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光电探测器直线性检测及数据处理
被引量:
2
1
作者
张慷
陈进榜
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1997年第8期758-764,共7页
本文介绍了利用汉光阑法测量半导体光电探测器直线性的方法、装置,并着重介绍了用于抑制光源功率波动影响的数据处理技术和用于参考.点选择的数据处理方法.这些技术有效地提高了系统的测量重复性和准确度.
关键词
半导体探测器
光电探测器
直线性
光辐射计
下载PDF
职称材料
题名
光电探测器直线性检测及数据处理
被引量:
2
1
作者
张慷
陈进榜
机构
南京理工大学电光学院
出处
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1997年第8期758-764,共7页
文摘
本文介绍了利用汉光阑法测量半导体光电探测器直线性的方法、装置,并着重介绍了用于抑制光源功率波动影响的数据处理技术和用于参考.点选择的数据处理方法.这些技术有效地提高了系统的测量重复性和准确度.
关键词
半导体探测器
光电探测器
直线性
光辐射计
Keywords
Semiconductor
device
photodetector
:
linearity
Measurement
分类号
TN206 [电子电信—物理电子学]
TH89 [机械工程—仪器科学与技术]
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职称材料
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作者
出处
发文年
被引量
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1
光电探测器直线性检测及数据处理
张慷
陈进榜
《光子学报》
EI
CAS
CSCD
1997
2
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职称材料
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