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题名基于STM32的数字集成电路测试仪的设计
被引量：1
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作者
于宝堃
石晟屹
马望男
李寅博
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机构
天津科技大学电子信息与自动化学院
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出处
《实验室科学》
2021年第4期71-73,78,共4页
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基金
天津科技大学大学生实验室创新基金(项目编号:1902A401)。
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文摘
设计了一种基于STM32的数字集成电路测试仪,用于检测74LS00、74LS20等实验教学中常用的74系列芯片。系统将功能测试法和参数测试法相结合,以检测被测芯片的逻辑功能和扇出能力。采用STM32F103VET6作为微控制器,通过按键可对其进行操作,构建了引脚配置与选择单元,以满足74系列芯片的引脚需求,利用A/D转换单元来获取输出电流,测试结果在LCD屏中显示。实际测试结果表明:该测试仪操作简单,测试时间短,能准确测量芯片的性能,满足实验教学的需求。
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关键词
STM32
数字集成电路测试仪
实验教学
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Keywords
STM32
digital integrated circuit tester
experiment teaching
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分类号
TN46
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于阈值法的数字集成电路测试仪的研制
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作者
于宝堃
石晟屹
马望男
李寅博
刘曼迪
吴丹
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机构
天津科技大学电子信息与自动化学院
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出处
《电脑知识与技术》
2021年第19期141-142,144,共3页
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基金
天津科技大学大学生实验室创新基金项目(1902A401)。
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文摘
研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪,用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能。该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元,通过测试向量集来判断芯片的性能,测试结果输出到LCD显示屏中。实际测试结果表明:该测试仪操作灵活,测试速度快,能准确检测芯片的状态,满足芯片诊断的需求。
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关键词
阈值法
STM8
74LS系列芯片
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Keywords
Threshold Method
STM8
74LS Series Chips
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分类号
TN46
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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