期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
浅谈半导体测试厂的自动化
1
作者
郭
旭
棋
汪辉
《装备制造技术》
2007年第5期116-117,共2页
利用半导体测试厂的测试流程、测试设备的自动化来提升测试设备的产能利用率,降低机台初始化与架设时间及故障修护时间并减少重测;通过生产线的自动化来减少人为错误从而达到半导体测试厂自动化整合的目的。
关键词
成品测试
手动测试
芯片测试
自动测试设备
下载PDF
职称材料
题名
浅谈半导体测试厂的自动化
1
作者
郭
旭
棋
汪辉
机构
上海交通大学微电子学院
SMIC
出处
《装备制造技术》
2007年第5期116-117,共2页
文摘
利用半导体测试厂的测试流程、测试设备的自动化来提升测试设备的产能利用率,降低机台初始化与架设时间及故障修护时间并减少重测;通过生产线的自动化来减少人为错误从而达到半导体测试厂自动化整合的目的。
关键词
成品测试
手动测试
芯片测试
自动测试设备
Keywords
Finished product testing
Manual testing
Chip testing
Automatic test equipment
分类号
TN304.07 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
浅谈半导体测试厂的自动化
郭
旭
棋
汪辉
《装备制造技术》
2007
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部