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VLSI与电子系统的层次化可测性设计
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作者 陈庆方 吴烈诩 +1 位作者 戴昌培 赵振峰 《装甲兵工程学院学报》 1996年第3期11-15,共5页
论述了一种对电子系统VLSI自顶向下的层次化自动化测试方法及层次化自测试的概念和相应的可测试性设计结构,并讨论了数模混合集成电路的可测试性设计问题。
关键词 层次化自测试 可测性设计 数模混合集成电路 系统级测试
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