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ICP-AES测定高纯钨中杂质元素
被引量：
22
1
作者
范健
黄进宇
+3 位作者
邹
玫玫
裘立奋
王吉申
杜方才
《中南工业大学学报》
CSCD
北大核心
1999年第1期71-73,共3页
采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素，并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究，建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体...
采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素，并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究，建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题，能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素，回收率高于９０％，相对标准偏差为１％～６％．它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段．
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关键词
微量元素
钨基体效应
光谱干扰
沉淀分离
下载PDF
职称材料
钨及其化合物中杂质元素分析方法进展
被引量：
7
2
作者
邹
玫玫
黄进宇
任凤莲
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第3期35-38,共4页
综述了近 10多年来钨及其化合物中杂质元素的分析方法 ,涉及方法包括原子发射光谱法、原子吸收光谱法、分光光度法、质谱法。
关键词
钨
杂质元素
分析方法
钨化合物
下载PDF
职称材料
题名
ICP-AES测定高纯钨中杂质元素
被引量：
22
1
作者
范健
黄进宇
邹
玫玫
裘立奋
王吉申
杜方才
机构
中南工业大学测试分析中心
株洲硬质合金厂测试分析中心
出处
《中南工业大学学报》
CSCD
北大核心
1999年第1期71-73,共3页
文摘
采用电感耦合等离子体原子发射光谱法（即ＩＣＰＡＥＳ法）测定钨中的１４种杂质元素，并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究，建立了ＩＣＰＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法．此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题，能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素，回收率高于９０％，相对标准偏差为１％～６％．它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段．
关键词
微量元素
钨基体效应
光谱干扰
沉淀分离
Keywords
trace element
tungsten
matrix effect
spectral interference
precipitation seperation
interference factor correction
ICP AES
分类号
O614.613 [理学—无机化学]
O655.24 [理学—化学]
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职称材料
题名
钨及其化合物中杂质元素分析方法进展
被引量：
7
2
作者
邹
玫玫
黄进宇
任凤莲
机构
中南工业大学
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2001年第3期35-38,共4页
文摘
综述了近 10多年来钨及其化合物中杂质元素的分析方法 ,涉及方法包括原子发射光谱法、原子吸收光谱法、分光光度法、质谱法。
关键词
钨
杂质元素
分析方法
钨化合物
Keywords
tungsten and tungstic compounds
impurities
analytical methods
分类号
O653 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
ICP-AES测定高纯钨中杂质元素
范健
黄进宇
邹
玫玫
裘立奋
王吉申
杜方才
《中南工业大学学报》
CSCD
北大核心
1999
22
下载PDF
职称材料
2
钨及其化合物中杂质元素分析方法进展
邹
玫玫
黄进宇
任凤莲
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
2001
7
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