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电子材料分析中的能谱干扰峰
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作者 刘义 张敬锋 《信息记录材料》 2016年第4期158-159,共2页
现在的电子元件中主要通过能谱仪进行定性分析一些常见的干扰峰以及一些容易出现混淆的谱峰,其中主要包含和峰、逃逸峰和在元件中经常遇见的元素特征峰之间的交互重叠识别峰,将容易产生错误判断的谱线进行整理,通过参考,因此能够覆盖在... 现在的电子元件中主要通过能谱仪进行定性分析一些常见的干扰峰以及一些容易出现混淆的谱峰,其中主要包含和峰、逃逸峰和在元件中经常遇见的元素特征峰之间的交互重叠识别峰,将容易产生错误判断的谱线进行整理,通过参考,因此能够覆盖在X射线能谱仪中出现的有关谱峰。本文主要探究电子材料中的能谱干扰峰。 展开更多
关键词 电子材料 能谱干扰峰 分析
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