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SiAlON陶瓷晶界相的电子显微分析
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作者 E.Bischoff D.V.Szabo +1 位作者 w.mader 白云林 《兵器材料科学与工程》 CAS CSCD 北大核心 1991年第11期67-69,共3页
在高性能和耐热多相陶瓷材料的研制中,透射电镜(TEM)起着重要作用。在这方面有两个互为补充的定量分析研究方法可供材料科学家采用。能量色散X射线分析仪(EDX)适于次重元素至重元素浓度的检测;而电子能量耗损谱仪(EELS)恰好可以定量地... 在高性能和耐热多相陶瓷材料的研制中,透射电镜(TEM)起着重要作用。在这方面有两个互为补充的定量分析研究方法可供材料科学家采用。能量色散X射线分析仪(EDX)适于次重元素至重元素浓度的检测;而电子能量耗损谱仪(EELS)恰好可以定量地检测极轻元素至次重元素量。这样,使用这两种方法就能够迅速地、定性地得出有关材料成份的全貌。但是一个可靠的定量分析却需要有丰富的经验,并且是以对物理原理的深入理解以及分析方法的可能性和限度为其前提的。这些方法在鉴别的精确度和鉴别的限度方面不可能与其它方法,如X射线萤光分析(RFA)相竞争。然而一个很大的优点是它有很高的空间分辨在 能够在10～20nm的大范围内进行分析。 展开更多
关键词 电子显微分析 TEM EDX EELS SIALON陶瓷 晶界相
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