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Analytical models for the base transit time of a bipolar transistor with double base epilayers
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作者 张倩 张玉明 张义门 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第9期33-36,共4页
The doping profile function of a double base epilayer is constructed according to drift-diffusion theory. Then an analytical model for the base transit time τb is developed assuming a small-level injection based on t... The doping profile function of a double base epilayer is constructed according to drift-diffusion theory. Then an analytical model for the base transit time τb is developed assuming a small-level injection based on the characteristics of the 4H-SiC material and the principle of the 4H-SiC BJTs. The device is numerically simulated and validated based on two-dimensional simulation models. The results show that the built-in electric field generated by the double base epilayer configuration can accelerate the carriers when transiting the base region and reduce the base transit time. From the simulation results, the base transit time reaches a minimal value when the ratio of L2/L1 is about 2. 展开更多
关键词 4H-SIC bipolar junction transistors build-in electric field base transit time
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一种用于静电保护的快速开启SCR器件 被引量:1
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作者 廖昌俊 刘继芝 刘志伟 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2016年第6期826-829,共4页
提出了一种用于提高静电泄放(ESD)保护器件开启速度的SCR器件(VSCR)。VSCR采用了新型的横向基区变掺杂结构(VLBD),其开启速度主要由寄生p-n-p和n-p-n晶体管的基区渡越时间决定,使用VLBD结构能够减小寄生双极型晶体管的基区渡越时间,从... 提出了一种用于提高静电泄放(ESD)保护器件开启速度的SCR器件(VSCR)。VSCR采用了新型的横向基区变掺杂结构(VLBD),其开启速度主要由寄生p-n-p和n-p-n晶体管的基区渡越时间决定,使用VLBD结构能够减小寄生双极型晶体管的基区渡越时间,从而提高SCR器件的开启速度。实验结果证明,在不增加掩膜版数量和芯片面积的前提下,相比于传统均匀基区掺杂的MLSCR器件,采用VLBD结构的VSCR器件的开启速度能够提高12%。 展开更多
关键词 静电泄放 SCR 横向基区变掺杂 内建电场 开启速度
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双外延基区4H-SiC BJTs的建模与仿真(英文)
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作者 张倩 张玉明 张义门 《计算物理》 EI CSCD 北大核心 2010年第5期771-778,共8页
基于4H-SiC的材料特性,对具有双外延基区结构的4H-SiC双极晶体管进行研究.通过分析该结构在基区内部形成的自建电场以及基区渡越时间,利用正交试验的方法,基于各种器件二维模型,对该器件结构进行数值计算,并进行平均极差分析.计算结果表... 基于4H-SiC的材料特性,对具有双外延基区结构的4H-SiC双极晶体管进行研究.通过分析该结构在基区内部形成的自建电场以及基区渡越时间,利用正交试验的方法,基于各种器件二维模型,对该器件结构进行数值计算,并进行平均极差分析.计算结果表明,该器件的共发射结电流增益最高可达72,具有负温度系数,并且在一个很宽的集电极电流范围内该特性保持不变. 展开更多
关键词 4H—SiC 双极晶体管 基区自建电场 基区渡越时间
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GaN/GaAlN宽量子阱的二类激子特征(英文) 被引量:5
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作者 郭子政 梁希侠 班士良 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第12期1303-1306,1310,共5页
考虑了内建电场的影响 ,用变分法计算了 Ga N/Ga Al N量子阱 (QW)的电子子带和激子结合能。结果表明 ,对于阱宽较大情形 ,电子和空穴高度局域在 QW边沿附近。内建电场造成的电子空穴空间的较大分离使 QW激子表现出二类阱特征。重空穴基... 考虑了内建电场的影响 ,用变分法计算了 Ga N/Ga Al N量子阱 (QW)的电子子带和激子结合能。结果表明 ,对于阱宽较大情形 ,电子和空穴高度局域在 QW边沿附近。内建电场造成的电子空穴空间的较大分离使 QW激子表现出二类阱特征。重空穴基态结合能对 展开更多
关键词 量子阱 内建电场 激子 电子子带 变分法
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星用FR-4电路板内建电场分析计算研究 被引量:2
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作者 唐小金 易忠 +1 位作者 张超 孟立飞 《装备环境工程》 CAS 2009年第4期33-38,共6页
介质内建电场的分析计算是卫星内带电效应分析和评估研究的重要环节。针对星用FR-4电路板计算了多种条件(电子能量、电路板厚度、电子入射方式、接地方式)下的内建电场并对其进行了详细的分析探讨。研究发现,介质内部最大内建电场是由... 介质内建电场的分析计算是卫星内带电效应分析和评估研究的重要环节。针对星用FR-4电路板计算了多种条件(电子能量、电路板厚度、电子入射方式、接地方式)下的内建电场并对其进行了详细的分析探讨。研究发现,介质内部最大内建电场是由电荷沉积量及泄漏速率两种因素共同决定的;最大内建电场总是随介质厚度的增加而增加;最大内建电场随入射电子能量的增加不是单调减少的。 展开更多
关键词 内带电 内建电场 FR-4电路板
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GaAlN/GaN量子阱中电子的激发态极化及其压力效应 被引量:6
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作者 吴晓薇 郭子政 阎祖威 《量子电子学报》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期75-80,共6页
考虑了纤锌矿结构材料的各向异性造成的内建电场的作用以及各向异性造成的应变张量和静压形变势与各向同性材料的差别。在此基础上计算了GaN/GaAlN量子阱内电子的激发态极化。研究了压力(应变)对电子激发态极化的影响。结果表明,电子势... 考虑了纤锌矿结构材料的各向异性造成的内建电场的作用以及各向异性造成的应变张量和静压形变势与各向同性材料的差别。在此基础上计算了GaN/GaAlN量子阱内电子的激发态极化。研究了压力(应变)对电子激发态极化的影响。结果表明,电子势垒高度、电子有效质量和电子激发态极化均随压力线性下降,但由于内建电场的作用造成电子波函数高度局域化,上述变化的幅度不大。 展开更多
关键词 光电子学 量子阱 内建电场 激发态极化 静压
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GaAlN/GaN量子阱中电子的激发态极化
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作者 杨瑞芳 郭子政 《内蒙古师范大学学报(自然科学汉文版)》 CAS 2005年第1期29-31,共3页
考虑了纤锌矿结构材料的各向异性造成的内建电场的作用,计算了 GaN/GaAlN量子阱内电子的激发态极化.结果表明,电子偶极矩改变随Al浓度的增加非线性减小.一般情况下激发态极化产生的电场强度远小于内建电场,可忽略不记,但当n取较大值(101... 考虑了纤锌矿结构材料的各向异性造成的内建电场的作用,计算了 GaN/GaAlN量子阱内电子的激发态极化.结果表明,电子偶极矩改变随Al浓度的增加非线性减小.一般情况下激发态极化产生的电场强度远小于内建电场,可忽略不记,但当n取较大值(1019/cm3 以上)时,即材料被重掺杂时,激发态极化产生的电场强度对内建电场的影响不能忽略. 展开更多
关键词 激发态 内建电场 量子阱 电子 极化 偶极矩 电场强度 重掺杂 非线性 各向异性
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纤锌矿结构的GaAlN/GaN量子阱中电子激发态极化的压力效应(英文)
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作者 吴晓薇 杨瑞芳 +1 位作者 郭子政 阎祖威 《内蒙古师范大学学报(自然科学汉文版)》 CAS 2007年第5期599-604,609,共7页
研究了GaN/GaAl N量子阱内电子的激发态极化(EESP)的压力效应,计算中考虑了纤锌矿结构材料的晶格常数、形变势的各向异性,以及内建电场(IEF)的作用.结果表明:电子势垒高度随压力下降;电子基态有效质量随压力下降而电子的第一激发态有效... 研究了GaN/GaAl N量子阱内电子的激发态极化(EESP)的压力效应,计算中考虑了纤锌矿结构材料的晶格常数、形变势的各向异性,以及内建电场(IEF)的作用.结果表明:电子势垒高度随压力下降;电子基态有效质量随压力下降而电子的第一激发态有效质量随压力上升;EESP强度随压力缓慢上升;电子极化的偶极矩随Al浓度非线性下降.一般情况下,EESP对IEF的影响可忽略,但当掺杂浓度n足够大(n>1019/cm3)时,EESP可屏蔽IEF. 展开更多
关键词 半导体 量子阱 内建电场 激发态极化 静压
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