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PECVD生长纳米硅薄膜的X射线衍射分析 被引量：5
1
作者 宓小川 陈英颖 +3 位作者 吴则嘉 刘晓晗 杨晟远 张林春 《理化检验（物理分册）》 CAS 2004年第4期179-182,186,共5页
等离子增强化学沉积生长的纳米硅薄膜是由纳米级尺寸的晶粒和晶界组成的厚度极薄的薄膜,采用X射线薄膜衍射法即X射线以低掠射角(1°～5°)入射,延长X射线在薄膜中的行程,同时将聚焦光路改为平行光光路,以提高来自薄膜的衍射强度... 等离子增强化学沉积生长的纳米硅薄膜是由纳米级尺寸的晶粒和晶界组成的厚度极薄的薄膜,采用X射线薄膜衍射法即X射线以低掠射角(1°～5°)入射,延长X射线在薄膜中的行程,同时将聚焦光路改为平行光光路,以提高来自薄膜的衍射强度,得到纳米硅薄膜的衍射峰。借此方法,研究了本征膜和掺磷薄膜的硅晶体结构及掺磷浓度对硅晶粒大小和晶格微观畸变的影响。 展开更多
关键词 等离子增强化学沉积 纳米硅薄膜 X射线衍射 晶粒尺寸 微观畸变 衍射强度 掺磷薄膜 本征膜
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