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MOS结构衬底电阻率ρ对光电参数的影响
1
作者
陈杰
戴文战
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期40-42,共3页
用高阻ｐ型硅（ρ＝１２０００Ωｃｍ）单晶材料制作了ＭＯＳ结构器件，对样管的光电参数进行了测量。在激光辐射下，测出样管在光照前后的Ｃ－Ｖ实验曲线及样管在０．４Ｖ偏压下，光照前后的电容相对变化率为３９．５％。而用低阻ｐ型...
用高阻ｐ型硅（ρ＝１２０００Ωｃｍ）单晶材料制作了ＭＯＳ结构器件，对样管的光电参数进行了测量。在激光辐射下，测出样管在光照前后的Ｃ－Ｖ实验曲线及样管在０．４Ｖ偏压下，光照前后的电容相对变化率为３９．５％。而用低阻ｐ型硅制成的样管，在同样条件下，电容的变化量不大。
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关键词
半导体光电器件
C-V特性曲线
光电容
测试
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职称材料
硅光电探测器光谱响应度测量标准装置
被引量：
11
2
作者
张建民
林延东
+1 位作者
邵晶
樊其明
《计量学报》
CSCD
北大核心
1998年第3期194-198,206,共6页
本文介绍了硅光电探测器光谱响应度测量的原理和装置，描述了相对和绝对光谱响应度标定方法，详细分析了引起标定误差的因素和误差合成，简要分析了国际比对结果。本装置的波长范围为３００～１０００ｎｍ，相对光谱响应的不确定度（１...
本文介绍了硅光电探测器光谱响应度测量的原理和装置，描述了相对和绝对光谱响应度标定方法，详细分析了引起标定误差的因素和误差合成，简要分析了国际比对结果。本装置的波长范围为３００～１０００ｎｍ，相对光谱响应的不确定度（１σ）为０２１％～０８６％，绝对光谱响应的不确定度（１σ）为０２５％～０８７％。
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关键词
光电探测器
相对光谱响应度
绝对光谱响应度
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职称材料
热壁低压化学汽相淀积设备的使用与维修
3
作者
程开富
《电子工业专用设备》
1998年第1期34-39,共6页
文章就热壁低压化学汽相淀积（ＨＷＬＰＣＶＤ）设备使用过程中常见的故障现象及维修谈一点体会。
关键词
HWLPCVD
多晶硅
氮化硅
半导体光电器件
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职称材料
光电耦合器的微机自动测试系统
4
作者
朱文虎
钱琳
《电子器件》
CAS
1997年第1期499-502,共4页
本文介绍了光电耦合器电参量自动测试的一种微机系统.描述了系统的组成及软件设计.软件设计用C语言编写,实现自动测试数据、控制检测过程、打印输出结果和存盘记录数据等功能.
关键词
光电耦合器
微机
自动测试
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职称材料
题名
MOS结构衬底电阻率ρ对光电参数的影响
1
作者
陈杰
戴文战
机构
杭州应用工程技术学院电机系
杭州商学院电子系
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998年第5期40-42,共3页
文摘
用高阻ｐ型硅（ρ＝１２０００Ωｃｍ）单晶材料制作了ＭＯＳ结构器件，对样管的光电参数进行了测量。在激光辐射下，测出样管在光照前后的Ｃ－Ｖ实验曲线及样管在０．４Ｖ偏压下，光照前后的电容相对变化率为３９．５％。而用低阻ｐ型硅制成的样管，在同样条件下，电容的变化量不大。
关键词
半导体光电器件
C-V特性曲线
光电容
测试
Keywords
Semiconductor optoelectronic devices C V Characteristic curve Photocapacitance
分类号
TN360.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
硅光电探测器光谱响应度测量标准装置
被引量：
11
2
作者
张建民
林延东
邵晶
樊其明
机构
中国计量科学研究院
出处
《计量学报》
CSCD
北大核心
1998年第3期194-198,206,共6页
文摘
本文介绍了硅光电探测器光谱响应度测量的原理和装置，描述了相对和绝对光谱响应度标定方法，详细分析了引起标定误差的因素和误差合成，简要分析了国际比对结果。本装置的波长范围为３００～１０００ｎｍ，相对光谱响应的不确定度（１σ）为０２１％～０８６％，绝对光谱响应的不确定度（１σ）为０２５％～０８７％。
关键词
光电探测器
相对光谱响应度
绝对光谱响应度
Keywords
Photoelectric detector
Relative spectral responsivity
Absolute spectral responsivity
分类号
TN360.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
热壁低压化学汽相淀积设备的使用与维修
3
作者
程开富
机构
重庆光电技术研究所
出处
《电子工业专用设备》
1998年第1期34-39,共6页
文摘
文章就热壁低压化学汽相淀积（ＨＷＬＰＣＶＤ）设备使用过程中常见的故障现象及维修谈一点体会。
关键词
HWLPCVD
多晶硅
氮化硅
半导体光电器件
分类号
TN360.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
光电耦合器的微机自动测试系统
4
作者
朱文虎
钱琳
机构
电子工业部五十五所
出处
《电子器件》
CAS
1997年第1期499-502,共4页
文摘
本文介绍了光电耦合器电参量自动测试的一种微机系统.描述了系统的组成及软件设计.软件设计用C语言编写,实现自动测试数据、控制检测过程、打印输出结果和存盘记录数据等功能.
关键词
光电耦合器
微机
自动测试
Keywords
Photoelectronic Coupler Computer System A/D,D/A Board
分类号
TN360.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
MOS结构衬底电阻率ρ对光电参数的影响
陈杰
戴文战
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1998
0
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职称材料
2
硅光电探测器光谱响应度测量标准装置
张建民
林延东
邵晶
樊其明
《计量学报》
CSCD
北大核心
1998
11
下载PDF
职称材料
3
热壁低压化学汽相淀积设备的使用与维修
程开富
《电子工业专用设备》
1998
0
下载PDF
职称材料
4
光电耦合器的微机自动测试系统
朱文虎
钱琳
《电子器件》
CAS
1997
0
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职称材料
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0
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