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一种基于FPGA的微处理器软错误敏感性分析方法 被引量:6
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作者 梁华国 孙红云 +6 位作者 孙骏 黄正峰 徐秀敏 易茂祥 欧阳一鸣 鲁迎春 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2017年第1期245-249,共5页
为了自动快速地分析微处理器对软错误的敏感性,该文提出一种基于FPGA故障注入的软错误敏感性分析方法。在FPGA芯片上同时运行有故障和无故障的两个微处理器,并充分利用FPGA的并行性,把故障注入控制、故障分类、故障列表等模块均在硬件... 为了自动快速地分析微处理器对软错误的敏感性,该文提出一种基于FPGA故障注入的软错误敏感性分析方法。在FPGA芯片上同时运行有故障和无故障的两个微处理器,并充分利用FPGA的并行性,把故障注入控制、故障分类、故障列表等模块均在硬件上实现,自动快速地完成全部存储位的故障注入。以PIC16F54微处理器为实验对象,基于不同负载分别注入约30万个软错误用以分析微处理器软错误敏感性,并对敏感性较高的单元加固后再次进行分析,验证该方法的有效性。实验数据表明,使用该方法进行故障注入及敏感性分析所需的时间比软件仿真方法提高了4个数量级。 展开更多
关键词 FPGA 故障注入 单粒子翻转 软错误 敏感性分析
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面向工程认证的软件项目管理课堂教学探究 被引量:6
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作者 程凡 崔杰 《电脑知识与技术》 2017年第6期120-122,共3页
为了达成工程人才的全球流动互认,诸多的中国高等院校已广泛参与至工程教育专业认证中来。文章针对软件工程专业的一门核心课——软件项目管理存在的一些问题,结合安徽大学计算机科学与技术学院的实际情况,探究一种面向工程认证的软件... 为了达成工程人才的全球流动互认,诸多的中国高等院校已广泛参与至工程教育专业认证中来。文章针对软件工程专业的一门核心课——软件项目管理存在的一些问题,结合安徽大学计算机科学与技术学院的实际情况,探究一种面向工程认证的软件项目管理课堂教学方案,使学生在掌握软件项目管理基本理论知识的基础上,有效进行符合工程认证标准的软件项目管理实践,增强学生项目管理能力。 展开更多
关键词 工程认证 软件项目管理 教学探究 指标点 达成度
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基于量子元胞自动机的5输入择多门设计与应用
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作者 曹傲然 +1 位作者 刘润祺 黄正峰 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第9期1450-1456,共7页
随着量子元胞自动机(quantum-dot cellular automata,QCA)电路复杂度不断上升,传统的3输入择多门逐渐无法满足现有的需求.为了在减少QCA电路的逻辑深度的同时降低开销,提出一种5输入择多门以实现高效的单层QCA电路.首先将输入元胞进行... 随着量子元胞自动机(quantum-dot cellular automata,QCA)电路复杂度不断上升,传统的3输入择多门逐渐无法满足现有的需求.为了在减少QCA电路的逻辑深度的同时降低开销,提出一种5输入择多门以实现高效的单层QCA电路.首先将输入元胞进行分散排列,通过中间元胞相连,保证5输入择多门的逻辑正确性;然后根据元胞电子间库仑作用力确定输出元胞的位置,构造出一种低功耗的5输入择多门;最后基于所提出的择多门设计一种D触发器,其具有低复杂度和低开销等特点.采用QCADesigner和QCADesigner-E工具对所提设计的功能、性能和功耗进行评估,结果表明,与现有的结构相比,所提出的5输入择多门不仅总功耗平均减少约57%,而且实现了高极化的输出;所提出的触发器总功耗减少约78%,复杂性、面积和延迟分别降低约35%,28%和28%. 展开更多
关键词 量子元胞自动机 单层电路 5输入择多门 D触发器
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考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法 被引量:3
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作者 梁华国 +1 位作者 黄正峰 蒋翠云 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2015年第8期1562-1569,共8页
工艺尺寸的降低导致组合电路对软错误的敏感性越发突出,由负偏置温度不稳定性(NBTI)效应引起的老化现象越发不容忽视.为了准确地评估集成电路在其生命周期不同阶段的软错误率,提出一种考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法.首先通过... 工艺尺寸的降低导致组合电路对软错误的敏感性越发突出,由负偏置温度不稳定性(NBTI)效应引起的老化现象越发不容忽视.为了准确地评估集成电路在其生命周期不同阶段的软错误率,提出一种考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法.首先通过对节点输出逻辑进行翻转来模拟故障注入,并搜索考虑扇出重汇聚的敏化路径;再基于单粒子瞬态(SET)脉冲在产生过程中展宽的解析模型对初始SET脉冲进行展宽,使用NBTI模型计算PMOS晶体管阈值电压增量并映射到PTM模型卡;最后使用考虑老化的HSPICE工具测量SET脉冲在门单元中传播时的展宽,并将传播到锁存器的SET脉冲进行软错误率计算.在考虑10年NBTI效应的影响下,与不考虑NBTI效应的软错误率评估方法相比的实验结果表明,该方法能够平均提高15%的软错误率计算准确度. 展开更多
关键词 负偏置温度不稳定性 扇出重汇聚 单粒子瞬态 软错误率
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3D NoC关键通信部件容错方法研究综述 被引量:3
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作者 欧阳一鸣 孙成龙 +4 位作者 陈奇 梁华国 易茂祥 黄正峰 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第12期3053-3063,共11页
三维片上网络通过硅通孔(Through Silicon Via,TSV)将多层芯片进行堆叠,具有集成密度大,通信效率高等特点,是片上多核系统的主流通信架构.然而,工艺偏差及物理缺陷所引发的错误和TSV良率较低等因素,使得三维片上网络面临严重的故障问题... 三维片上网络通过硅通孔(Through Silicon Via,TSV)将多层芯片进行堆叠,具有集成密度大,通信效率高等特点,是片上多核系统的主流通信架构.然而,工艺偏差及物理缺陷所引发的错误和TSV良率较低等因素,使得三维片上网络面临严重的故障问题.为保证通信效率,对三维片上网络关键通信部件进行容错设计必不可少.本文针对三维片上网络关键通信部件——路由器和TSV的故障和容错相关问题,从容错必要性、国内外研究现状、未来的研究方向和关键问题、以及拟提出的相关解决方案四个方面,展开深入探讨.为提高片上网络可靠性、保证系统高效通信提供一体化的解决方案. 展开更多
关键词 集成电路 三维片上网络 容错 TSV 路由器加固
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考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估 被引量:3
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作者 梁华国 袁德冉 +1 位作者 黄正峰 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2016年第3期505-512,共8页
为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿... 为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿数据通路向下游传播;在脉冲传播过程中,使用SEMT脉冲屏蔽模型评估逻辑屏蔽、电气屏蔽与时窗屏蔽效应,使用电路失效概率计算方法得到电路总体失效概率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法计算结果更为精确;与基于统计的蒙特卡罗方法相比,该方法的相对误差仅为2%,能够有效地指导集成电路容错设计. 展开更多
关键词 失效概率 软错误 单粒子多瞬态 信号概率
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以企业需求为导向的软件工程实验教学改革——以安徽大学为例 被引量:3
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作者 程凡 苏延森 《电脑知识与技术》 2017年第5期133-135,共3页
软件工程实验作为一门融合理论与实践的综合课程,其旨在帮助学生理解软件工程基本概念的同时,也为其日后走向企业成为一名合格的软件工程师奠定坚实的基础,而现有的事实是当前软件工程实验教学培养出的学生很难真正满足企业的实际需... 软件工程实验作为一门融合理论与实践的综合课程,其旨在帮助学生理解软件工程基本概念的同时,也为其日后走向企业成为一名合格的软件工程师奠定坚实的基础,而现有的事实是当前软件工程实验教学培养出的学生很难真正满足企业的实际需求。对此,该文以安徽大学为例,介绍了该校计算机学科与技术学院从构建面向企业需求的实验教学内容、采用以能力化培养为中心的实验教学方法、建立校企结合的实践化教学团队和引入基于企业能力贡献的一体化考核方式等多个角度进行的改革。为探索新形势下,如何培养满足企业需求的专业软件人才做出了积极的努力。 展开更多
关键词 软件工程实验 教学改革 企业需求
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延时特征分析识别硬件木马 被引量:1
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作者 宋钛 黄正峰 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2022年第4期515-521,共7页
针对芯片生产链长、安全性差、可靠性低,导致硬件木马防不胜防的问题,提出一种改进的机器学习分类算法.首先采集不同电压下电路的延时信号,通过KNN分类算法找出延时差异,若延时与干净电路相同,则判定为干净电路,否则判定有木马;然后联... 针对芯片生产链长、安全性差、可靠性低,导致硬件木马防不胜防的问题,提出一种改进的机器学习分类算法.首先采集不同电压下电路的延时信号,通过KNN分类算法找出延时差异,若延时与干净电路相同,则判定为干净电路,否则判定有木马;然后联合多项式回归算法对木马延时特征进行拟合,基于回归函数建立木马特征库,最终实现硬件木马的准确识别.实验结果表明,对2 000组延时单元的19个不同电压进行延时提取,同时考虑电压数目、K值与识别准确率,则电压数目与木马的识别准确率成正比,而参数K与识别准确率成反比;综合考虑的电压数目为19时,其预测准确率达到最高的95.2%;所提算法能明显地提升硬件木马的识别准确率和自动化程度. 展开更多
关键词 硬件木马 机器学习 干净电路 多项式回归
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基于故障概率的组合电路软错误率分析 被引量:2
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作者 梁华国 +1 位作者 黄正峰 袁德冉 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2015年第3期343-351,共9页
为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的有效评估,建立了一种精确的单粒子瞬态故障概率模型与脉冲屏蔽模型,并提出一种基于故障概率的组合电路软错误率评估方法。通过门级仿真可得各个组合逻辑门单元信号概率,将信号概率反转以模拟故... 为了在集成电路的设计阶段进行软错误率的有效评估,建立了一种精确的单粒子瞬态故障概率模型与脉冲屏蔽模型,并提出一种基于故障概率的组合电路软错误率评估方法。通过门级仿真可得各个组合逻辑门单元信号概率,将信号概率反转以模拟故障注入,并使用提出的数据通路检索算法可得故障门到锁存器的数据通路。在数据通路上使用不同宽度的正负脉冲模拟不同能量的粒子撞击,并使用提出的单粒子瞬态脉冲屏蔽模型计算可得电路总体错误概率,最后使用提出的基于故障概率的软错误率评估方法计算可得电路总体软错误率。通过对ISCAS’89电路进行实验并与基于向量传播的方法比较,等效精度平均提高近200倍的软错误率评估速度。 展开更多
关键词 软错误率(SER) 组合电路 单粒子瞬态(SET) 扇出重汇聚 故障概率
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65nm工艺下单粒子加固锁存器设计 被引量:2
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作者 黄正峰 钱栋良 +3 位作者 梁华国 易茂祥 欧阳一鸣 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2016年第8期1393-1400,共8页
随着工艺尺寸的缩减,单粒子引发的软错误成为威胁电路可靠性的重要原因.基于SMIC 65 nm CMOS工艺,提出一种单粒子加固锁存器设计.首先针对单粒子翻转,使用具有状态保持功能的C单元,并且级联成两级;然后针对单粒子瞬态,将延迟单元嵌入在... 随着工艺尺寸的缩减,单粒子引发的软错误成为威胁电路可靠性的重要原因.基于SMIC 65 nm CMOS工艺,提出一种单粒子加固锁存器设计.首先针对单粒子翻转,使用具有状态保持功能的C单元,并且级联成两级;然后针对单粒子瞬态,将延迟单元嵌入在锁存器内部并与级联C单元构成时间冗余;最后选择基于施密特触发器的电路作为延迟单元.实验结果表明,相比已有的加固设计,该锁存器不存在共模故障敏感节点,还能容忍时钟电路中的单粒子瞬态;版图面积、功耗和时钟电路功耗分别平均下降30.58%,44.53%和26.51%;且该锁存器的功耗对工艺、供电电压和温度的波动不敏感. 展开更多
关键词 软错误 单粒子翻转 单粒子瞬态 加固锁存器 时间冗余
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基于时空冗余的容软错误锁存器设计 被引量:1
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作者 黄正峰 申思远 +2 位作者 彭小飞 鲁迎春 《电子测量与仪器学报》 CSCD 北大核心 2015年第9期1310-1319,共10页
随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁存器包括两个内部冗余模块和一个由C单元与保持器组成的输出级... 随着集成电路工艺尺寸的不断降低,电路对空间辐射引起的单粒子效应越来越敏感。为了提高电路的可靠性,基于时间和空间冗余技术提出了一种高性能的容软错误锁存器DSH-CG。该锁存器包括两个内部冗余模块和一个由C单元与保持器组成的输出级,不但可以过滤上游组合逻辑传播过来的SET脉冲,而且对SEU完全免疫。并且该锁存器适用于门控时钟电路或低频电路。SPICE仿真结果表明,与同类锁存器相比,该锁存器平均延迟增加32.4%,可过滤的SET脉冲宽度平均增加73.5%,并且功耗平均降低44.5%,功耗延迟积(PDP)平均降低31.5%,面积平均增加28.6%。 展开更多
关键词 锁存器 软错误 瞬态错误 冗余技术
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一种容SEU的新型自恢复锁存器 被引量:1
12
作者 黄正峰 付俊超 +3 位作者 欧阳一鸣 梁华国 易茂祥 《微电子学》 CSCD 北大核心 2017年第5期685-689,694,共6页
针对单粒子翻转(SEU)的问题,提出了一种容SEU的新型自恢复锁存器。采用1P-2N单元、输入分离的钟控反相器以及C单元,使得锁存器对SEU能够实现自恢复,可用于时钟门控电路。采用高速通路设计和钟控设计,以减小延迟和降低功耗。相比于HLR-CG... 针对单粒子翻转(SEU)的问题,提出了一种容SEU的新型自恢复锁存器。采用1P-2N单元、输入分离的钟控反相器以及C单元,使得锁存器对SEU能够实现自恢复,可用于时钟门控电路。采用高速通路设计和钟控设计,以减小延迟和降低功耗。相比于HLR-CG1,HLR-CG2,TMR,HiPer-CG锁存器,该锁存器的功耗平均下降了44.40%,延迟平均下降了81%,功耗延迟积(PDP)平均下降了94.20%,面积开销平均减少了1.80%。 展开更多
关键词 软错误 单粒子翻转 时钟门控 加固锁存器
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考虑扇出重汇聚效应的组合电路软错误率评估 被引量:1
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作者 梁华国 +1 位作者 许晓琳 袁德冉 《合肥工业大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2016年第10期1341-1346,共6页
为了准确评估集成电路的软错误率(soft error rate,SER),文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号,将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入,然后使用考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找不同输入向量下... 为了准确评估集成电路的软错误率(soft error rate,SER),文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号,将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入,然后使用考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找不同输入向量下的敏化路径;通过单指数电流源模拟瞬态故障脉冲的产生,并将脉冲在敏化路径上传播,使用脉冲屏蔽模型评估电气屏蔽和时窗屏蔽效应;最后采用该方法计算可得电路总体SER。实验结果表明,由于考虑扇出重汇聚的影响,该方法平均提高8.2%的SER评估准确度。 展开更多
关键词 单粒子瞬态 逻辑屏蔽 扇出重汇聚 软错误率 失效概率
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一种自恢复容SEU锁存器的设计 被引量:1
14
作者 吴悠然 梁华国 +2 位作者 王志 黄正峰 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2015年第5期643-648,共6页
随着集成电路工艺水平的不断提高、器件尺寸的不断缩小以及电源的不断降低,传统的锁存器越发容易受到由辐射效应引起的软错误影响。为了增强锁存器的可靠性,提出了一种适用于低功耗电路的自恢复SEU加固锁存器。该锁存器由传输门、反馈... 随着集成电路工艺水平的不断提高、器件尺寸的不断缩小以及电源的不断降低,传统的锁存器越发容易受到由辐射效应引起的软错误影响。为了增强锁存器的可靠性,提出了一种适用于低功耗电路的自恢复SEU加固锁存器。该锁存器由传输门、反馈冗余单元和保护门C单元构成。反馈冗余单元由六个内部节点构成,每个节点均由一个NMOS管和一个PMOS管驱动,从而构成自恢复容SEU的结构。在45nm工艺下,使用Hspice仿真工具进行仿真,结果表明,与现有的加固方案FERST[1]结构相比,在具备相同面积开销和单粒子翻转容忍能力的情况下,提出的锁存器不仅适用于时钟门控电路,而且节省了61.38%的功耗-延迟积开销。 展开更多
关键词 锁存器设计 反馈冗余单元 C单元 低功耗 软错误
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优先级调整的《软件项目管理》课程教学方法探析——以安徽大学为例
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作者 《白城师范学院学报》 2019年第4期71-76,共6页
为了提高《软件项目管理》课程教学效果,本文针对安徽大学计算机科学与技术学院《软件项目管理》课程存在的问题,提出一种优先级调整的《软件项目管理》课程教学方法.该方法将沟通管理、人力资源管理和时间管理的优先级设置为最高,从而... 为了提高《软件项目管理》课程教学效果,本文针对安徽大学计算机科学与技术学院《软件项目管理》课程存在的问题,提出一种优先级调整的《软件项目管理》课程教学方法.该方法将沟通管理、人力资源管理和时间管理的优先级设置为最高,从而有效地进行其他管理知识领域的学习,并增强学生面向企业实际需求的软件项目管理实战能力.从实验班的教学效果来看,提出的教学方法教学效果突出,受到了学生的好评,具有重要的教学改革意义. 展开更多
关键词 教学方法 《软件项目管理》 优先级调整
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低面积与低延迟开销的三节点翻转容忍锁存器设计
16
作者 申震 +1 位作者 崔杰 黄正峰 《电子与信息学报》 EI CSCD 北大核心 2023年第9期3272-3283,共12页
随着纳米级CMOS集成电路的不断发展,锁存器极易受恶劣的辐射环境影响,由此引发的多节点翻转问题越来越严重。该文提出一种基于双联互锁存储单元(DICE)和2级C单元的3节点翻转(TNU)容忍锁存器,该锁存器包括5个传输门、2个DICE和3个C单元... 随着纳米级CMOS集成电路的不断发展,锁存器极易受恶劣的辐射环境影响,由此引发的多节点翻转问题越来越严重。该文提出一种基于双联互锁存储单元(DICE)和2级C单元的3节点翻转(TNU)容忍锁存器,该锁存器包括5个传输门、2个DICE和3个C单元。该锁存器具有较小的晶体管数量,大大减小了电路的硬件开销,实现低成本。每个DICE单元可用来容忍并恢复单节点翻转,而C单元具有错误拦截特性,可屏蔽由DICE单元传来的错误值。当任意3个节点翻转后,借助DICE单元和C单元,该锁存器可容忍该错误。基于集成电路仿真程序(HSPICE)的仿真结果表明,与先进的TNU加固锁存器设计相比,该锁存器的延迟平均降低了64.65%,延迟功耗面积积平均降低了65.07%。 展开更多
关键词 锁存器 3节点翻转 抗辐射加固技术 C单元 双联互锁存储单元
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A novel double-node-upset-resilient radiation-hardened latch 被引量:1
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作者 Wang Qijun Yan Aibin 《Journal of Southeast University(English Edition)》 EI CAS 2018年第2期182-186,共5页
To effectively tolerate a double-node upset,a novel double-node-upset-resilient radiation-hardened latch is proposed in 22 nm complementary-metal-oxide-semiconductor technology.Using three interlocked single-node-upse... To effectively tolerate a double-node upset,a novel double-node-upset-resilient radiation-hardened latch is proposed in 22 nm complementary-metal-oxide-semiconductor technology.Using three interlocked single-node-upset-resilient cells,which are identically mainly constructed from three mutually feeding back 2-input C-elements,the latch achieves double-node-upset-resilience.Using smaller transistor sizes,clock-gating technology,and high-speed transmission-path,the cost of the latch is effectively reduced.Simulation results demonstrate the double-node-upset-resilience of the latch and also show that compared with the up-to-date double-node-upset-resilient latches,the proposed latch reduces the transmission delay by 72.54%,the power dissipation by 33.97%,and the delay-power-area product by 78.57%,while the average cost of the silicon area is only increased by 16.45%. 展开更多
关键词 radiation hardening circuit reliability soft error double-node upset single-node upset
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考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型
18
作者 梁华国 +2 位作者 黄正峰 蒋翠云 易茂祥 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第12期3011-3019,共9页
集成电路工艺水平的提升,使得由单粒子瞬态脉冲造成的芯片失效越发不容忽视.为了准确计算单粒子瞬态脉冲对锁存器造成的失效率,提出一种考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型.使用提出的考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查... 集成电路工艺水平的提升,使得由单粒子瞬态脉冲造成的芯片失效越发不容忽视.为了准确计算单粒子瞬态脉冲对锁存器造成的失效率,提出一种考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的锁存窗屏蔽模型.使用提出的考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找门节点到达锁存器的敏化路径,并记录路径延迟;在扇出重汇聚路径上,使用提出的脉冲叠加计算方法对脉冲进行叠加;对传播到达锁存器的脉冲使用提出的锁存窗屏蔽模型进行失效率的计算.文中的锁存窗屏蔽模型可以准确计算扇出重汇聚导致的脉冲叠加,并对多时钟周期情形具有很好的适用性.针对ISCAS’85基准电路的软错误率评估结果表明,与不考虑多时钟周期瞬态脉冲叠加的方法相比,文中方法使用不到2倍的时间开销,平均提高7.5%的软错误率评估准确度. 展开更多
关键词 锁存窗屏蔽 脉冲叠加 多时钟周期 扇出重汇聚
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