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基于SD控制器的闪存测试系统设计与研究 被引量:1
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作者 麻伟建 胡建萍 付建云 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2009年第9期1682-1683,1695,共3页
目前,Flash已经在移动存储领域和嵌入式应用系统中成为无可争议的主角。而且随着生产制造成本的不断降低,其应用领域继续快速扩大,已经从数码消费存储领域向海量数码数据存储系统不断挺进。基于SD控制器设计了一个全新的Flash测试系统。... 目前,Flash已经在移动存储领域和嵌入式应用系统中成为无可争议的主角。而且随着生产制造成本的不断降低,其应用领域继续快速扩大,已经从数码消费存储领域向海量数码数据存储系统不断挺进。基于SD控制器设计了一个全新的Flash测试系统。在SD控制器中引人了CRC校验、差错控制编码(ECC)、Flash存储器的直接存储访问(DMA)控制等关键技术,保证了存取数据的完整性、通信时数据的可靠性、传输数据的快速性。为了能够实现固件的随时下载更新,重点引入了可下载固件的RISC CPU IP核结构,满足了闪存测试系统功能的不断变化。该测试系统能够完成对闪存进行擦除测试、读写测试以及坏块的检测。 展开更多
关键词 闪存 sd控制器 测试系统 固件
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