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小型光电离反射式飞行时间质谱计
被引量:
5
1
作者
叶为全
张允武
+1 位作者
盛六四
高辉
《真空科学与技术》
EI
CSCD
北大核心
1998年第5期383-389,共7页
介绍了合肥国家同步辐射实验室光化学站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计。该仪器以YAG激光器或同步辐射光作为激发光源,不仅可以开展气相分子的光电离、解离研究,而且可以开展固相样品激光溅射的离子团簇的研究。它具有智...
介绍了合肥国家同步辐射实验室光化学站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计。该仪器以YAG激光器或同步辐射光作为激发光源,不仅可以开展气相分子的光电离、解离研究,而且可以开展固相样品激光溅射的离子团簇的研究。它具有智能化程度高、结构紧凑和质量分辨率高等优点。
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关键词
反射式
飞行时间质谱计
质量分辨率
光电离
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职称材料
浮地式反射飞行时间质谱计的设计
被引量:
2
2
作者
单晓斌
张允武
+3 位作者
盛六四
黄超群
杨斌
齐飞
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第3期414-418,共5页
介绍了国家同步辐射实验室原子分子物理实验站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计(RTOFMS-Ⅲ)。该仪器为浮地式结构,可用YAG激光器或同步辐射为激发光源。在质量数为107时,其质量分辨本领可达1034。
关键词
浮地
反射飞行时间质谱计
质量分辨率
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职称材料
TOF-SIMS样品光学成像系统设计
被引量:
2
3
作者
王培智
田地
+4 位作者
包泽民
龙涛
张玉海
邱春玲
刘敦一
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期282-288,共7页
本研究为飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)设计了一种具有高空间分辨率的样品光学成像系统。该系统由一种改进的Schwarzschild双反射系统、45°反射镜、变焦镜头及CCD图像传感器构成。采用ZEMAX软件对传统Schwarzschild模型进行计...
本研究为飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)设计了一种具有高空间分辨率的样品光学成像系统。该系统由一种改进的Schwarzschild双反射系统、45°反射镜、变焦镜头及CCD图像传感器构成。采用ZEMAX软件对传统Schwarzschild模型进行计算和改进,得出系统优化参数并进行仿真验证。仿真结果表明:系统最佳的成像分辨率达1μm,极限分辨率为0.4μm,RMS半径小于艾里斑直径,波像差满足瑞利判据,成像质量良好。
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关键词
成像系统
Schwarzschild双反射系统
ZEMAX
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
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职称材料
题名
小型光电离反射式飞行时间质谱计
被引量:
5
1
作者
叶为全
张允武
盛六四
高辉
机构
中国科学技术大学国家同步辐射实验室
出处
《真空科学与技术》
EI
CSCD
北大核心
1998年第5期383-389,共7页
文摘
介绍了合肥国家同步辐射实验室光化学站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计。该仪器以YAG激光器或同步辐射光作为激发光源,不仅可以开展气相分子的光电离、解离研究,而且可以开展固相样品激光溅射的离子团簇的研究。它具有智能化程度高、结构紧凑和质量分辨率高等优点。
关键词
反射式
飞行时间质谱计
质量分辨率
光电离
Keywords
reflection
time
-of-
flight
mass
spectrometer
,
mass
resolution,
Photoionization
分类号
TL817.8 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
浮地式反射飞行时间质谱计的设计
被引量:
2
2
作者
单晓斌
张允武
盛六四
黄超群
杨斌
齐飞
机构
中国科学技术大学国家同步辐射实验室
出处
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第3期414-418,共5页
基金
国家自然科学基金委员会财政资助(20273064)
文摘
介绍了国家同步辐射实验室原子分子物理实验站自行研制的小型光电离反射式飞行时间质谱计(RTOFMS-Ⅲ)。该仪器为浮地式结构,可用YAG激光器或同步辐射为激发光源。在质量数为107时,其质量分辨本领可达1034。
关键词
浮地
反射飞行时间质谱计
质量分辨率
Keywords
Float-ground
reflection
time
-of-
flight
mass
spectrometer
mass
resolution
分类号
O433 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
TOF-SIMS样品光学成像系统设计
被引量:
2
3
作者
王培智
田地
包泽民
龙涛
张玉海
邱春玲
刘敦一
机构
吉林大学仪器科学与电气工程学院
中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心
出处
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期282-288,共7页
基金
国家重大科学仪器设备开发专项<同位素地质学专用TOF-SIMS科学仪器>之任务二(2011YQ05006902)资助
文摘
本研究为飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)设计了一种具有高空间分辨率的样品光学成像系统。该系统由一种改进的Schwarzschild双反射系统、45°反射镜、变焦镜头及CCD图像传感器构成。采用ZEMAX软件对传统Schwarzschild模型进行计算和改进,得出系统优化参数并进行仿真验证。仿真结果表明:系统最佳的成像分辨率达1μm,极限分辨率为0.4μm,RMS半径小于艾里斑直径,波像差满足瑞利判据,成像质量良好。
关键词
成像系统
Schwarzschild双反射系统
ZEMAX
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
Keywords
imaging
system
Sehwarzschild
double
reflection
system
ZEMAX
time
of
flight
-secondary
ion
mass
spectrometer
(TOF-SIMS)
分类号
TH84 [机械工程—仪器科学与技术]
O657.63 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
小型光电离反射式飞行时间质谱计
叶为全
张允武
盛六四
高辉
《真空科学与技术》
EI
CSCD
北大核心
1998
5
下载PDF
职称材料
2
浮地式反射飞行时间质谱计的设计
单晓斌
张允武
盛六四
黄超群
杨斌
齐飞
《原子与分子物理学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005
2
下载PDF
职称材料
3
TOF-SIMS样品光学成像系统设计
王培智
田地
包泽民
龙涛
张玉海
邱春玲
刘敦一
《质谱学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
2
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职称材料
已选择
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