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题名一种基于FPGA的宽范围绝缘测试系统设计与研究
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作者
邓步云
赵国文
张会新
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机构
中北大学微纳器件与系统教育部重点实验室
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出处
《集成电路与嵌入式系统》
2024年第8期78-84,共7页
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文摘
针对工业领域对绝缘测试越来越高的需求,提出了一种基于FPGA的宽范围绝缘测试系统,同时针对大电阻测试情况下工频干扰对测试精度的影响,提出了采用双T型陷波器的方法。首先,分析绝缘测试平台的测试原理,并给出系统整体设计框架,该绝缘测试平台分为上位机和下位机两部分,两者通过以太网进行通信;其次,分析电路原理,根据原理和测试需求提出相应的硬件设计,陷波器采用双T结构,电阻测试原理采用二线法;再次,根据电路和测试原理设计软件和通信协议;最后,对电路仿真并进行实物测试。测试结果表明,绝缘测试系统测试范围能覆盖至10Ω~10 MΩ,双T型陷波器能够滤除大电阻测试情况下的工频干扰,滤波后的测试误差均在10%以内。
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关键词
绝缘测试
双T型陷波器
FPGA
HWD2V1000
RS
422
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Keywords
insulation teaster
dual T-notch filters
FPGA
HWD2V1000
RS-422
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分类号
TP216
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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