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碳化硅粉中含碳量测定方法的研究
1
作者
王卫杰
何晓梅
《真空电子技术》
2006年第4期71-73,共3页
采用高频红外碳硫分析仪对SiC粉中的含C量测定方法进行了研究,其中对试样的预处理、助熔剂、分析时间、试样用量等问题进行了探讨。试验结果表明,该方法操作简便,快速,准确,取得较为满意的效果。
关键词
SiC碳硫分析仪
高频感应炉
红外池吸收
预处理
助熔剂
下载PDF
职称材料
题名
碳化硅粉中含碳量测定方法的研究
1
作者
王卫杰
何晓梅
机构
北京真空电子技术研究所
出处
《真空电子技术》
2006年第4期71-73,共3页
文摘
采用高频红外碳硫分析仪对SiC粉中的含C量测定方法进行了研究,其中对试样的预处理、助熔剂、分析时间、试样用量等问题进行了探讨。试验结果表明,该方法操作简便,快速,准确,取得较为满意的效果。
关键词
SiC碳硫分析仪
高频感应炉
红外池吸收
预处理
助熔剂
Keywords
Silicon
carbide
powder
Carbon
and
sulfur
analyzer
High-frequency
induction
furnace
ir
cells
absorption
Pre-treatment
Fluxing
agent
分类号
TQ174 [化学工程—陶瓷工业]
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作者
出处
发文年
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1
碳化硅粉中含碳量测定方法的研究
王卫杰
何晓梅
《真空电子技术》
2006
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