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IC抗辐射加固的方法 被引量：4
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作者 陈桂梅 许仲德 苏秀娣 《微处理机》 1998年第4期18-19,32,共3页
本文主要介绍电离辐射引起的CMOS集成电路的失效机理，并结合我所研制的L54HCT型抗辐射加固电路，提出了抗辐射加固技术的方法。
关键词 抗辐射加固 l54hct 集成电路 CMOS电路
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