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线吸收系数能谱效应解析法研究 被引量:8
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作者 刘进 刘军 +1 位作者 李必勇 施将君 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第10期1356-1360,共5页
 用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式。研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小...  用数值模拟的方法研究了FTO客体材料的线吸收系数随着穿透材料深度的变化关系,并拟合出材料有效线吸收系数与厚度之间的函数表达式。研究结果表明,在闪光照相中X光能谱发生了硬化,并随着穿透材料深度的增加谱平均线吸收系数会随之减小。FTO客体中钨的平均有效线吸收系数0.838(4.53%)cm-1,铜的平均有效线吸收系数0.297(4.96%)cm-1,能谱效应对有效线吸收系数的影响小于5%。在图像重建中利用上述的线吸收系数能够反演出精度达5%的材料密度。 展开更多
关键词 闪光照相 有效线吸收系数 谱硬化 解析法
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