本研究采用流延法制备Ba(Zr_(0.15)Ti_(0.85))O_3(BZT)厚膜样品。采用扫描电子显微镜分析样品形貌;采用LCR测试仪和Sawyer-Tower电路法测量样品的介电与铁电性能。结果表明,BZT厚膜具有明显的介电弛豫特征,击穿电场强度可达60 k V/cm以...本研究采用流延法制备Ba(Zr_(0.15)Ti_(0.85))O_3(BZT)厚膜样品。采用扫描电子显微镜分析样品形貌;采用LCR测试仪和Sawyer-Tower电路法测量样品的介电与铁电性能。结果表明,BZT厚膜具有明显的介电弛豫特征,击穿电场强度可达60 k V/cm以上,饱和极化强度可达58.1mC/cm^2,剩余极化强度(Pr)为20.9mC/cm^2。展开更多
文摘本研究采用流延法制备Ba(Zr_(0.15)Ti_(0.85))O_3(BZT)厚膜样品。采用扫描电子显微镜分析样品形貌;采用LCR测试仪和Sawyer-Tower电路法测量样品的介电与铁电性能。结果表明,BZT厚膜具有明显的介电弛豫特征,击穿电场强度可达60 k V/cm以上,饱和极化强度可达58.1mC/cm^2,剩余极化强度(Pr)为20.9mC/cm^2。
