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小型光电离反射式飞行时间质谱计 被引量:5
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作者 叶为全 张允武 +1 位作者 盛六四 高辉 《真空科学与技术》 EI CSCD 北大核心 1998年第5期383-389,共7页
介绍了合肥国家同步辐射实验室光化学站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计。该仪器以YAG激光器或同步辐射光作为激发光源,不仅可以开展气相分子的光电离、解离研究,而且可以开展固相样品激光溅射的离子团簇的研究。它具有智... 介绍了合肥国家同步辐射实验室光化学站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计。该仪器以YAG激光器或同步辐射光作为激发光源,不仅可以开展气相分子的光电离、解离研究,而且可以开展固相样品激光溅射的离子团簇的研究。它具有智能化程度高、结构紧凑和质量分辨率高等优点。 展开更多
关键词 反射式 飞行时间质谱计 质量分辨率 光电离
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浮地式反射飞行时间质谱计的设计 被引量:2
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作者 单晓斌 张允武 +3 位作者 盛六四 黄超群 杨斌 齐飞 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第3期414-418,共5页
介绍了国家同步辐射实验室原子分子物理实验站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计(RTOFMS-Ⅲ)。该仪器为浮地式结构,可用YAG激光器或同步辐射为激发光源。在质量数为107时,其质量分辨本领可达1034。
关键词 浮地 反射飞行时间质谱计 质量分辨率
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TOF-SIMS样品光学成像系统设计 被引量:2
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作者 王培智 田地 +4 位作者 包泽民 龙涛 张玉海 邱春玲 刘敦一 《质谱学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第3期282-288,共7页
本研究为飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)设计了一种具有高空间分辨率的样品光学成像系统。该系统由一种改进的Schwarzschild双反射系统、45°反射镜、变焦镜头及CCD图像传感器构成。采用ZEMAX软件对传统Schwarzschild模型进行计... 本研究为飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)设计了一种具有高空间分辨率的样品光学成像系统。该系统由一种改进的Schwarzschild双反射系统、45°反射镜、变焦镜头及CCD图像传感器构成。采用ZEMAX软件对传统Schwarzschild模型进行计算和改进,得出系统优化参数并进行仿真验证。仿真结果表明:系统最佳的成像分辨率达1μm,极限分辨率为0.4μm,RMS半径小于艾里斑直径,波像差满足瑞利判据,成像质量良好。 展开更多
关键词 成像系统 Schwarzschild双反射系统 ZEMAX 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
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