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厚度的阶梯性变化对远红外高反射光子晶体带隙的调制研究
1
作者
王超
张凤祥
+4 位作者
邵东旭
程冰心
石敏
黄茂松
许遥
《红外技术》
CSCD
北大核心
2016年第9期793-797,共5页
利用特征矩阵法,研究了光波正入射时,厚度的阶梯性变化对远红外高反射光子晶体带隙的影响。结果表明,随着高折射介质层厚度的阶梯性增加,光子晶体高反射带的起始波长和截止波长都逐渐向长波方向移动,高反射带宽度也逐渐增大。高反射带...
利用特征矩阵法,研究了光波正入射时,厚度的阶梯性变化对远红外高反射光子晶体带隙的影响。结果表明,随着高折射介质层厚度的阶梯性增加,光子晶体高反射带的起始波长和截止波长都逐渐向长波方向移动,高反射带宽度也逐渐增大。高反射带起始波长、截止波长和高折射介质层厚度变化之间的关系可以分别利用一次方拟合表示,而高反射带宽度则需要利用二次方拟合才能达到理想的结果。
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关键词
介质层厚度
高反射带
光子晶体
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职称材料
题名
厚度的阶梯性变化对远红外高反射光子晶体带隙的调制研究
1
作者
王超
张凤祥
邵东旭
程冰心
石敏
黄茂松
许遥
机构
[
出处
《红外技术》
CSCD
北大核心
2016年第9期793-797,共5页
文摘
利用特征矩阵法,研究了光波正入射时,厚度的阶梯性变化对远红外高反射光子晶体带隙的影响。结果表明,随着高折射介质层厚度的阶梯性增加,光子晶体高反射带的起始波长和截止波长都逐渐向长波方向移动,高反射带宽度也逐渐增大。高反射带起始波长、截止波长和高折射介质层厚度变化之间的关系可以分别利用一次方拟合表示,而高反射带宽度则需要利用二次方拟合才能达到理想的结果。
关键词
介质层厚度
高反射带
光子晶体
Keywords
dielectric layer thickness
highly reflective band
photonic crystals
分类号
O434 [机械工程—光学工程]
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1
厚度的阶梯性变化对远红外高反射光子晶体带隙的调制研究
王超
张凤祥
邵东旭
程冰心
石敏
黄茂松
许遥
《红外技术》
CSCD
北大核心
2016
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