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阿伏加德罗常数测量中单晶硅密度的绝对测量 被引量:5
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作者 罗志勇 杨丽峰 +3 位作者 顾英姿 郭立功 丁京安 陈朝晖 《计量学报》 CSCD 北大核心 2008年第3期211-215,共5页
基于改进型五幅算法,利用压力扫描原理设计出腔长可变式法-珀标准具和柔性铰链微位移平台,实现了标准具腔长和硅球表面与标准具之间的相移测量,建立了一套技术原理新颖、提高潜力较大的相移法精密测长系统。该测量系统对硅球直径的测量... 基于改进型五幅算法,利用压力扫描原理设计出腔长可变式法-珀标准具和柔性铰链微位移平台,实现了标准具腔长和硅球表面与标准具之间的相移测量,建立了一套技术原理新颖、提高潜力较大的相移法精密测长系统。该测量系统对硅球直径的测量准确度优于3 nm,单晶硅密度的测量不确定度达到1×10-7。 展开更多
关键词 计量学 阿伏加德罗常数 密度基准 五幅算法 单晶硅球 相移法 标准具
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