介绍了在北京同步辐射(Beijing Synchrotron Radiation Facility,BSRF)标定源的4B7B实验站上建立的一套软X光低温辐射计系统,用于测量从30 n W^1μW范围的软X光功率。经多次实验发现:热沉和吸收体的温度稳定性以及热辐射背底涨落的控制...介绍了在北京同步辐射(Beijing Synchrotron Radiation Facility,BSRF)标定源的4B7B实验站上建立的一套软X光低温辐射计系统,用于测量从30 n W^1μW范围的软X光功率。经多次实验发现:热沉和吸收体的温度稳定性以及热辐射背底涨落的控制是降低X光功率测量不确定度的关键。热沉的温度稳定是吸收体温度稳定的前提;吸收体上电加热功率根据待测X光功率调节,通过温度控制系统实现;低功率下X光功率测量不确定度受热辐射背底涨落的影响较大,通过优化热沉和吸收体的温度控制系统以及改进热链接的设计及工艺,使热沉的温度标准差控制在10μK以下,吸收体的在15μK以下。通过改善吸收体和热沉的受热环境,以及对通光管做特殊设计,控制热辐射背底的涨落在0.06 n W以内。对30 n W光功率的测试结果显示测量不确定度小于1%(k=1)。展开更多
文摘介绍了在北京同步辐射(Beijing Synchrotron Radiation Facility,BSRF)标定源的4B7B实验站上建立的一套软X光低温辐射计系统,用于测量从30 n W^1μW范围的软X光功率。经多次实验发现:热沉和吸收体的温度稳定性以及热辐射背底涨落的控制是降低X光功率测量不确定度的关键。热沉的温度稳定是吸收体温度稳定的前提;吸收体上电加热功率根据待测X光功率调节,通过温度控制系统实现;低功率下X光功率测量不确定度受热辐射背底涨落的影响较大,通过优化热沉和吸收体的温度控制系统以及改进热链接的设计及工艺,使热沉的温度标准差控制在10μK以下,吸收体的在15μK以下。通过改善吸收体和热沉的受热环境,以及对通光管做特殊设计,控制热辐射背底的涨落在0.06 n W以内。对30 n W光功率的测试结果显示测量不确定度小于1%(k=1)。
