提出了一种应用于超高频(Ultra high frequency,UHF)射频识别(Radio frequency identification,RFID)标签芯片的射频测试技术。针对UHF RFID标签芯片射频电路的特殊工作方式,该技术可对芯片的输入阻抗和灵敏度进行准确测量,并同时完成...提出了一种应用于超高频(Ultra high frequency,UHF)射频识别(Radio frequency identification,RFID)标签芯片的射频测试技术。针对UHF RFID标签芯片射频电路的特殊工作方式,该技术可对芯片的输入阻抗和灵敏度进行准确测量,并同时完成芯片功能验证。与传统的RFID标签芯片射频测试技术相比,文中的方案利用商用阅读器和可调衰减器代替了高端或RFID专用测试设备,因此极大降低了测试成本。利用该测试方案,对已开发的UHF RFID标签芯片进行了测试与验证,并利用测试结果完成了折叠偶极子天线设计以实现芯片与天线之间的阻抗匹配。将芯片与天线组装成无源标签,其灵敏度可达-10.5 dBm。实验结果证明了该方案的正确性。展开更多
基于SMIC 0.35μm嵌入式EEPROM工艺实现了一款256byte的超低功耗EEPROM IP核。典型情况下,读电流为40μA,页编程电流为250μA,特别适合RFID(Radio Frequency Identification)标签芯片的应用。针对芯片中各种功耗的来源进行了详细的分析...基于SMIC 0.35μm嵌入式EEPROM工艺实现了一款256byte的超低功耗EEPROM IP核。典型情况下,读电流为40μA,页编程电流为250μA,特别适合RFID(Radio Frequency Identification)标签芯片的应用。针对芯片中各种功耗的来源进行了详细的分析,并给出了相应的实现方法。展开更多
文摘提出了一种应用于超高频(Ultra high frequency,UHF)射频识别(Radio frequency identification,RFID)标签芯片的射频测试技术。针对UHF RFID标签芯片射频电路的特殊工作方式,该技术可对芯片的输入阻抗和灵敏度进行准确测量,并同时完成芯片功能验证。与传统的RFID标签芯片射频测试技术相比,文中的方案利用商用阅读器和可调衰减器代替了高端或RFID专用测试设备,因此极大降低了测试成本。利用该测试方案,对已开发的UHF RFID标签芯片进行了测试与验证,并利用测试结果完成了折叠偶极子天线设计以实现芯片与天线之间的阻抗匹配。将芯片与天线组装成无源标签,其灵敏度可达-10.5 dBm。实验结果证明了该方案的正确性。
文摘基于SMIC 0.35μm嵌入式EEPROM工艺实现了一款256byte的超低功耗EEPROM IP核。典型情况下,读电流为40μA,页编程电流为250μA,特别适合RFID(Radio Frequency Identification)标签芯片的应用。针对芯片中各种功耗的来源进行了详细的分析,并给出了相应的实现方法。
