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耐高过载LTCC一体化LCC封装的研制 被引量:2
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作者 何中伟 李杰 +2 位作者 周冬莲 贺彪 卢道万 《电子工艺技术》 2014年第6期334-336,340,共4页
通过封装结构设计及其制造工艺流程和LTCC基板加工、围框与基板共晶焊接、平行缝焊封盖等制造工艺的研究,成功研制了适于多芯片、多元器件微电子模块的LTCC一体化LCC封装外壳,封装气密性满足国军标要求,能够达到抗25000g机械冲击应力的... 通过封装结构设计及其制造工艺流程和LTCC基板加工、围框与基板共晶焊接、平行缝焊封盖等制造工艺的研究,成功研制了适于多芯片、多元器件微电子模块的LTCC一体化LCC封装外壳,封装气密性满足国军标要求,能够达到抗25000g机械冲击应力的耐高过载水平。 展开更多
关键词 LTCC 一体化LCC封装 真空共晶焊 平行缝焊 气密性 耐高过载
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