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题名基于蒙特卡罗的电子产品可靠性分析
被引量：5
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作者
郭水旺
胡乾坤
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机构
黄淮学院
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出处
《电子与封装》
2010年第5期33-35,共3页
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基金
河南省软科学研究项目电子产品(硬件)研发工程管理策略研究(092400450121)
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文摘
由于产品技术性能和结构要求等方面的提高,可靠性问题愈显突出,文章对电子元器件的可靠性进行了分析。寿命试验是可靠性试验中最重要最基本的项目之一,它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效(损坏)随时间变化规律,寿命测试分析方法采用威布尔型分析方法,根据极大似然估计的不变原则,统计出元件的平均寿命的极大似然估计,另外采用指数分布,属于伽玛分布和威布尔分布的特殊情况,统计产品的偶然失效。实验仿真给出了数据,其目的在于提高电子产品的可靠性。
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关键词
元器件
可靠性
理论分析
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Keywords
components
reliability
theoretical analysis
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分类号
TH132.15
[机械工程—机械制造及自动化]
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