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数字IC可测性设计和自动测试生成技术 被引量:2
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作者 刘明远 锦荣 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1998年第5期362-364,共3页
描述了一种自动局部扫描可测性设计方法,该方法在电路内部提供附加逻辑,把时序元件串成一条扫描通路,辅以适当的控制信号,使时序元件和组合元件分离开,从而达到可测试的目的。介绍了一种改进的PODEM测试生成算法和一种基于模... 描述了一种自动局部扫描可测性设计方法,该方法在电路内部提供附加逻辑,把时序元件串成一条扫描通路,辅以适当的控制信号,使时序元件和组合元件分离开,从而达到可测试的目的。介绍了一种改进的PODEM测试生成算法和一种基于模拟的测试生成方法,该方法能较好地处理时序电路的测试生成问题。 展开更多
关键词 数字集成电路 可测性设计 测试生成 故障模拟
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ASIC单元库建库方法的研究 被引量:1
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作者 于宗光 锦荣 何晓娃 《半导体情报》 2000年第4期1-4,13,共5页
介绍了 ASIC单元库的含义 ,阐述了建立 ASIC单元库的一般方法。基于 COMPASS的建库工具 Mercury,阐述了建立参数库的技术 ,并简单介绍了几种典型的 ASIC单元库及应用情况。
关键词 ASIC 单元库 集成电路 建库
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1.0微米门阵列单元库 被引量:1
3
作者 于宗光 薛忠杰 +8 位作者 王栋 乐海燕 王成 史喆 黄嵩人 锦荣 彭力 叶守银 沈卫东 《微电子技术》 1999年第3期48-53,共6页
本文主要介绍华晶中央研究所的1微米门阵列单元库的基本特性。
关键词 门阵列 单元
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