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集成电路变量的相关性研究
1
作者
沈森祖
石坚
郭卓梁
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1998年第2期55-60,共6页
分析测试(参数分析)在集成电路的测试中是十分重要的,解决分析测试的关键在于如何寻找优化的特征变量群(见文献)。本文介绍了选择特征变量群的数学模型以及应用方法,并得出了实验结果,揭示了器件各变量之间的内在关系,以及它们...
分析测试(参数分析)在集成电路的测试中是十分重要的,解决分析测试的关键在于如何寻找优化的特征变量群(见文献)。本文介绍了选择特征变量群的数学模型以及应用方法,并得出了实验结果,揭示了器件各变量之间的内在关系,以及它们对器件状态的影响程度。
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关键词
集成电路
测试
参数分析
相关性
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职称材料
题名
集成电路变量的相关性研究
1
作者
沈森祖
石坚
郭卓梁
机构
中船总公司第
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1998年第2期55-60,共6页
文摘
分析测试(参数分析)在集成电路的测试中是十分重要的,解决分析测试的关键在于如何寻找优化的特征变量群(见文献)。本文介绍了选择特征变量群的数学模型以及应用方法,并得出了实验结果,揭示了器件各变量之间的内在关系,以及它们对器件状态的影响程度。
关键词
集成电路
测试
参数分析
相关性
Keywords
Integrated
Circuit
Test
paramentric
analysis
Interdependency
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
集成电路变量的相关性研究
沈森祖
石坚
郭卓梁
《电子测量与仪器学报》
CSCD
1998
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