1
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低本底反康普顿HPGe γ谱仪的调试 |
魏玉锦
师国彬
韩峰
过惠平
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《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
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1994 |
7
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2
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符合相加修正因子随样品厚度的变化 |
朱文凯
魏玉锦
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《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
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1997 |
1
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3
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用Monte-Carlo方法计算中子透射率及其实验验证 |
李天柁
沈先开
魏玉锦
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《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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1994 |
0 |
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4
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一套低本底反康普顿高纯锗γ谱仪研制过程中若干技术问题的解决方法 |
韩峰
魏玉锦
师国彬
过惠平
朱文凯
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《核电子学与探测技术》
CSCD
北大核心
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1996 |
0 |
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