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沉积温度和退火处理对脉冲激光沉积的ZnO∶Al膜性能的影响 被引量:19
1
作者 陈欣 方斌 +4 位作者 官文杰 吴天书 郭明森 方国家 赵兴中 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第10期1511-1513,共3页
利用脉冲激光沉积法制备了ZnO∶Al透明导电薄膜.通过对膜的霍尔系数测量及 AFM、XRD分析,详细研究了温度和退火处理对薄膜结构、表面形貌及光电性能的影响.结果表明沉积温度影响膜的电学、光学性能和膜的结晶状况.制备的薄膜均具有ZnO(0... 利用脉冲激光沉积法制备了ZnO∶Al透明导电薄膜.通过对膜的霍尔系数测量及 AFM、XRD分析,详细研究了温度和退火处理对薄膜结构、表面形貌及光电性能的影响.结果表明沉积温度影响膜的电学、光学性能和膜的结晶状况.制备的薄膜均具有ZnO(002)择优取向的多晶膜.在240~310℃沉积的薄膜具有最低的电阻率,其值为6.1×10-4Ω·cm,在240℃沉积的薄膜在氩气中退火薄膜的电阻率下降为4. 7×10-4Ω·cm.所有薄膜在可见光区的平均透过率均达到了90%以上. 展开更多
关键词 沉积温度 ZnO:Al(azo)膜 退火
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偏压磁控溅射法在柔性衬底上制备ZnO:Al透明导电膜 被引量:8
2
作者 杨田林 高绪团 韩盛浩 《曲阜师范大学学报(自然科学版)》 CAS 2002年第4期59-63,共5页
用射频偏压磁控溅射法 ,在水冷透明聚脂胶片上制备出了附着力强的ZnO :Al (AluminiumdopedZincOxide ,AZO)透明导电膜 ,膜的最小电阻率为 1.11× 10 -3 Ωcm ,薄膜的透过率高于 85 % .薄膜为多晶纤锌矿结构 ,垂直于衬底的C轴具有 [0... 用射频偏压磁控溅射法 ,在水冷透明聚脂胶片上制备出了附着力强的ZnO :Al (AluminiumdopedZincOxide ,AZO)透明导电膜 ,膜的最小电阻率为 1.11× 10 -3 Ωcm ,薄膜的透过率高于 85 % .薄膜为多晶纤锌矿结构 ,垂直于衬底的C轴具有 [0 0 2 ]方向的择优取向 .重点探讨了薄膜的结构、光电性质与衬底所加负偏压的关系 . 展开更多
关键词 偏压磁控溅射法 柔性衬底 制备 ZnO:A1透明导电膜 光电性质 azo薄膜 负偏压
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快速退火对直流磁控溅射法制备的AZO薄膜性能的影响 被引量:6
3
作者 姜丽莉 辛艳青 +3 位作者 宋淑梅 杨田林 李延辉 韩圣浩 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第3期302-305,共4页
在室温下,采用直流磁控溅射方法制备了不同厚度的氧化锌掺铝薄膜,并对样品进行了快速退火处理,退火温度为600℃,时间为60 s。研究了退火前后薄膜的结构、光电特性的变化情况。退火后,薄膜的最小电阻率为4.2×10-4Ω.cm,其透过率为90... 在室温下,采用直流磁控溅射方法制备了不同厚度的氧化锌掺铝薄膜,并对样品进行了快速退火处理,退火温度为600℃,时间为60 s。研究了退火前后薄膜的结构、光电特性的变化情况。退火后,薄膜的最小电阻率为4.2×10-4Ω.cm,其透过率为90.1%。禁带宽度由退火前的3.68 eV变为3.75 eV。 展开更多
关键词 快速退火 直流磁控溅射 azo薄膜 光电特性禁带宽度
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掺铝氧化锌(AZO)导电薄膜的研究进展 被引量:7
4
作者 张亚萍 李启甲 《现代显示》 2006年第3期51-54,共4页
综述透明导电薄膜的性能、种类、制备工艺、研究及应用状况,重点讨论掺铝氧化锌(AZO)薄膜的结构、导电机理、光电性能和当前的研究焦点。并指出,为了进一步提高透明导电薄膜的性能,应从以材料选择、制备工艺、多层膜光学设计等方面深入... 综述透明导电薄膜的性能、种类、制备工艺、研究及应用状况,重点讨论掺铝氧化锌(AZO)薄膜的结构、导电机理、光电性能和当前的研究焦点。并指出,为了进一步提高透明导电薄膜的性能,应从以材料选择、制备工艺、多层膜光学设计等方面深入研发,以满足尖端技术的需要。 展开更多
关键词 透明导电膜 掺铝氧化锌薄薄 多层膜设计
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氧气流量对磁控溅射AZO薄膜光电性能的影响 被引量:5
5
作者 丁宇 蒋百灵 +4 位作者 田亚萍 马二云 张晓静 曹智睿 赵志明 《西安理工大学学报》 CAS 北大核心 2011年第3期306-310,共5页
采用直流反应磁控溅射方法在载玻片基体上制备AZO薄膜,研究氧气流量对所制备AZO薄膜光电性能及微观结构的影响。结果表明,氧气流量显著影响AZO薄膜的光电性能和结晶状况,当氧气流量高于0.08×10-6 m3/s时所制备的薄膜可见光透过率... 采用直流反应磁控溅射方法在载玻片基体上制备AZO薄膜,研究氧气流量对所制备AZO薄膜光电性能及微观结构的影响。结果表明,氧气流量显著影响AZO薄膜的光电性能和结晶状况,当氧气流量高于0.08×10-6 m3/s时所制备的薄膜可见光透过率高但薄膜不导电;当氧气流量低于0.04×10-6 m3/s时沉积的薄膜呈现出金属性特征,薄膜导电不透明;只有在一个较窄的氧气流量范围内才能制备出光电性能均优的AZO薄膜。当氧气流量为0.06×10-6 m3/s时沉积的AZO薄膜具有较低的电阻率,为2.39×10-3Ω.cm,且薄膜在可见光区薄膜的平均透过率在90%以上。 展开更多
关键词 azo薄膜 直流反应磁控溅射 氧气流量 光电性能
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中频直流磁控反应溅射法制备掺铝氧化锌薄膜的研究 被引量:5
6
作者 林清耿 郜小勇 +1 位作者 刘玉芬 卢景霄 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第6期566-569,共4页
利用中频直流磁控反应溅射法(MF-DC-MS)在玻璃衬底上制备了掺铝氧化锌(AZO)透明导电薄膜。利用X射线衍射(XRD)、四探针法和分光光度计深入研究了衬底温度对AZO薄膜的结构、电学和光学特性的影响。研究结果表明3h的沉积使AZO薄膜丧失了(0... 利用中频直流磁控反应溅射法(MF-DC-MS)在玻璃衬底上制备了掺铝氧化锌(AZO)透明导电薄膜。利用X射线衍射(XRD)、四探针法和分光光度计深入研究了衬底温度对AZO薄膜的结构、电学和光学特性的影响。研究结果表明3h的沉积使AZO薄膜丧失了(002)c轴择优取向。随着衬底温度由210℃升高到270℃,AZO薄膜的电阻率从7.5×10-3Ω.cm降低到2.5×10-3Ω.cm。高于270℃后,电阻率又略有升高。电阻率的变化趋势可从薄膜微观结构的角度得到合理解释。随着衬底温度的升高,AZO薄膜的吸收边先发生了蓝移。高于270℃后,又发生了红移。利用Burstein-Moss效应分析了AZO薄膜吸收边的蓝移和红移。该结果和电阻率的结果相印证。 展开更多
关键词 中频直流反应磁控溅射 掺铝氧化锌薄膜 C轴择优取向 吸收边
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磁控溅射法制备铝掺杂氧化锌薄膜研究进展 被引量:4
7
作者 刘亚强 陈青清 李朋 《信阳师范学院学报(自然科学版)》 CAS 北大核心 2017年第4期667-671,共5页
铝掺杂氧化锌(AZO)薄膜是一种n型半导体光学透明薄膜,具有优异的光电转换特性.综述了磁控溅射法制备AZO薄膜的研究现状.介绍了衬底温度、溅射功率、氧分压、溅射角度、衬底类型和退火温度等工艺参数对AZO薄膜的微结构、表面形貌和光电... 铝掺杂氧化锌(AZO)薄膜是一种n型半导体光学透明薄膜,具有优异的光电转换特性.综述了磁控溅射法制备AZO薄膜的研究现状.介绍了衬底温度、溅射功率、氧分压、溅射角度、衬底类型和退火温度等工艺参数对AZO薄膜的微结构、表面形貌和光电性能的影响.展望了其今后的研究方向和应用前景. 展开更多
关键词 azo薄膜 磁控溅射法 光电性能
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PET纤维基AZO透明导电薄膜溅射工艺参数的优化 被引量:4
8
作者 赵绍英 邓炳耀 +1 位作者 高卫东 魏取福 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第4期419-422,共4页
室温下,结合正交实验表,用射频磁控溅射在涤纶(PET)非织造布基材上生长AZO(Al2O3:ZnO)纳米结构薄膜。采用四探针测量仪测试AZO薄膜的方块电阻,用原子力显微镜(AFM)分析薄膜微结构;通过正交分析法对实验L9(33)AZO薄膜的性能指标进行分析... 室温下,结合正交实验表,用射频磁控溅射在涤纶(PET)非织造布基材上生长AZO(Al2O3:ZnO)纳米结构薄膜。采用四探针测量仪测试AZO薄膜的方块电阻,用原子力显微镜(AFM)分析薄膜微结构;通过正交分析法对实验L9(33)AZO薄膜的性能指标进行分析。实验结果表明:溅射厚度对AZO薄膜导电性能起主导作用,其次为氩气压强和溅射功率;同时,得出制备AZO薄膜的最佳工艺为:溅射功率150W、厚度100m和气压0.2Pa,该参数下样品的方块电阻为1.633×103Ω,AZO纳米颗粒的平均直径约为69.4nm。 展开更多
关键词 PET纤维 azo薄膜 磁控溅射 参数 优化
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氧氩比和退火温度对AZO薄膜结构与性能的影响 被引量:2
9
作者 于舸 赵曼 吕爱君 《北京石油化工学院学报》 2017年第2期1-5,共5页
在通氩气和不同比率氧氩混合气体的条件下,利用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备铝(Al)掺杂氧化锌(AZO)薄膜(溅射功率为180W,衬底温度为300℃),并对部分薄膜样品进行400℃或500℃退火处理。采用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和分... 在通氩气和不同比率氧氩混合气体的条件下,利用射频磁控溅射法在玻璃衬底上制备铝(Al)掺杂氧化锌(AZO)薄膜(溅射功率为180W,衬底温度为300℃),并对部分薄膜样品进行400℃或500℃退火处理。采用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和分光光度计对薄膜的结构、表面形貌和光学性能进行测试研究。结果表明,制备的所有薄膜均呈现(002)晶面择优生长;与氩气溅射相比,当采用氧氩混合气体溅射时,生长的AZO薄膜晶粒尺寸显著增大;退火处理使2类薄膜的表面粗糙度都明显减小,晶粒也有所增大(7%~13%)。其中,在氧氩比为1∶2的混合气体中制备的薄膜,经过500℃退火后,晶粒尺寸最大(39.4nm),薄膜表面更平整致密,在可见光区平均透过率接近最大(89.3%)。 展开更多
关键词 azo薄膜 射频磁控溅射 退火温度 氧氩比 透过率
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工艺参数对磁控溅射制备ZnO:Al薄膜性能的影响及分析 被引量:2
10
作者 吴炳俊 郝常山 +1 位作者 李明 谢斌 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第10期991-998,共8页
采用Al2O3质量分数为2.7%的ZnO:Al(简称AZO)陶瓷靶在RAS-1100C大型中频孪生靶磁控溅射镀膜设备上溅射制备了电阻率在10-3Ω·cm量级、可见光透过率>85%的AZO透明导电薄膜.分析了烘烤温度、氩气流速和溅射功率对薄膜电学性能的影... 采用Al2O3质量分数为2.7%的ZnO:Al(简称AZO)陶瓷靶在RAS-1100C大型中频孪生靶磁控溅射镀膜设备上溅射制备了电阻率在10-3Ω·cm量级、可见光透过率>85%的AZO透明导电薄膜.分析了烘烤温度、氩气流速和溅射功率对薄膜电学性能的影响,同时还对固定在靶材前方不同区域处的衬底上沉积得到的AZO薄膜的电阻率差异进行了研究.实验发现靶材刻蚀沟道正前方处沉积的AZO薄膜的电阻率在10-2Ω·cm量级,而两块靶材中间非溅射区域正前方处所沉积的AZO薄膜的电阻率则在5×10-4Ω·cm左右.此研究结果表明沉积在RAS夹具圆筒上的AZO薄膜的性能是靶前各区域溅射沉积薄膜的性能的混合平均.进一步提高RAS溅射制备的AZO薄膜的性能的关键在于抑制高能氧负离子的轰击注入效应以及提高薄膜的结晶性能. 展开更多
关键词 azo薄膜 磁控溅射 氧负离子轰击 注入效应 结晶性能
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退火对高阻AZO薄膜结构及紫外光电导特性的影响 被引量:1
11
作者 曹东 蒋向东 +1 位作者 李大伟 孙继伟 《电子器件》 CAS 2010年第6期651-654,共4页
在石英衬底上采用射频磁控溅射的方法制备高电阻AZO薄膜,其中高电阻由高氧氩比环境得到。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对薄膜的晶体结构、表面形貌进行表征,重点研究了不同退火温度对薄膜的结构及紫外光电导特性的影响。结... 在石英衬底上采用射频磁控溅射的方法制备高电阻AZO薄膜,其中高电阻由高氧氩比环境得到。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)对薄膜的晶体结构、表面形貌进行表征,重点研究了不同退火温度对薄膜的结构及紫外光电导特性的影响。结果表明:适当温度的退火有助于薄膜结构的优化,而随着退火温度的增加,薄膜的紫外光电导特性呈现出先增加后减小的变化趋势,并在400℃条件下达到最优紫外响应效果。 展开更多
关键词 azo薄膜 高温退火 紫外光电导特性
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添加剂元素对AZO薄膜性能的研究进展
12
作者 李春光 王飞 +1 位作者 安涛 王东新 《中国材料进展》 CSCD 2013年第12期752-759,共8页
近年来,国内外些研究者对添加剂元素与铝元素共掺杂的ZnO薄膜展了许多研究并发现在AZO薄膜掺入添加剂元素不仅会增强AZO薄膜的光电特性,而且还能优化其晶体结构和表面形貌,某些添加剂元素还可以提高AZO薄膜的多项性能和稳定性,这对研究... 近年来,国内外些研究者对添加剂元素与铝元素共掺杂的ZnO薄膜展了许多研究并发现在AZO薄膜掺入添加剂元素不仅会增强AZO薄膜的光电特性,而且还能优化其晶体结构和表面形貌,某些添加剂元素还可以提高AZO薄膜的多项性能和稳定性,这对研究AZO薄膜性能的提高提供了个更具潜力的研究方向。介绍了AZO薄膜的基本结构、基本特性以及光电性能原理。对添加剂元素对AZO薄膜结构的研究和光电性能的研究进行了归纳和总结,并且与AZO薄膜进行了对比。综述了添加剂元素掺入的AZO薄膜目前所采用的磁控溅射法、溶胶-凝胶法和脉冲激光法三种主要制备技术以及其优缺点,同时阐述了不同方法掺入添加剂元素的AZO薄膜的研究进展。后介绍了添加剂元素掺入的AZO薄膜在光电领域的应用,展望了其未来发展与研究趋势。 展开更多
关键词 azo薄膜 添加剂元素 光电性能 薄膜性能
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氢气气氛中后续退火处理对ZnO:Al薄膜光电性能的影响
13
作者 甘柳忠 吴炳俊 +2 位作者 黄烽 李明 谢斌 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2010年第7期699-705,共7页
利用自由基辅助磁控溅射法在载玻片衬底上制备了透明导电ZnO:Al薄膜(简称AZO薄膜).研究了氢气气氛中后续退火处理对Al掺杂效率以及AZO薄膜性能的影响.研究结果表明,退火处理提高Al的掺杂效率、降低中性杂质浓度,从而提高了AZO薄膜的导... 利用自由基辅助磁控溅射法在载玻片衬底上制备了透明导电ZnO:Al薄膜(简称AZO薄膜).研究了氢气气氛中后续退火处理对Al掺杂效率以及AZO薄膜性能的影响.研究结果表明,退火处理提高Al的掺杂效率、降低中性杂质浓度,从而提高了AZO薄膜的导电性能.AZO薄膜550℃下在H2气氛中退火处理后,其电阻率为6.5×10-4Ω·cm,550nm波长的透射率为85.7%,载流子浓度为3.3×1020cm-3,迁移率为29.7cm2·V-1·s-1. 展开更多
关键词 azo薄膜 自由基辅助磁控溅射 中性杂质散射 掺杂效率 后退火处理
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绒面掺铝氧化锌薄膜的制备及其特性研究
14
作者 刘菲 杨瑞霞 +3 位作者 薛俊明 雷青松 孟丽华 侯春旺 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第11期858-862,893,共6页
采用磁控溅射法在较低温度下制备出室温电阻率为3.4×10-4Ω.cm,可见光范围内平均透过率为84%的掺铝的氧化锌(ZnO∶Al(AZO))薄膜。通过乙酸和盐酸溶液的腐蚀制备绒面AZO薄膜,利用X射线衍射(XRD)、紫外/可见光谱仪和扫描电子显微镜(S... 采用磁控溅射法在较低温度下制备出室温电阻率为3.4×10-4Ω.cm,可见光范围内平均透过率为84%的掺铝的氧化锌(ZnO∶Al(AZO))薄膜。通过乙酸和盐酸溶液的腐蚀制备绒面AZO薄膜,利用X射线衍射(XRD)、紫外/可见光谱仪和扫描电子显微镜(SEM)研究了不同酸溶液及溶液浓度对薄膜微观形貌和光电性质的影响。XRD测量结果表明薄膜呈六角纤锌矿结构,且具有良好的c轴取向。UV-Vis紫外可见光谱结果表明薄膜具有良好的透过率。SEM结果表明使用盐酸溶液比乙酸更容易获得陷光的绒面结构,薄膜在质量分数为0.5%的盐酸中腐蚀25 s后形成了相对较好的绒面结构。 展开更多
关键词 中频脉冲磁控溅射 azo薄膜 衬底温度 光电性质 绒面结构
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功率密度对中频磁控溅射制备AZO薄膜性能的影响 被引量:1
15
作者 张承庆 胡小萍 +4 位作者 朱景森 方玲 李德仁 卢志超 周少雄 《光谱实验室》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期1629-1634,共6页
利用中频磁控溅射法在普通玻璃衬底上沉积掺铝氧化锌(ZnO∶A l,简称AZO)薄膜,通过调整溅射功率密度参数得到沉积速率与功率密度之间的关系,制备了不同厚度的AZO薄膜。利用台阶仪、XRD、XPS、紫外可见分光光度计和H all测试系统等方法研... 利用中频磁控溅射法在普通玻璃衬底上沉积掺铝氧化锌(ZnO∶A l,简称AZO)薄膜,通过调整溅射功率密度参数得到沉积速率与功率密度之间的关系,制备了不同厚度的AZO薄膜。利用台阶仪、XRD、XPS、紫外可见分光光度计和H all测试系统等方法研究了功率密度与厚度对AZO薄膜结构、组分、光学和电学性能的影响。实验结果表明,功率密度为4W/cm2、薄膜厚度为739nm时薄膜的综合性能较好,其电阻率为1.136×10-3Ω.cm,可见光区的平均透过率为90.5%。改善结晶质量能显著提高AZO薄膜的光电性能。 展开更多
关键词 功率密度 掺铝氧化锌薄膜 中频磁控溅射 X射线光电子能谱法
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无机缓冲层对柔性AZO薄膜光电及耐弯曲性能的影响 被引量:1
16
作者 陈成 陆慧 《华东理工大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2020年第4期573-578,共6页
采用中频反应磁控溅射法,在柔性聚对苯二甲酸乙二酯(PET)衬底上分别以TiO2、SnO2和ZnO为缓冲层,室温沉积了铝掺杂氧化锌(AZO)薄膜,研究了不同缓冲层对柔性AZO薄膜光电性质和耐弯曲特性的影响。研究结果表明,3种缓冲层均可以有效改善柔性... 采用中频反应磁控溅射法,在柔性聚对苯二甲酸乙二酯(PET)衬底上分别以TiO2、SnO2和ZnO为缓冲层,室温沉积了铝掺杂氧化锌(AZO)薄膜,研究了不同缓冲层对柔性AZO薄膜光电性质和耐弯曲特性的影响。研究结果表明,3种缓冲层均可以有效改善柔性AZO薄膜的电学性质,其中在SnO2缓冲层上,氩气和氧气流量比为5∶1条件下生长的AZO薄膜光电性能提高最为显著,薄膜电阻率明显降低,可见光区域平均透过率超过85%。SnO2和ZnO缓冲层对于100~1000次内弯曲时的AZO薄膜电学性质的蜕化具有非常显著的限制作用,而TiO2和SnO2缓冲层则对100~1000次外弯曲时的薄膜的耐弯曲性能的改善效果最佳。 展开更多
关键词 柔性azo薄膜 磁控溅射 无机缓冲层 光电性质 耐弯曲特性
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Studies on morphology, electrical and optical characteristics of Al-doped ZnO thin films grown by atomic layer deposition 被引量:1
17
作者 Li Chen Xinliang Chen +3 位作者 Zhongxin Zhou Sheng Guo Ying Zhao Xiaodan Zhang 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2018年第3期19-24,共6页
Al doped ZnO(AZO) films deposited on glass substrates through the atomic layer deposition(ALD)technique are investigated with various temperatures from 100 to 250 °C and different Zn : Al cycle ratios from20... Al doped ZnO(AZO) films deposited on glass substrates through the atomic layer deposition(ALD)technique are investigated with various temperatures from 100 to 250 °C and different Zn : Al cycle ratios from20 : 0 to 20 : 3. Surface morphology, structure, optical and electrical properties of obtained AZO films are studied in detail. The Al composition of the AZO films is varied by controlling the ratio of Zn : Al. We achieve an excellent AZO thin film with a resistivity of 2.14 × 10^(-3)Ω·cm and high optical transmittance deposited at 150 °C with20 : 2 Zn : Al cycle ratio. This kind of AZO thin films exhibit great potential for optoelectronics device application. 展开更多
关键词 azo films ALD Zn:Al cycle ratio optical and electrical properties
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本底真空度对磁控溅射法制备AZO薄膜的影响 被引量:10
18
作者 霍红英 邹敏 +1 位作者 马光强 常会 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第1期75-77,共3页
采用直流磁控溅射方法在平板玻璃基体表面沉积AZO薄膜,研究了本底真空度对薄膜厚度、方块电阻以及在300~1100 nm波长范围内透过率的影响。结果表明:薄膜的方块电阻和透过率随本底真空度的提高而降低,厚度随本底真空度的提高而增加;本... 采用直流磁控溅射方法在平板玻璃基体表面沉积AZO薄膜,研究了本底真空度对薄膜厚度、方块电阻以及在300~1100 nm波长范围内透过率的影响。结果表明:薄膜的方块电阻和透过率随本底真空度的提高而降低,厚度随本底真空度的提高而增加;本底真空度较低时,其变化对薄膜的厚度、方块电阻和透过率的影响较大,随着本底真空度的增加,影响程度逐渐降低。 展开更多
关键词 磁控溅射 azo薄膜 本底真空度
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AZO薄膜双靶PLD沉积及其光学性能分析 被引量:5
19
作者 胡少六 江超 +1 位作者 龙华 王又青 《压电与声光》 CAS CSCD 北大核心 2004年第2期119-121,共3页
介绍了利用锌靶和铝靶在氧气气氛中进行掺铝氧化锌(AZO)透明导电薄膜的脉冲激光沉积(PLD)新方法,并与利用ZnO陶瓷靶沉积AZO薄膜的方法进行了对比,分析了此方法的优势和特点。描述了利用该方法在玻璃和硅片上沉积AZO薄膜的实验过程。通... 介绍了利用锌靶和铝靶在氧气气氛中进行掺铝氧化锌(AZO)透明导电薄膜的脉冲激光沉积(PLD)新方法,并与利用ZnO陶瓷靶沉积AZO薄膜的方法进行了对比,分析了此方法的优势和特点。描述了利用该方法在玻璃和硅片上沉积AZO薄膜的实验过程。通过透射光谱分析了沉积的透明导电膜在可见光区的透射性能,用X-射线衍射谱(XRD)研究了薄膜的结构。 展开更多
关键词 脉冲激光沉积 azo薄膜 双靶
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不同烧结气氛制备AZO靶材的实验研究 被引量:1
20
作者 张秀勤 王政红 薛建强 《材料开发与应用》 CAS 2012年第2期40-43,58,共5页
采用机械混粉、造粒、模压和冷等静压(CIP)成型相结合的功能陶瓷制备工艺制备了AZO靶材,研究了空气、真空及惰性气氛对AZO靶材性能的影响。结果发现,氩气保护烧结法制备的AZO靶材不仅密度高,电阻率达10-4Ω.cm量级,而且该方法还可明显... 采用机械混粉、造粒、模压和冷等静压(CIP)成型相结合的功能陶瓷制备工艺制备了AZO靶材,研究了空气、真空及惰性气氛对AZO靶材性能的影响。结果发现,氩气保护烧结法制备的AZO靶材不仅密度高,电阻率达10-4Ω.cm量级,而且该方法还可明显抑制氧化锌的挥发,降低烧结温度,在1320℃的温度下便可制得相对密度为99%、晶粒度在4μm左右的靶材。 展开更多
关键词 azo靶材 azo薄膜 冷等静压 惰性气体
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