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系统芯片的可测性设计与测试
被引量:
3
1
作者
谢永乐
陈光
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第6期749-753,758,共6页
阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与测试响应汇聚及其配置特性、实现方法与学术研究进展,介绍了基于可复用内嵌芯核的SoC国际测试标准IEEE P1...
阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与测试响应汇聚及其配置特性、实现方法与学术研究进展,介绍了基于可复用内嵌芯核的SoC国际测试标准IEEE P1500的相关规约;最后,建议了在SoC可测性设计及测试中需要密切关注的几个理论问题。
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关键词
系统芯片
可测性设计
集成电路测试
内嵌芯核
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职称材料
减少SOC测试时间的测试结构配置与规划
被引量:
2
2
作者
谢永乐
陈光
孙秀斌
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第8期867-870,共4页
以减少系统芯片(SOC)测试时间为目标,研究了基于内嵌芯核分簇的并行测试结构配置与规划问题。以求解多处理器规划问题为模型,分析了并行测试层次型SOC多芯核的规划,重点研究了最小化测试时间目标下多芯核最优分簇问题。以ITC2002SOCBenc...
以减少系统芯片(SOC)测试时间为目标,研究了基于内嵌芯核分簇的并行测试结构配置与规划问题。以求解多处理器规划问题为模型,分析了并行测试层次型SOC多芯核的规划,重点研究了最小化测试时间目标下多芯核最优分簇问题。以ITC2002SOCBenchmark为实验对象,示例了芯核分簇的规划结果。该方法可用于SOC并行测试流程控制及SOC的可测性设计。
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关键词
系统芯片(SOC)
内嵌芯核
测试规划
扫描测试
可测性设计
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职称材料
基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法
被引量:
1
3
作者
刘军
吴玺
+2 位作者
裴颂伟
王伟
陈田
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期454-459,共6页
为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后...
为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后,在TSVs(Through Silicon Vias)数量的约束下,逐层的将虚拟层中的扫描元素分配到测试外壳扫描链中,以平衡绑定前后各条测试外壳扫描链的长度.实验结果表明,所提方法有效地减少了三维芯核绑定前后测试的总时间和硬件开销.
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关键词
三维嵌入式芯核
测试外壳扫描链
跨度
虚拟层
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职称材料
支持指令预取的多核缓存WCET分析方法
被引量:
3
4
作者
安立奎
韩丽艳
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第10期85-94,100,共11页
为确保硬实时任务满足时间截止期,需要分析硬实时任务的支持指令预取缓存,而现有方法多数仅限于单级指令缓存,不能用于嵌入式多核下支持指令预取的多级缓存分析。为此,在基于组缓存划分的多核模型下,通过对抽象解释的缓存分析模型进行...
为确保硬实时任务满足时间截止期,需要分析硬实时任务的支持指令预取缓存,而现有方法多数仅限于单级指令缓存,不能用于嵌入式多核下支持指令预取的多级缓存分析。为此,在基于组缓存划分的多核模型下,通过对抽象解释的缓存分析模型进行指令预取语义扩展,提出一种支持指令预取的多核缓存分析方法。实验结果表明,该方法安全性较高,能够提高多核下硬实时任务的预取缓存性能。
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关键词
嵌入式多核
硬实时任务
最差情况执行时间
指令预取
缓存划分
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职称材料
复用NoC测试SoC内嵌IP芯核的测试规划研究
被引量:
2
5
作者
赵建武
师奕兵
王志刚
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2010年第15期60-63,101,共5页
测试规划是SoC芯片测试中需要解决的一个重要问题。一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的测试规划方法被用于限制测试模式下SoC芯片功耗不超出最大芯片功耗范围,消除测试资源共享所引起的冲突,达到减小测试时间的目的。提出了支持测试规划...
测试规划是SoC芯片测试中需要解决的一个重要问题。一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的测试规划方法被用于限制测试模式下SoC芯片功耗不超出最大芯片功耗范围,消除测试资源共享所引起的冲突,达到减小测试时间的目的。提出了支持测试规划的无拥塞路由算法和测试扫描链优化配置方法。使用VHDL硬件描述语言实现了在FPGA芯片中可综合的二维Mesh片上网络测试平台,用于片上网络性能参数、路由算法以及基于片上网络的SoC芯片测试方法的分析评估。
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关键词
片上网络
微系统芯片
内嵌IP芯核
测试规划
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职称材料
应用分割取胜策略设计的嵌入式微处理器内核OM80C51
6
作者
石峰
葛元庆
周润德
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第3期25-28,共4页
文章讨论了分割取胜策略的优点和应用中的一些具体问题,并给出了设计实例,即微处理器内核OM80C51的设计。OM80C51是一个与80C51兼容但在性能上有一定改进的嵌入式微处理器内核。
关键词
分割取胜
嵌入式微处理器内核
IP模块
时钟畸变
功耗管理
OM80C51
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职称材料
题名
系统芯片的可测性设计与测试
被引量:
3
1
作者
谢永乐
陈光
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第6期749-753,758,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(90407007)
文摘
阐述了系统芯片(SoC)测试相比传统IC测试的困难,SoC可测性设计与测试结构模型,包括测试存取配置、芯核外测试层,以及测试激励源与测试响应汇聚及其配置特性、实现方法与学术研究进展,介绍了基于可复用内嵌芯核的SoC国际测试标准IEEE P1500的相关规约;最后,建议了在SoC可测性设计及测试中需要密切关注的几个理论问题。
关键词
系统芯片
可测性设计
集成电路测试
内嵌芯核
Keywords
System-on-a-chip(SoC)
Design
for
testability
IC
test
embedded
cores
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
减少SOC测试时间的测试结构配置与规划
被引量:
2
2
作者
谢永乐
陈光
孙秀斌
机构
电子科技大学自动化工程学院计算机辅助测试研究室
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005年第8期867-870,共4页
基金
国家自然科学基金(90407007)项目资助。
文摘
以减少系统芯片(SOC)测试时间为目标,研究了基于内嵌芯核分簇的并行测试结构配置与规划问题。以求解多处理器规划问题为模型,分析了并行测试层次型SOC多芯核的规划,重点研究了最小化测试时间目标下多芯核最优分簇问题。以ITC2002SOCBenchmark为实验对象,示例了芯核分簇的规划结果。该方法可用于SOC并行测试流程控制及SOC的可测性设计。
关键词
系统芯片(SOC)
内嵌芯核
测试规划
扫描测试
可测性设计
Keywords
System-on-a-chip(SOC)
embedded
cores
Test
schedule
Scan
test
Design-for-testability
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法
被引量:
1
3
作者
刘军
吴玺
裴颂伟
王伟
陈田
机构
合肥工业大学计算机与信息学院
合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室
北京化工大学信息科学与技术学院
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第3期454-459,共6页
基金
国家自然科学基金(No.61306049
No.61106037
+3 种基金
No.61204046)
国家高技术研究发展计划(863计划)课题(No.2012AA011103)
安徽省自然科学基金(No.1208085QF127)
计算机体系结构国家重点实验室开放课题(No.CARCH201101)
文摘
为减少三维芯核绑定前和绑定后的测试时间,降低测试成本,提出了基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法.所提方法首先通过最大化每条测试外壳扫描链的跨度,使得绑定前高层电路和低层电路的测试外壳扫描链数量尽可能相等.然后,在TSVs(Through Silicon Vias)数量的约束下,逐层的将虚拟层中的扫描元素分配到测试外壳扫描链中,以平衡绑定前后各条测试外壳扫描链的长度.实验结果表明,所提方法有效地减少了三维芯核绑定前后测试的总时间和硬件开销.
关键词
三维嵌入式芯核
测试外壳扫描链
跨度
虚拟层
Keywords
three
dimensional
embedded
cores
wrapper
scan
chains
span
virtual
layers
分类号
TP306.2 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
支持指令预取的多核缓存WCET分析方法
被引量:
3
4
作者
安立奎
韩丽艳
机构
渤海大学数理学院
渤海大学信息科学与技术学院
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第10期85-94,100,共11页
基金
辽宁省科学技术计划项目"面向复杂海量数据的信息获取方法研究"(LN2014160)
文摘
为确保硬实时任务满足时间截止期,需要分析硬实时任务的支持指令预取缓存,而现有方法多数仅限于单级指令缓存,不能用于嵌入式多核下支持指令预取的多级缓存分析。为此,在基于组缓存划分的多核模型下,通过对抽象解释的缓存分析模型进行指令预取语义扩展,提出一种支持指令预取的多核缓存分析方法。实验结果表明,该方法安全性较高,能够提高多核下硬实时任务的预取缓存性能。
关键词
嵌入式多核
硬实时任务
最差情况执行时间
指令预取
缓存划分
Keywords
embedded
multi-
cores
Hard
Real-time
Task(HRT)
Worst
Case
Execution
Time(WCET)
instruction
prefetching
cache
partitioning
分类号
TP314 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
复用NoC测试SoC内嵌IP芯核的测试规划研究
被引量:
2
5
作者
赵建武
师奕兵
王志刚
机构
电子科技大学自动化工程学院
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2010年第15期60-63,101,共5页
基金
国家教育部新世纪人才支持计划No.NCET-05-0804~~
文摘
测试规划是SoC芯片测试中需要解决的一个重要问题。一种复用片上网络测试内嵌IP芯核的测试规划方法被用于限制测试模式下SoC芯片功耗不超出最大芯片功耗范围,消除测试资源共享所引起的冲突,达到减小测试时间的目的。提出了支持测试规划的无拥塞路由算法和测试扫描链优化配置方法。使用VHDL硬件描述语言实现了在FPGA芯片中可综合的二维Mesh片上网络测试平台,用于片上网络性能参数、路由算法以及基于片上网络的SoC芯片测试方法的分析评估。
关键词
片上网络
微系统芯片
内嵌IP芯核
测试规划
Keywords
network-on-chips
System-on-Chip
embedded
IP
cores
test
scheduling
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
应用分割取胜策略设计的嵌入式微处理器内核OM80C51
6
作者
石峰
葛元庆
周润德
机构
清华大学微电子学研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001年第3期25-28,共4页
文摘
文章讨论了分割取胜策略的优点和应用中的一些具体问题,并给出了设计实例,即微处理器内核OM80C51的设计。OM80C51是一个与80C51兼容但在性能上有一定改进的嵌入式微处理器内核。
关键词
分割取胜
嵌入式微处理器内核
IP模块
时钟畸变
功耗管理
OM80C51
Keywords
Divide-and-conquer,
embedded
microprocessor
cores
,
IP
modules,
Clock
skew,Power
management
分类号
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
系统芯片的可测性设计与测试
谢永乐
陈光
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2006
3
下载PDF
职称材料
2
减少SOC测试时间的测试结构配置与规划
谢永乐
陈光
孙秀斌
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2005
2
下载PDF
职称材料
3
基于跨度和虚拟层的三维芯核测试外壳扫描链优化方法
刘军
吴玺
裴颂伟
王伟
陈田
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
1
下载PDF
职称材料
4
支持指令预取的多核缓存WCET分析方法
安立奎
韩丽艳
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2018
3
下载PDF
职称材料
5
复用NoC测试SoC内嵌IP芯核的测试规划研究
赵建武
师奕兵
王志刚
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2010
2
下载PDF
职称材料
6
应用分割取胜策略设计的嵌入式微处理器内核OM80C51
石峰
葛元庆
周润德
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2001
0
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职称材料
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