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基于CZM法QFN器件热冲击载荷下的界面脱层研究
被引量:
1
1
作者
李莉
蒋海华
《电子工业专用设备》
2009年第5期30-33,54,共5页
引进内聚力模型(CZM)法,利于有限元软件MSC.Marc对热冲击载荷下QFN器件各材料界面之间的脱层开裂情况进行了研究。并分析了不同Diepad厚度对器件脱层失效的影响。结果表明:脱层开裂均发生在各个界面的两端,并逐渐沿着界面向里扩展,Diepa...
引进内聚力模型(CZM)法,利于有限元软件MSC.Marc对热冲击载荷下QFN器件各材料界面之间的脱层开裂情况进行了研究。并分析了不同Diepad厚度对器件脱层失效的影响。结果表明:脱层开裂均发生在各个界面的两端,并逐渐沿着界面向里扩展,Diepad与芯片粘结剂之间的界面最容易发生脱层开裂;Diepad厚度对器件的脱层开裂影响较大,增加Diepad厚度能较大幅度的提高QFN器件的抗脱层开裂能力。
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关键词
SQFN
内聚力模型
diepad
界面脱层
可靠性
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职称材料
题名
基于CZM法QFN器件热冲击载荷下的界面脱层研究
被引量:
1
1
作者
李莉
蒋海华
机构
桂林电子科技大学机电工程学院
出处
《电子工业专用设备》
2009年第5期30-33,54,共5页
文摘
引进内聚力模型(CZM)法,利于有限元软件MSC.Marc对热冲击载荷下QFN器件各材料界面之间的脱层开裂情况进行了研究。并分析了不同Diepad厚度对器件脱层失效的影响。结果表明:脱层开裂均发生在各个界面的两端,并逐渐沿着界面向里扩展,Diepad与芯片粘结剂之间的界面最容易发生脱层开裂;Diepad厚度对器件的脱层开裂影响较大,增加Diepad厚度能较大幅度的提高QFN器件的抗脱层开裂能力。
关键词
SQFN
内聚力模型
diepad
界面脱层
可靠性
Keywords
SQFN
CZM
diepad
Interface delamination
Reliability
分类号
TN603 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于CZM法QFN器件热冲击载荷下的界面脱层研究
李莉
蒋海华
《电子工业专用设备》
2009
1
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