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一种高速Serdes接口测试的ATE设计 被引量：4
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作者 谢翰威 翁雷 史晨迪 《环境技术》 2019年第1期101-106,共6页
随着集成电路产业的高速发展,诸如PCI-Express总线、100GBASE以太网、OIF-CEI背板传输等标准串行接口在集成电路上被广泛应用,接口传输速率已经达到16 Gbps～56 Gbps。市场上主流的集成电路自动测试设备,已难以满足这类高速Serdes接口... 随着集成电路产业的高速发展,诸如PCI-Express总线、100GBASE以太网、OIF-CEI背板传输等标准串行接口在集成电路上被广泛应用,接口传输速率已经达到16 Gbps～56 Gbps。市场上主流的集成电路自动测试设备,已难以满足这类高速Serdes接口测试需求。因此,为保证Serdes接口的全速测试及高覆盖率的参数级测试,本文设计了一种新的自动化测试系统。其融合了自动测试设备(ATE)与误码测试仪(BERT),实现了高速Serdes接口眼图、抖动、误码率及抖动容限等关键参数的测试,提高了芯片测试覆盖率与结果可信度。 展开更多
关键词 高速串行接口 自动测试设备 误码测试仪 远端回环 SmarTest SCPI
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