针对一起35 k V干式电抗器单相接地故障,分别进行直流电阻预试、高频震荡脉冲匝间绝缘测试及返厂解剖,发现第5层包封区域存在严重匝间短路。电抗器匝间短路会导致导线熔断,使得常规预试项目存在局限性。对故障35 k V干式电抗器进行COMSO...针对一起35 k V干式电抗器单相接地故障,分别进行直流电阻预试、高频震荡脉冲匝间绝缘测试及返厂解剖,发现第5层包封区域存在严重匝间短路。电抗器匝间短路会导致导线熔断,使得常规预试项目存在局限性。对故障35 k V干式电抗器进行COMSOL有限元热场仿真,电抗器的温度分布结果表明,电抗器在运行时的最热点位于第6层包封,温升约为73.8 K,此外第5、7、14、15层包封的温升也明显高于其他包封,容易使绝缘劣化导致设备故障。通过对故障电抗器的试验进行分析及热场仿真,可以为设备的设计、制造及日常检修、维护提供参考依据。展开更多
基金the Projects of National Natural Science Foundation Program (51177052)the National Engineering Laboratory (Kunming) of UHV Engineering Technology foundation (NEL201306)the Fundamental Research Funds of the central universities (2013ZM0035) for financial support
文摘针对一起35 k V干式电抗器单相接地故障,分别进行直流电阻预试、高频震荡脉冲匝间绝缘测试及返厂解剖,发现第5层包封区域存在严重匝间短路。电抗器匝间短路会导致导线熔断,使得常规预试项目存在局限性。对故障35 k V干式电抗器进行COMSOL有限元热场仿真,电抗器的温度分布结果表明,电抗器在运行时的最热点位于第6层包封,温升约为73.8 K,此外第5、7、14、15层包封的温升也明显高于其他包封,容易使绝缘劣化导致设备故障。通过对故障电抗器的试验进行分析及热场仿真,可以为设备的设计、制造及日常检修、维护提供参考依据。
