介绍以TMS320F28XX、UCD8K和HCPL-315J为核心的单个DSP控制"DC/DC直流变换器+DC/AC逆变器"两级变换逆变器。在介绍整体电路的基础上,详细分析了每个器件的特点及应用。并在500 VA 28 VDC/115 V 400 Hz逆变器样机上进行了实验...介绍以TMS320F28XX、UCD8K和HCPL-315J为核心的单个DSP控制"DC/DC直流变换器+DC/AC逆变器"两级变换逆变器。在介绍整体电路的基础上,详细分析了每个器件的特点及应用。并在500 VA 28 VDC/115 V 400 Hz逆变器样机上进行了实验,验证了设计电路的有效性。展开更多
DSP功能高覆盖率的测试是一个比较难的课题。本文以自主研发CATT-400大规模集成电路测试系统为测试平台,提出一种基于ATE (Automatic Test Equipment)的DSP的高覆盖率的测试方法;通过基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,实现该测试方法...DSP功能高覆盖率的测试是一个比较难的课题。本文以自主研发CATT-400大规模集成电路测试系统为测试平台,提出一种基于ATE (Automatic Test Equipment)的DSP的高覆盖率的测试方法;通过基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,实现该测试方法开发验证,并实现自动测试设备与测试向量的自动匹配。该方法对于有微处理器的芯片测试有很大的推广意义。展开更多
本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Co...本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。展开更多
文摘介绍以TMS320F28XX、UCD8K和HCPL-315J为核心的单个DSP控制"DC/DC直流变换器+DC/AC逆变器"两级变换逆变器。在介绍整体电路的基础上,详细分析了每个器件的特点及应用。并在500 VA 28 VDC/115 V 400 Hz逆变器样机上进行了实验,验证了设计电路的有效性。
文摘DSP功能高覆盖率的测试是一个比较难的课题。本文以自主研发CATT-400大规模集成电路测试系统为测试平台,提出一种基于ATE (Automatic Test Equipment)的DSP的高覆盖率的测试方法;通过基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,实现该测试方法开发验证,并实现自动测试设备与测试向量的自动匹配。该方法对于有微处理器的芯片测试有很大的推广意义。
文摘本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。
