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X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁 被引量：4
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作者 王瑶 李艳萍 +1 位作者 冯圣雅 李健靓 《中国无机分析化学》 CAS 2015年第4期56-59,共4页
提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%... 提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%~0.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-AES）法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法(XRF) fesib非晶合金薄带 fesib合金 单点法
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