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能量色散X射线荧光分析基本参数法研究 被引量:15
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作者 戴振麟 葛良全 邹德慧 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期146-149,共4页
本文介绍了EDXRF中基本参数法原理和计算方法,基于此方法用C语言设计编写了基本参数法的计算程序。通过配制的合金样用该法测定其成分含量,结果表明所测合金样的成分含量与其化学分析结果基本上一致,精确度较高,相对标准偏差不超过1.3%。
关键词 基本参数法 X射线 合金样 含量
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质量衰减系数的计算与应用 被引量:7
2
作者 眭松山 魏军 史青 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1996年第2期85-89,共5页
质量衰砬系数μm是X射线理论强度计算中一项必需而重要的基本参数。它包括元素本身、元素间和元素对某波长的质量吸收。本文选用四种拟合式,用C语言编制成程序;任选波长计算与实验值进行比较,确定其精确度,提供给FP法计算初级... 质量衰砬系数μm是X射线理论强度计算中一项必需而重要的基本参数。它包括元素本身、元素间和元素对某波长的质量吸收。本文选用四种拟合式,用C语言编制成程序;任选波长计算与实验值进行比较,确定其精确度,提供给FP法计算初级和次级激发理论强度。 展开更多
关键词 质量衰减系数 基本参数法 X-射线荧光
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X射线荧光光谱法测定电镀锡板镀层中铅含量 被引量:7
3
作者 黄港明 范纯 +1 位作者 田慧玲 王君祥 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2014年第6期11-15,共5页
选取具有代表性的不同镀层质量及不同铅含量的电镀锡板样品为校准样品,采用欧盟BS EN 10333-2005(包装用钢与人和动物用食品、产品和饮料接触的扁平钢制品镀锡钢)标准要求的方法测定校准样品中镀锡层铅含量,解决了电镀锡板校准样品短... 选取具有代表性的不同镀层质量及不同铅含量的电镀锡板样品为校准样品,采用欧盟BS EN 10333-2005(包装用钢与人和动物用食品、产品和饮料接触的扁平钢制品镀锡钢)标准要求的方法测定校准样品中镀锡层铅含量,解决了电镀锡板校准样品短缺的问题,并依此建立了X射线荧光光谱法直接测定电镀锡板样品中单位镀锡层质量中铅含量的分析方法.利用仪器自带的薄膜分析软件将样品分为两层(基板层和镀锡层)来逐层分析,校正了基板中铅造成的测量干扰.采用仪器自带的基本参数法(FP)软件,自动校正了单位镀锡层质量不同造成的锡元素干扰,使校准曲线的相关系数达到0.993.结果表明,方法适用于单位镀锡层质量为2.0 g/m2及以上,基板厚度大于0.2 mm样品的测定.采用方法对电镀锡板实际样品进行分析,测定结果与欧盟BS EN 10333标准方法吻合,相对标准偏差(n=6)在4%~20%之间. 展开更多
关键词 镀锡板 镀层 基本参数法 薄膜分析软件
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黄金标准样品的X-射线荧光光谱定量分析 被引量:6
4
作者 罗立强 安庆骧 宋尔良 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 1993年第3期234-237,共4页
应用化学计量学-X-射线光谱分析软件包CMXRS V2.1,在基本参数法进行基体效应校正的基础上,选择合适的样条函数,并采用微孔面罩及石蜡衬底等实验技术,测定了29个黄金标准样品中的Au、Ag、Cu和Zn。结果证明,方法可行。Au含量在99%以上的... 应用化学计量学-X-射线光谱分析软件包CMXRS V2.1,在基本参数法进行基体效应校正的基础上,选择合适的样条函数,并采用微孔面罩及石蜡衬底等实验技术,测定了29个黄金标准样品中的Au、Ag、Cu和Zn。结果证明,方法可行。Au含量在99%以上的样品,Au的分析误差不超过0.14%,Au含量小于99%的样品,Au的分析误差不超过0.25%。 展开更多
关键词 黄金 标准样品 X-射线 荧光分析
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上海光源BL15U1束线的SRXRF定量分析 被引量:5
5
作者 张延乐 余笑寒 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第5期334-337,共4页
本文介绍了用于同步辐射X射线荧光(XRF)定量分析的基本参数法(FP)和MC模拟法。上海光源(SSRF)硬X射线微聚焦光束线(BL15U1)应用上述两种方法对样品进行定量分析,验证了方法的有效性并用定量分析结果计算了BL15U1光束线部分元素的荧光探... 本文介绍了用于同步辐射X射线荧光(XRF)定量分析的基本参数法(FP)和MC模拟法。上海光源(SSRF)硬X射线微聚焦光束线(BL15U1)应用上述两种方法对样品进行定量分析,验证了方法的有效性并用定量分析结果计算了BL15U1光束线部分元素的荧光探测限。实验结果表明,对样品中μg/g量级元素含量的定量分析结果相对误差都在10%以内,而使用MC模拟法可以直观地比较不同参数下的模拟谱与实验谱,辅助实验参数的确定,从而减小参数引起的误差,得到更为准确的结果。此外,对BL15U1探测限的计算表明该光束线具备开展高性能荧光实验的能力。 展开更多
关键词 同步辐射X射线荧光定量分析 基本参数法 MC模拟法
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基于基本参数法的EDXRF全谱拟合定量算法及其应用 被引量:4
6
作者 刘明博 廖学亮 +2 位作者 程大伟 倪子月 王海舟 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2021年第9期2807-2811,共5页
在进行能量色散X射线荧光(EDXRF)的解谱操作时,如果样品中元素含量不高,单个元素的谱峰形状在混合样品谱中会保持较好,纯元素谱剥离是一种比较好的解谱方法,同时,在不高的含量范围内,谱峰强度与元素含量的线性关系保持较好,定量较为准确... 在进行能量色散X射线荧光(EDXRF)的解谱操作时,如果样品中元素含量不高,单个元素的谱峰形状在混合样品谱中会保持较好,纯元素谱剥离是一种比较好的解谱方法,同时,在不高的含量范围内,谱峰强度与元素含量的线性关系保持较好,定量较为准确;但在常量分析中,元素之间会存在较强的吸收增强效应,并导致混合样品谱中单个元素的贡献与其纯元素谱的形状不一致,因此,用固定形状的纯元素谱剥离方法就会有较大偏差。同时,吸收增强效应会干扰谱峰强度与元素含量的线性关系,两种因素的叠加,导致元素定量的不准确,因此,在进行常量分析时,简单的纯元素谱剥离的解谱方法并不适用。介绍了一种基于基本参数(FP)法的全谱拟合定量算法,在进行谱图准确拟合的同时,完成定量计算,其操作步骤如下:首先用纯元素谱剥离的方法得到实测的各谱线强度,并以此为依据预估样品中各元素含量,然后代入FP法计算样品中各谱线理论强度,根据与实测值的偏差调整元素含量,并做“FP计算-调整含量”两个过程的迭代,直至计算谱与实测谱的强度无差别;用最后的样品构成计算各元素谱峰形状,并修正纯元素谱,再次重复“剥离解谱-估算含量-迭代FP计算”的步骤,将最终得到的元素含量认为是测试结果。该种方法弥补了简单解谱剥离方法的弊端,借助于基本参数法的计算,纯元素谱峰得到了修正,解谱更准确,同时也能很好地校正基体效应对定量分析的影响。利用这种方法对较高浓度La/Ce/Pr/Nd混合溶液样品的EDXRF谱图进行分析,新方法计算得到的谱图与实测谱的残差σ降至474.5,远小于单纯使用纯元素谱剥离方法的1415.0[1]。用该方法对多个配分含量范围从0~90%的稀土混合溶液进行检测,各样品各元素配分偏差均小于1%,多次连续测试表明,各元素的相对标准偏差RSD<1%,该方法的准确度 展开更多
关键词 EDXRF 解谱 基本参数法 最优化计算 纯元素谱剥离 稀土测试
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SDD-EDXRF中FP法无标样校正钒钛铁间吸收增强效应 被引量:3
7
作者 刘敏 庹先国 +2 位作者 李哲 石睿 张金钊 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第10期1192-1195,1200,共5页
依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-E... 依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF)进行能谱测量,采用自行开发的FP法无标样分析程序,分析得到了三元系混合样品中各元素的含量。结果表明该无标样数理模型能较好地克服V-Ti-Fe元素间的吸收增强效应,方法的精密度相对标准偏差低于0.9%,测量值与实际值的最低相对误差小于1%。 展开更多
关键词 FP法 无标样 能量色散X荧光分析 硅漂移探测器 伪三元系
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基本参数法X射线荧光无损分析铅黄铜中铜和锌 被引量:2
8
作者 刘敏 庹先国 +3 位作者 李哲 徐立鹏 王俊 陈磊 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第11期845-848,共4页
应用能量色散X射线荧光分析仪对系列铅黄铜合金标样进行能谱测量,根据基本参数法原理,获取了方法中所需的质量吸收系数()、激发因子(E)等关键参数,编写计算程序,对标样中铜、锌含量进行了分析。结果表明,基本参数法能克服铜和锌元素间... 应用能量色散X射线荧光分析仪对系列铅黄铜合金标样进行能谱测量,根据基本参数法原理,获取了方法中所需的质量吸收系数()、激发因子(E)等关键参数,编写计算程序,对标样中铜、锌含量进行了分析。结果表明,基本参数法能克服铜和锌元素间的吸收增强效应,该方法测量铅黄铜合金中铜和锌的含量范围分别为54%–64%、33%–45%,对铜、锌的相对标准偏差(n 10)分别为0.10%、0.15%。 展开更多
关键词 能量色散X荧光分析 铅黄铜合金 基本参数法 吸收增强效应
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Estimating Photometric Redshifts with Artificial Neural Networks and Multi-Parameters
9
作者 Li-Li Li Yan-Xia Zhang +1 位作者 Yong-Heng Zhao Da-Wei Yang 《Chinese Journal of Astronomy and Astrophysics》 CSCD 2007年第3期448-456,共9页
We calculate photometric redshifts from the Sloan Digital Sky Survey Data Release 2 (SDSS DR2) Galaxy Sample using artificial neural networks (ANNs). Different input sets based on various parameters (e.g. magnitu... We calculate photometric redshifts from the Sloan Digital Sky Survey Data Release 2 (SDSS DR2) Galaxy Sample using artificial neural networks (ANNs). Different input sets based on various parameters (e.g. magnitude, color index, flux information) are explored. Mainly, parameters from broadband photometry are utilized and their performances in redshift prediction are compared. While any parameter may be easily incorporated in the input, our results indicate that using the dereddened magnitudes often produces more accurate photometric redshifts than using the Petrosian magnitudes or model magnitudes as input, but the model magnitudes are superior to the Petrosian magnitudes. Also, better performance resuits when more effective parameters are used in the training set. The method is tested on a sample of 79 346 galaxies from the SDSS DR2. When using 19 parameters based on the dereddened magnitudes, the rms error in redshift estimation is σz = 0.020184. The ANN is highly competitive tool compared to the traditional template-fitting methods when a large and representative training set is available. 展开更多
关键词 GALAXIES fundamental parameters - techniques photometric - method dataanalysis
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用小波分析方法计算BL Lac天体S5 0716+714的光变周期 被引量:14
10
作者 张皓晶 张雄 +3 位作者 董富通 郑永刚 唐玲 毛李胜 《天文学报》 CSCD 北大核心 2009年第2期141-151,共11页
介绍了一种用小波分析寻找BL Lac天体S5 0716+714光变周期的方法.收集了BL Lac天体S5 0716+714光学B、V、R、I四个波段较完备的观测数据,获得了10天平均的长期光变曲线.使用此光变曲线数据进行小波分析计算,结果表明小波分析方法能较好... 介绍了一种用小波分析寻找BL Lac天体S5 0716+714光变周期的方法.收集了BL Lac天体S5 0716+714光学B、V、R、I四个波段较完备的观测数据,获得了10天平均的长期光变曲线.使用此光变曲线数据进行小波分析计算,结果表明小波分析方法能较好地分析和认证BL Lac天体的光变周期值.从小波变换系数实部的等值线图,可以准确证认BL Lac天体S5 0716+714有光变周期波动变化.由B,V,R,I四个波段的小波方差曲线分析发现BL Lac天体S5 0176+714有一个1160天的稳定周期,这个结果与Raiteri等人发现的3.3年周期是一致的.预测在2011年8月将有一次大的爆发. 展开更多
关键词 蝎虎天体 个别 星系 基本参数(光度) 方法 数据分析 小波分析
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FP法在SDD-EDXRF无标样分析技术中的应用研究 被引量:3
11
作者 刘敏 庹先国 +1 位作者 李哲 石睿 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第9期1096-1099,1104,共5页
为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe... 为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe-Ti两种伪二元体系样品进行能谱测量,并采用自行开发的FP法计算程序,分析得到了混合样品中各元素含量,含量的计算值与实际值的最低相对误差小于2%,精密度相对标准偏差低于0.8%。结果表明,所建立的FP法分析模型,能较好克服元素间的吸收增强效应,可应用于SDD-EDXRF的无标样分析过程。 展开更多
关键词 能量色散X荧光分析 基本参数法 硅漂移探测器 伪二元系
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X荧光光谱法测定高速工具钢中铬锰钨钼钒 被引量:1
12
作者 李涛 安敏 《机械研究与应用》 2013年第3期148-149,152,共3页
应用能量色散——X荧光光谱法中无标样基本参数法定量测定高速工具钢中铬锰钨钼钒等主要合金元素。从制样、采谱条件、谱处理方法等方面进行试验和讨论,通过对测定结果进行统计分析,此方法有较好的精密度和准确度,测定偏差在化学分析法... 应用能量色散——X荧光光谱法中无标样基本参数法定量测定高速工具钢中铬锰钨钼钒等主要合金元素。从制样、采谱条件、谱处理方法等方面进行试验和讨论,通过对测定结果进行统计分析,此方法有较好的精密度和准确度,测定偏差在化学分析法允许范围内,是一种简便、快捷、有效的测试方法。 展开更多
关键词 无标样基本参数法 能量色散——x荧光光谱法 高速工具钢
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X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探 被引量:16
13
作者 谭秉和 龚武 孙伟莹 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1998年第3期366-371,共6页
用开发的TBHXRF基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β,导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在... 用开发的TBHXRF基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β,导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中,三次荧光的影响不能忽略,从对比实验中得出结论,对Ni浓度高的钢铁样品在分析Cr时,必须考虑Ni、Fe对CrKα的三次荧光效应影响。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 基体效应 基本参数法 不锈钢
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X射线荧光光谱-玻璃熔融制样法分析铁矿中主成分和微量成分 被引量:15
14
作者 李升 李锦光 《光谱实验室》 CAS CSCD 1999年第3期345-347,共3页
采用n样品:m熔剂为1∶2的低稀释比玻璃熔融技术、X射线荧光法测定铁矿中的主成分和微量成分、既提高了灵敏度又消除了不均质效应,与粉末压片方法相比,对硫的分析得到了更好的结果。使用基本参数程序建立了一新的校正方法来校正... 采用n样品:m熔剂为1∶2的低稀释比玻璃熔融技术、X射线荧光法测定铁矿中的主成分和微量成分、既提高了灵敏度又消除了不均质效应,与粉末压片方法相比,对硫的分析得到了更好的结果。使用基本参数程序建立了一新的校正方法来校正由于烧失量、烧增量。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 玻璃熔融 成分分析 铁矿
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X射线荧光光谱法在线测定稀土冶炼分离过程中钬铒铥镱 被引量:11
15
作者 梁元 沈学静 +3 位作者 易启辉 刘明博 屈华阳 胡学强 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2016年第8期1-6,共6页
我国稀土冶炼分离过程复杂,但多数稀土企业仍依靠实验室离线分析指导工艺,导致分析结果严重滞后,因此现迫切需要一种高效稳定的稀土在线分析方法。实验应用稀土配分在线分析仪,建立了一种在线测定稀土冶炼分离过程中Ho、Er、Tm、Yb配分... 我国稀土冶炼分离过程复杂,但多数稀土企业仍依靠实验室离线分析指导工艺,导致分析结果严重滞后,因此现迫切需要一种高效稳定的稀土在线分析方法。实验应用稀土配分在线分析仪,建立了一种在线测定稀土冶炼分离过程中Ho、Er、Tm、Yb配分含量的方法。将采样管置于串级萃取槽水相分隔室内,在蠕动泵作用下将样品输送至分析区域,通过X射线荧光光谱法(XRF)进行检测和数据记录。实验将XRF测试条件优化为电压40kV、电流600μA、测试时间60s,模拟现场工况条件下优化蠕动泵泵速为250r/min,并采用基本参数法消除元素间吸收增强效应。样品11次测定结果的相对标准偏差(RSD)小于0.4%,实验室模拟及现场在线测试结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)的离线分析结果吻合较好,测试结果滞后时间短,完全能够满足稀土冶炼分离过程工艺动态控制的测定需要。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法(XRF) 基本参数法 在线分析 稀土冶炼分离
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X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量 被引量:10
16
作者 乔鹏 葛良全 +2 位作者 张庆贤 谷懿 米争锋 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第11期1295-1299,共5页
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标... 采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱分析 粉末压片制样法 化探样品 基本参数法 经验系数法
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X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的主要因素 被引量:8
17
作者 陶光仪 卓尚军 吉昂 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 1998年第9期873-879,共7页
提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱... 提高理论相对强度计算准确度对X射线荧光定量分析及基体效应的数学校正至关重要.本文对X射线荧光光谱中影响理论计算相对强度的几种主要因素进行了探讨.考察了谱仪几何因子的不准确性对理论相对强度的影响,用三种不同来源的X光管原级谱强度分布计算和比较了一系列谱线的相对强度,通过详细考察发现不同作者发表的质量吸收系数之间及其与实测值之间在三个区域存在显著差异,并比较了用四种常用质量吸收系数算法计算的一系列谱线的相对强度,根据不同作者的激发因子算法编制了相应的计算机程序,对Ka,La和Ma的激发因子考察了它们之间的差异. 展开更多
关键词 X射线荧光光谱 理论计算强度 质量吸收系数
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X射线荧光光谱基本参数法测定水泥生料组分 被引量:8
18
作者 张磊 王益民 +1 位作者 刘明博 刘小东 《中国建材科技》 2007年第4期12-16,共5页
采用C++语言,根据Sherman方程模型,编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料标样(GSB08-1110)进行了测试分析,并探讨了应用基本参数法对基体效应进行校正的优点与不足... 采用C++语言,根据Sherman方程模型,编写了基本参数法分析软件。在北京邦鑫伟业技术开发有限公司生产的BX-200型X射线荧光光谱仪上对国标水泥生料标样(GSB08-1110)进行了测试分析,并探讨了应用基本参数法对基体效应进行校正的优点与不足。分析结果表明:基本参数法速度稍慢,测试结果满足水泥生产要求,需要标样的数量较少,适合对水泥生料的基体效应进行校正。 展开更多
关键词 X射线荧光分析 基本参数法 基体效应 生料
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用XRF基本参数法定量计算多层薄膜的厚度 被引量:6
19
作者 眭松山 魏军 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第1期67-72,共6页
针对多层薄膜材料,用XRF基本参数(FP)法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外,还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例,提出各种不同情... 针对多层薄膜材料,用XRF基本参数(FP)法定量分析计算多层薄膜试样的厚度。除了考虑直接受人射束激发产生初级荧光外,还考虑试样中其它元素初级荧光辐射而引起的层间和层内二次荧光。以计算三层膜荧光强度为例,提出各种不同情况下计算初级和次级荧光强度的表达式。讨论二次荧光相对于,总强度的贡献。计算方法也能很好地用在大于三层膜及块样的X荧光强度计算。 展开更多
关键词 XRF基本参数法 荧光分析 薄膜 厚度 计算
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X-射线荧光光谱法测定催化剂中硫含量 被引量:5
20
作者 吴秀珍 佟瑶彩 +1 位作者 周树侠 王秀萍 《化工科技》 CAS 2002年第3期35-37,共3页
采用X 射线荧光光谱中的基本参数法测定催化剂中硫元素含量 ,测量结果与化学分析法一致。此方法相对标准偏差小于 7%,平均回收率为 96 %,检出限为 0 .0 1%。本方法简单、测定快速、测量结果准确。
关键词 X-射线荧光光谱法 测定 催化剂 硫含量 基本参数法
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