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投影寻踪型Cramér-von Mises-Smirrnov统计量(英文)
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作者 成平 《数学进展》 CSCD 北大核心 1998年第1期21-32,共12页
为了检验一个总体分布是否服从所给定的分布F(x),Cramér-vonMises-Smirnov统计量是一种常用的重要工具.对于一维分布,计算表明确切分布很快趋于极限分布.当样本量大于3时,确切分布与极限分布之差... 为了检验一个总体分布是否服从所给定的分布F(x),Cramér-vonMises-Smirnov统计量是一种常用的重要工具.对于一维分布,计算表明确切分布很快趋于极限分布.当样本量大于3时,确切分布与极限分布之差就很小,当总体分布是连续分布时该统计量的极限分布与总体分布无关.本文讨论总体分布为高维分布时用投影寻踪的方法建立Cramér-vonMises-Smirnov统计量,对此统计量尾部概率上界及极限分布,包括当样本很大,维数很高时的极限性质,自助法是否能逼近极限分布,用Γ分布或者Γ分布混合逼近确切分布是否能行等问题作了探讨,并提出了一些未解决的问题. 展开更多
关键词 投影寻踪 统计量 检验 T分布 T-M-S统计量
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