对其中“数据存储重排”模块,计算了故障覆盖率.此法已成功地应用于某型PD雷达. 展开更多
关键词 机内测试 脉冲多普勒雷达 数字信号处理机 测试
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动目标检测雷达数字信号处理机内建自测试研究 被引量:3
6
作者 龙腾 岳彦生 孙亚民 《现代雷达》 CSCD 北大核心 1999年第4期43-53,共11页
提出了一种动目标检测雷达数字信号处理机内建自测试方法。该方法介于系统级和板级之间,集系统调试、在线测试和离线测试于一体,设计简单,易于实现。论证了处理机各个关键模块的具体测试方法。针对其中的“数据存储重排”模块和“ F... 提出了一种动目标检测雷达数字信号处理机内建自测试方法。该方法介于系统级和板级之间,集系统调试、在线测试和离线测试于一体,设计简单,易于实现。论证了处理机各个关键模块的具体测试方法。针对其中的“数据存储重排”模块和“ F F T 与求模”模块,计算了故障覆盖率。 展开更多
关键词 动目标检测雷达 数字信号处理机 BIST 雷达
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数字单稳态电路逻辑设计 被引量:2
7
作者 张振华 夏琳 《微处理机》 2009年第1期28-29,32,共3页
单稳态电路用途比较广泛,以阻容方式实现比较多。设计以数字方法来实现该功能,精度远远高于阻容设计的方式,并集成三路单稳态在一个芯片中。该芯片引用了一种关于大数值计数器的可测试性设计方法和Spi接口检测内部寄存器,对于后端测试... 单稳态电路用途比较广泛,以阻容方式实现比较多。设计以数字方法来实现该功能,精度远远高于阻容设计的方式,并集成三路单稳态在一个芯片中。该芯片引用了一种关于大数值计数器的可测试性设计方法和Spi接口检测内部寄存器,对于后端测试也比较方便。 展开更多
关键词 单稳态 可测试性设计 SPI接口 逻辑设计
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电子系统故障预测与全方位诊断策略研究 被引量:2
8
作者 强云花 《电子测试》 2021年第20期109-110,62,共3页
故障预测和预测诊断技术为故障预测与健康管理(PHM)中的两大关键技术。在测试性设计分析理论下,依据电子系统的运行原理和故障情况,提出了一种电子系统故障预测和全方位诊断模型,综合了国内外故障诊断与预测方法,文章从基于测试性的故... 故障预测和预测诊断技术为故障预测与健康管理(PHM)中的两大关键技术。在测试性设计分析理论下,依据电子系统的运行原理和故障情况,提出了一种电子系统故障预测和全方位诊断模型,综合了国内外故障诊断与预测方法,文章从基于测试性的故障预测、基于测试性设计的嵌入式故障诊断、基于信号处理的智能故障诊断这三方面介绍了电子系统故障预测和全方位诊断方法,探讨了未来的发展方向。 展开更多
关键词 综合诊断 故障预测 电子系统 测试性设计
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基于改进准深度算法的诊断策略优化方法 被引量:1
9
作者 张志龙 史贤俊 秦玉峰 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2022年第S01期729-732,共4页
针对现有诊断策略优化方法中对多值系统不可靠测试的研究较少,且难以充分考虑多值测试和不可靠测试对诊断策略优化的双重影响的问题,提出了一种基于禁忌搜索的准深度算法。首先对故障与多值测试不确定相关性矩阵和多值不可靠诊断策略问... 针对现有诊断策略优化方法中对多值系统不可靠测试的研究较少,且难以充分考虑多值测试和不可靠测试对诊断策略优化的双重影响的问题,提出了一种基于禁忌搜索的准深度算法。首先对故障与多值测试不确定相关性矩阵和多值不可靠诊断策略问题进行了描述;然后针对该问题,阐述禁忌搜索改进的准深度算法步骤;最后通过案例对所提算法进行了仿真验证。实验结果表明,所提算法能在保证故障检测和隔离效果的基础上降低算法复杂度,使得诊断策略优化过程更加准确高效。 展开更多
关键词 测试性设计 禁忌搜索 准深度算法 多值不可靠测试 诊断策略
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逆向的PLA可测性设计
10
作者 刘杰 梁华国 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2004年第11期1553-1556,共4页
根据PLA电路结构的规整性和独特性 ,提出了一种逆向思维的可测性设计方案 ,即通过适当的方法把输出端进行输入端化 ,把或阵列转变成与阵列 ,并采用了纵向观测技术 经过方案评估得出此方案在不降低故障检测覆盖率的情况下 ,既使用通用测... 根据PLA电路结构的规整性和独特性 ,提出了一种逆向思维的可测性设计方案 ,即通过适当的方法把输出端进行输入端化 ,把或阵列转变成与阵列 ,并采用了纵向观测技术 经过方案评估得出此方案在不降低故障检测覆盖率的情况下 ,既使用通用测试集 ,又减少测试矢量数 。 展开更多
关键词 可编程逻辑阵列 可测性设计 通用测试集 乘积线 移位寄存器 异或门串
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基于边界扫描技术的互连测试 被引量:1
11
作者 张学斌 《电子元器件应用》 2005年第3期45-46,共2页
边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点,主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。
关键词 边界扫描技术 可测试性设计 互连测试 集成电路
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循环移位可编程序逻辑阵列的可测试性设计 被引量:1
12
作者 韩继国 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1993年第9期21-23,共3页
本文研究了一种“芯片内部自测式”可编程序逻辑阵列(Built-in Sclf Tcst PLA)的设计方法:循环移位PLA(简称CS-PLA)法.CS-PLA与其他PLA可测试性设计方法相比,具有故障覆盖率高、对电路速度影响小、测试生成简单等特点,当PLA嵌入在芯片... 本文研究了一种“芯片内部自测式”可编程序逻辑阵列(Built-in Sclf Tcst PLA)的设计方法:循环移位PLA(简称CS-PLA)法.CS-PLA与其他PLA可测试性设计方法相比,具有故障覆盖率高、对电路速度影响小、测试生成简单等特点,当PLA嵌入在芯片内部时,不需要单独的测试状态。其芯片面积成本随PLA的规模增大而降低,因此CS-PLA特别适用于大规模“嵌入式”PLA. 展开更多
关键词 逻辑阵列 可测试性 设计 循环移位
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DFT及其在IC设计中的作用
13
作者 Virage Logic. 《电子质量》 2003年第7期100-101,107,共3页
本文介绍了测试技术的演进,并例举了Synopsys公司,Syntest Technologies等公司在研发DET技 术中的例子。
关键词 DFT IC设计 测试技术 集成电路 逻辑测试 随机测试
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反馈式内置自测试设计方案对比研究
14
作者 李晓维 《装甲兵工程学院学报》 1996年第3期43-49,共7页
对两种基于反馈的自测试(BIST)方案进行了比较研究,给出了串行反馈和并行反馈BIST方案的设计结构和操作模式。分析了它们的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加线沟通测试图生成和响应压缩部分所产生的串... 对两种基于反馈的自测试(BIST)方案进行了比较研究,给出了串行反馈和并行反馈BIST方案的设计结构和操作模式。分析了它们的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加线沟通测试图生成和响应压缩部分所产生的串行反馈BIST方案性能更好。 展开更多
关键词 测试 易测试设计 内置自测试 状态转移图
原文传递
某型军用测试设备可测试性设计验证
15
作者 张守鹏 王栋 纪传滨 《电子测试》 2017年第10期29-31,共3页
在某型军用测试设备设计的初期就考虑可测试性要求,通过优化系统结构并以方便测试为目的进行系统设计,通过故障树的方法从系统层面对测试设备的可测试性进行分析并验证,可为其它测试设备的研制提供参考。
关键词 可测试性设计 故障树
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VLSI与电子系统的层次化可测性设计
16
作者 陈庆方 吴烈诩 +1 位作者 戴昌培 赵振峰 《装甲兵工程学院学报》 1996年第3期11-15,共5页
论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。
关键词 层次化自测试 可测性设计 数模混合集成电路 系统级测试
原文传递
串行反馈内置自测试设计的研究
17
作者 李晓维 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 1994年第4期296-301,共6页
本文给出一种串行反馈内置自测试设计结构,分析了它的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加反馈线沟通测试图形生成和响应压缩部分,既能提高测试图形的随机性,又可以降低错误特征被漏检的可能性,从而提... 本文给出一种串行反馈内置自测试设计结构,分析了它的状态转移图的拓扑结构,并对若干电路做了模拟实验。研究表明:添加反馈线沟通测试图形生成和响应压缩部分,既能提高测试图形的随机性,又可以降低错误特征被漏检的可能性,从而提高故障覆盖率。 展开更多
关键词 内置自测试 设计 串行反馈
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电子设备故障预测与健康管理技术发展新动态 被引量:37
18
作者 吕克洪 程先哲 +3 位作者 李华康 张勇 邱静 刘冠军 《航空学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第11期13-24,共12页
电子设备是各类航空、航天等高新技术装备必不可少的重要组成部分。与机械类设备存在明显退化状态征兆不同,电子设备退化状态无明显的外在表现,尚无有效征兆对其状态进行刻画,对其进行故障预测与健康管理存在一定的困难。针对该问题,梳... 电子设备是各类航空、航天等高新技术装备必不可少的重要组成部分。与机械类设备存在明显退化状态征兆不同,电子设备退化状态无明显的外在表现,尚无有效征兆对其状态进行刻画,对其进行故障预测与健康管理存在一定的困难。针对该问题,梳理了电子设备故障预测与健康管理技术的基本概念和内涵,介绍了电子设备故障预测与健康管理技术的国内外研究现状,分析了当前复杂电子设备故障预测与健康管理技术面临的挑战和对策。在此基础上,结合未来复杂电子设备新特点及该领域最新研究进展,从基于间歇故障特征的健康状态表征、面向故障预测与健康管理的测试性设计和多源特征融合的健康状态评估等方面,提出了电子设备故障预测与健康管理技术发展的新方向。 展开更多
关键词 电子设备 故障预测 健康管理 测试性设计 间歇故障特征
原文传递
测试性模型对比及展望 被引量:27
19
作者 张勇 邱静 刘冠军 《测试技术学报》 2011年第6期504-514,共11页
测试性模型是进行测试性仿真、设计、分析、评估等的基础和关键.本文介绍了测试性工程及测试性模型的研究背景.较为系统地阐述了逻辑模型、信息流模型、多信号流图模型、混合诊断模型等测试性模型的组成、相关软件、应用概况等,介绍了... 测试性模型是进行测试性仿真、设计、分析、评估等的基础和关键.本文介绍了测试性工程及测试性模型的研究背景.较为系统地阐述了逻辑模型、信息流模型、多信号流图模型、混合诊断模型等测试性模型的组成、相关软件、应用概况等,介绍了这些模型的研究进展,并以某有源滤波放大电路为案例,直观、深入地分析、比较各类模型的特点.指出测试性工程对测试性模型提出的新要求及目前测试性模型存在的一些不足,提出将虚拟样机技术引入测试性建模领域,研究面向测试性的虚拟样机,构建定量化的测试性模型将是未来的发展趋势,并给出了面向测试性的虚拟样机的框架结构和组成. 展开更多
关键词 测试性 测试性模型 测试性仿真 测试性设计 测试性分析 虚拟样机
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航空电子设备故障诊断技术研究综述 被引量:22
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作者 安治永 李应红 苏长兵 《电光与控制》 北大核心 2006年第3期5-10,41,共7页
随着电子技术的发展,电子设备组成的复杂化和智能化不断提高,IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加,亦加大了电路故障测试的复杂性和困难度。本文综述了电子电路的通用测试方法和技术,并分析了局限性。详细叙述了刚刚发... 随着电子技术的发展,电子设备组成的复杂化和智能化不断提高,IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加,亦加大了电路故障测试的复杂性和困难度。本文综述了电子电路的通用测试方法和技术,并分析了局限性。详细叙述了刚刚发展起来的基于知识的故障诊断方法,它的应用使对于一个较复杂的电子设备进行准确故障诊断成为可能,并对其发展进行了探讨和展望。 展开更多
关键词 可测性设计 内建自测试 故障诊断 神经网络 信息融合 复杂电子系统 非线性
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