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一种新颖的集成电路版图验证方法 被引量：4
1
作者 汤炜 林争辉 +1 位作者 朱以南 肖世红 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期113-117,共5页
　版图验证是集成电路设计的瓶颈之一。文章全面系统地阐述了超大规模集成电路LVS版图验证的原理、方法和基本的流程,着重介绍了基于Dracula开发的CMOS、Bipolar和ABCD(AdvancedBipolarCMOSDMOS)工艺的LVS命令文件,在解决以上工艺的电路... 　版图验证是集成电路设计的瓶颈之一。文章全面系统地阐述了超大规模集成电路LVS版图验证的原理、方法和基本的流程,着重介绍了基于Dracula开发的CMOS、Bipolar和ABCD(AdvancedBipolarCMOSDMOS)工艺的LVS命令文件,在解决以上工艺的电路LVS的过程中,取得了令人满意的效果。 展开更多
关键词 超大规模集成电路 版图验证 VLSI Dracula语言 LDMOS lvs工具
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用于成品率分析芯片的LVS方法
2
作者 申飞 史峥 +1 位作者 潘伟伟 严晓浪 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2011年第22期225-227,共3页
研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计... 研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证。实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性。 展开更多
关键词 成品率分析芯片 形式验证 lvs技术 有序二叉判定图
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