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不同温度下异质外延生长立方氮化硼薄膜及其原位掺杂
1
作者
赵
德
鹤
殷红
《超硬材料工程》
CAS
2018年第1期28-33,共6页
在金刚石( 0 0 1) 基底上, 在4 0 0℃、 6 0 0℃和9 0 0℃温度条件下外延生长高质量的c -B N薄膜.在不同的沉积温度下的薄膜生长过程中掺入S i , 实现了n型原位掺杂.S i的浓度随着生长温度的降低而升高.系统地研究了不同的沉积温度和...
在金刚石( 0 0 1) 基底上, 在4 0 0℃、 6 0 0℃和9 0 0℃温度条件下外延生长高质量的c -B N薄膜.在不同的沉积温度下的薄膜生长过程中掺入S i , 实现了n型原位掺杂.S i的浓度随着生长温度的降低而升高.系统地研究了不同的沉积温度和S i浓度对于c -B N外延薄膜导电性能的影响.结果表明, 在4 2 0℃下掺杂得到的薄膜电阻率低于在更高温度下制得的薄膜的电阻率.电子输运性能对于温度的依赖性以及其相应的理论拟合的结果表明, S i掺杂薄膜的激活能大约是0. 3e V, 提高S i的摻杂浓度可以提高深能级受主的补偿作用.
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关键词
离子束辅助沉积
立方氮化硼薄膜
外延
原位掺杂
n型导电
电子应用
下载PDF
职称材料
题名
不同温度下异质外延生长立方氮化硼薄膜及其原位掺杂
1
作者
赵
德
鹤
殷红
机构
吉林大学超硬材料国家重点实验室
出处
《超硬材料工程》
CAS
2018年第1期28-33,共6页
基金
本工作感谢国家自然科学基金(基金号:51572105和61504046),教育部留学回国人员启动基金,吉林省发改委创新项目(资助号:2015Y050)以及吉林省留学回国人员启动基金的支持.
文摘
在金刚石( 0 0 1) 基底上, 在4 0 0℃、 6 0 0℃和9 0 0℃温度条件下外延生长高质量的c -B N薄膜.在不同的沉积温度下的薄膜生长过程中掺入S i , 实现了n型原位掺杂.S i的浓度随着生长温度的降低而升高.系统地研究了不同的沉积温度和S i浓度对于c -B N外延薄膜导电性能的影响.结果表明, 在4 2 0℃下掺杂得到的薄膜电阻率低于在更高温度下制得的薄膜的电阻率.电子输运性能对于温度的依赖性以及其相应的理论拟合的结果表明, S i掺杂薄膜的激活能大约是0. 3e V, 提高S i的摻杂浓度可以提高深能级受主的补偿作用.
关键词
离子束辅助沉积
立方氮化硼薄膜
外延
原位掺杂
n型导电
电子应用
分类号
TQ164 [化学工程—高温制品工业]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
不同温度下异质外延生长立方氮化硼薄膜及其原位掺杂
赵
德
鹤
殷红
《超硬材料工程》
CAS
2018
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职称材料
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