PCB的腐蚀失效及其分析 被引量：9

1

作者 徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第2期28-30,共3页

通过一个电子辞典用PCB腐蚀失效的分析案例,介绍了PCB的失效现象、分析过程和分析技术,阐述了其失效机理,并提出了相应的改进措施。

关键词 印制电路板 软包封 离子玷污 腐蚀失效

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双极型微波功率晶体管热失效原因分析 被引量：2

2

作者 李萍 来萍 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2006年第4期16-18,共3页

阐述了双极型微波功率晶体管的主要失效模式及失效机理,重点分析了热应力导致的失效,介绍了两个典型的失效分析案例,并提出相应的筛选措施。

关键词 双极型微波功率晶体管 二次击穿 粘接不良

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半导体器件参数退化失效分析 被引量：1

3

作者 徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1996年第4期38-42,共5页

1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、环境所致等等.但... 1 前言电参数漂移、超差或退化是半导体器件常见的失效模式。这类失效会导致产品合格率不高;使得成品器件档次下降;更严重的是还会影响整机的寿命和可靠性.引起这类失效的原因很多,如材料缺陷,生产工艺欠佳,使用条件、环境所致等等.但要对参漂或退化的器件进行分析时,由于这类失效的原因复杂,失效部位难寻,不像分析致命失效那样较直观,往往不易找到其失效原因。因此,如何准确确定这类失效器件的失效原因,是半导体器件生产厂家和用户长期以来乃至今依然十分关注的问题.本文通过两种型号晶体管的失效分析实例,介绍了对半导体器件参数退化失效原因的诊断分析方法。 展开更多

关键词 半导体器件 参数退化 失效 可靠性

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PCBA-PTH焊点失效原因分析 被引量：2

4

作者 贺光辉 罗道军 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2005年第B12期78-80,共3页

介绍了一例典型的PCB过波峰焊后焊点润湿不良原因分析的案例。分析结果表明由于孔壁镀层厚度太薄、冲孔(钻孔)质量差以及孔焊盘锡铅镀层太薄等原因导致焊点润湿不良。

关键词 印制电路板 润湿不良 镀层厚度 钻孔质量

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电子元器件失效分析实例 被引量：1

5

作者 郑廷圭 李少平 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 1997年第4期19-21,共3页

关键词 电子元器件 失效分析 电子模块

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塑封GaAs MMIC的失效机理及典型案例 被引量：1

6

作者 李萍 黄云 +1 位作者 郑廷圭 施明哲 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年第6期8-10,共3页

阐述了塑封GaAs MMIC的主要失效模式和失效机理,根据40余例实际案例,得出了其使用中的失效机理分布,并给出几例典型的失效分析案例。

关键词 微波单片集成电路 失效模式 失效机理 分析案例

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露点测试技术及其计算机辅助测试系统

7

作者 陈三廷 郑廷圭 +1 位作者 谭超元 徐爱斌 《电子产品可靠性与环境试验》 1994年第4期54-58,共5页

1 引言 众所周知,内部水汽含量过高是导致铝金属化腐蚀(即长“白毛”)失效的主要原因。为了确保器件的可靠性,必须对器件的内部水汽含量指标进行严格考核。为此,必须有一种能对密封器件的内部水汽含量进行有效测试的方法。利用质谱方法... 1 引言 众所周知,内部水汽含量过高是导致铝金属化腐蚀(即长“白毛”)失效的主要原因。为了确保器件的可靠性,必须对器件的内部水汽含量指标进行严格考核。为此,必须有一种能对密封器件的内部水汽含量进行有效测试的方法。利用质谱方法进行的残余气体分析技术是最早获得人们认可的内部水汽含量检测技术。但是,这种技术太复杂、太昂贵,一般的实验室和生产厂都用不起,必须另找一种既经济又方便的替代方法。露点测试技术是MIL-STD-883和GJB548-88所推荐的、既经济又方便的替代方法之一。过去,由于我们国内缺乏这方面的检测技术,一直无法对器件的内部水汽含量进行检测考核。随着国军标的贯彻实施,器件的内部水汽含量必将成为一项必须考核的质量指标。因此,尽快开发出我们自己的内部水汽含量检测技术,是摆在我们面前的迫切任务。为了填补国内在这一领域的空白,我们从1987年开始,进行了露点测试技术的开发研究。经过两年多的研究,终于成功地开发出这种露点技术及其计算机辅助测试系统。随后,又将这一技术应用到我们承担的多项研究分析任务中,收到了良好的效果。 展开更多

关键词 电子器件 露点测试技术 计算机

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国产A/D(模/数)、D/A/(数/模)转换器失效模式和失效机理研究

8

作者 徐爱斌 郑廷圭 +3 位作者 施明哲 罗宏伟 谭超元 李少平 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年第1期23-26,33,共5页

国产Ａ／Ｄ（模／数）、Ｄ／Ａ（数／模）转换器是重点电子产品，属大规模集成电路。我国军用和重点工程对Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的需求很大，而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理，可暴露存在问题... 国产Ａ／Ｄ（模／数）、Ｄ／Ａ（数／模）转换器是重点电子产品，属大规模集成电路。我国军用和重点工程对Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的需求很大，而目前高位数和高精度的该类产品主要仍靠进口。本文通过研究其失效模式和失效机理，可暴露存在问题，总结经验教训，寻找改进措施，促进该类产品研制与生产水平的提高，以利于国产Ａ／Ｄ、Ｄ／Ａ的进一步开发和发展。 展开更多

关键词 A/D转换器 失效模式 失效机理 D/A转换器

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梳状谐波发生器的失效原因分析

9

作者 来萍 李萍 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2004年第1期6-9,共4页

介绍了对一进口梳状谐波发生器功能失效样品进行分析的案例。分析结果表明,失效原因是导电胶粘接导致的键合失效,这也是目前国内微波模块中最常见的失效原因之一。通过对失效部位的修补,恢复了失效样品的功能,从而也验证了失效定位和原... 介绍了对一进口梳状谐波发生器功能失效样品进行分析的案例。分析结果表明,失效原因是导电胶粘接导致的键合失效,这也是目前国内微波模块中最常见的失效原因之一。通过对失效部位的修补,恢复了失效样品的功能,从而也验证了失效定位和原因分析的准确性。 展开更多

关键词 谐波发生器 失效分析 键合 粘接

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国产光电耦合器密封试验和内部水汽含量检测结果分析

10

作者 徐爱斌 李少平 +1 位作者 欧叶芳 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1999年第4期20-21,共2页

本文对国内三个光电耦合器主要生产厂家的多种型号品种气密封装光电耦合产品开展了密封试验和内部水汽含量检测，并着重对试验结果进行了分析讨论。

关键词 光电耦合器 密封试验 内部水汽含量 检测

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微波放大器自激振荡的分析定位

11

作者 来萍 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第1期9-13,共5页

介绍了对一种进口微波放大器在静态条件下产生自激振荡的原因进行分析的案例。在保证不破坏原有现象和尽量保证样品完整性的前提下，采用各种技术手段，成功地进行了分析定位。确定导致样品自激振荡的直接原因是：第３级放大管反馈回路... 介绍了对一种进口微波放大器在静态条件下产生自激振荡的原因进行分析的案例。在保证不破坏原有现象和尽量保证样品完整性的前提下，采用各种技术手段，成功地进行了分析定位。确定导致样品自激振荡的直接原因是：第３级放大管反馈回路中的电容特性退化。 展开更多

关键词 微波放大器 自激振荡 分析定位 可靠性

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严把进口元器件的质量关

12

作者 来萍 欧叶芳 郑廷圭 《电子质量》 2000年第5期16-21,共6页

本文根据几例对进口元器件进行失效分析、试验和检测的结果，讨论了当前国内部分整机单位在购买进口元器件时，可靠性方面存在的一些问题，并提出了一些改进方法和建议。

关键词 电子元器件 进口 质量 微波放大器 电源模块

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光电耦合器的CTR退化机理及其控制对策

13

作者 徐爱斌 李少平 +1 位作者 欧叶芳 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 2001年第2期22-24,共3页

研究探讨了光电耦合器电流传输比 (CTR)的退化现象及其退化机理 ,提出了控制CTR退化的主要技术途径。

关键词 光电耦合器 电流传输比 退化机理 控制对策

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AS169微波开关电路的失效原因分析

14

作者 来萍 李萍 郑廷圭 《电子质量》 2003年第8期J011-J012,共2页

本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析。采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是:在装配和测试阶段因静电放电(ESD)而导致电路损伤和失效。

关键词 AS169型 微波开关电路 失效分析 静电放电 ESD 静电损伤

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气蜜封装半导体器件内部水汽无损检测—露点温度测试法

15

作者 徐爱斌 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1990年第5期51-54,共4页

关键词 半导体器件 封装 无损检测 水汽

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使用状态下元器件失效的蒙特卡罗仿真

16

作者 王群勇 郑廷圭 《电子产品可靠性与环境试验》 1993年第3期14-16,共3页

关键词 电子器件 失效 蒙特卡罗法 仿真

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