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基于闭环di/dt和dv/dt控制的电压型有源驱动电路
1
作者
刘艺瑞
窦银科
陈燕
《现代电子技术》
2021年第22期37-40,共4页
SiC MOSFET的高频切换将不可避免地导致di/dt或dv/dt的增高,随即引起电压以及电流振荡。开关振荡会产生严重的负面影响,表现为电压尖峰、额外的功率损耗、电磁干扰(EMI)噪声。为了减缓SiC MOSFET漏源极电压的尖峰及振荡,文中设计一种基...
SiC MOSFET的高频切换将不可避免地导致di/dt或dv/dt的增高,随即引起电压以及电流振荡。开关振荡会产生严重的负面影响,表现为电压尖峰、额外的功率损耗、电磁干扰(EMI)噪声。为了减缓SiC MOSFET漏源极电压的尖峰及振荡,文中设计一种基于闭环di/dt和dv/dt控制的电压型有源驱动电路。该有源驱动电路通过控制栅源电压波形控制SiC MOSFET的开关速度,进而抑制电压电流的尖峰和振荡。将所设计的有源驱动电路在半桥斩波电路中进行仿真验证,仿真结果表明,该有源驱动电路可以有效地实现预期功能;且相对常规电路,该驱动电路所需元器件少,控制过程简单。
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关键词
SiC
MOSFET
有源驱动电路
闭环控制
电路设计
电压振荡抑制
仿真验证
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职称材料
题名
基于闭环di/dt和dv/dt控制的电压型有源驱动电路
1
作者
刘艺瑞
窦银科
陈燕
机构
太原理工大学
出处
《现代电子技术》
2021年第22期37-40,共4页
基金
山西省重点研发计划项目(201903D121015)。
文摘
SiC MOSFET的高频切换将不可避免地导致di/dt或dv/dt的增高,随即引起电压以及电流振荡。开关振荡会产生严重的负面影响,表现为电压尖峰、额外的功率损耗、电磁干扰(EMI)噪声。为了减缓SiC MOSFET漏源极电压的尖峰及振荡,文中设计一种基于闭环di/dt和dv/dt控制的电压型有源驱动电路。该有源驱动电路通过控制栅源电压波形控制SiC MOSFET的开关速度,进而抑制电压电流的尖峰和振荡。将所设计的有源驱动电路在半桥斩波电路中进行仿真验证,仿真结果表明,该有源驱动电路可以有效地实现预期功能;且相对常规电路,该驱动电路所需元器件少,控制过程简单。
关键词
SiC
MOSFET
有源驱动电路
闭环控制
电路设计
电压振荡抑制
仿真验证
Keywords
SiC MOSFET
active driving circuit
closed⁃loop control
circuit design
voltage oscillation suppression
simulation verification
分类号
TN713.8-34 [电子电信—电路与系统]
TP311 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于闭环di/dt和dv/dt控制的电压型有源驱动电路
刘艺瑞
窦银科
陈燕
《现代电子技术》
2021
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