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一种基于串行移位的测试数据生成方法
1
作者
蔡烁
邝继顺
刘铁桥
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2012年第11期298-300,F0003,共4页
针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出了一种延长扫描链的串行移位测试数据生成方法。以确定性测试生成算法为基础,充分利用测试集中的无关位X,让扫描链自行移位产生测试向量完成电路的测试。对整体串行...
针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出了一种延长扫描链的串行移位测试数据生成方法。以确定性测试生成算法为基础,充分利用测试集中的无关位X,让扫描链自行移位产生测试向量完成电路的测试。对整体串行移位和分段移位两种情况进行了实验,结果表明,经此方法生成而最终需施加至待测电路的测试数据量小于其他一些经典的测试方法的;而整体移位和分段移位分别在数据压缩效果和测试时间方面各具优势。
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关键词
测试生成
串行移位
分段移位
测试数据压缩
测试应用时间
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职称材料
题名
一种基于串行移位的测试数据生成方法
1
作者
蔡烁
邝继顺
刘铁桥
机构
湖南大学信息科学与工程学院
长沙理工大学计算机与通信工程学院
出处
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2012年第11期298-300,F0003,共4页
基金
国家自然科学基金(60773207
60673085)资助
文摘
针对集成电路测试数据量大、测试应用时间长和测试结构复杂等问题,提出了一种延长扫描链的串行移位测试数据生成方法。以确定性测试生成算法为基础,充分利用测试集中的无关位X,让扫描链自行移位产生测试向量完成电路的测试。对整体串行移位和分段移位两种情况进行了实验,结果表明,经此方法生成而最终需施加至待测电路的测试数据量小于其他一些经典的测试方法的;而整体移位和分段移位分别在数据压缩效果和测试时间方面各具优势。
关键词
测试生成
串行移位
分段移位
测试数据压缩
测试应用时间
Keywords
Test
generation
Serial
shifter
segmentation
shifter
Test
data
compression
Test
application
time
分类号
TP331 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种基于串行移位的测试数据生成方法
蔡烁
邝继顺
刘铁桥
《计算机科学》
CSCD
北大核心
2012
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