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对数正态模型的极大似然估计 被引量：3
1
作者 薄兰邵 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1989年第4期35-38,共4页
本文提出对数正态模型的吸大似然估计方法(MLE)。在大子样时,这是一种简单而有效的方法。采用IC恒定温度应力加速试验的失效数据,求得了分布参数估计值和可靠性特征量估计值,用K-S检验法和回归分析法检验的结果表明,四种温度应力水平的... 本文提出对数正态模型的吸大似然估计方法(MLE)。在大子样时,这是一种简单而有效的方法。采用IC恒定温度应力加速试验的失效数据,求得了分布参数估计值和可靠性特征量估计值,用K-S检验法和回归分析法检验的结果表明,四种温度应力水平的失效数据服从对数正态分布。从而,获得的可靠性特征量是有效的和可信的。 展开更多
关键词 对数 正态分布 极大似然然计
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对数正态分布及其应用 被引量：1
2
作者 薄兰邵 《质量与可靠性》 1990年第5期33-36,共4页
本文研究了截尾数据对数正态分布参数和恒定应力加速寿命试验中参数的解析估计方法以及可靠性特征量估计。对同一失效数据的对数正态分布参数的GLUE和MLE估计进行了比较。为寿命和加速寿命试验提供了统计分析方法和应用结果。
关键词 对数正分布 半导体器件 试验
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对数正态分布下的失效数据处理方法——介绍航天工业行业标准QJ2407—92
3
作者 薄兰邵 《航天标准化》 1995年第4期12-16,共5页
简述了指数分布和威布尔分布的特点。介绍了QJ2407—92《电子元器件寿命和加速寿命试验数据处理方法》的制定目的和依据;给出了假定产品的寿命服从自然对数正态分布的有关函数,并指出了对数正态分布的应用范围;对标准中对数正态分布参... 简述了指数分布和威布尔分布的特点。介绍了QJ2407—92《电子元器件寿命和加速寿命试验数据处理方法》的制定目的和依据;给出了假定产品的寿命服从自然对数正态分布的有关函数,并指出了对数正态分布的应用范围;对标准中对数正态分布参数的估计方法作了较具体的说明;讨论了图估计方法等5个数据处理的有关问题。 展开更多
关键词 数据处理方法 对数正态分布 电子元器件 寿命试验 加速寿命试验 航天工业行业标准
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两种失效分布的比较
4
作者 薄兰邵 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1992年第6期12-15,共4页
本文研究IC恒定温度应力工作加速寿命试验。在对数正态分布下,参数的估计方法采用极大似然估计(MLE),进行了可靠性特征量估计和假设分布检验。同时,和威布尔分布下的可靠性特征量进行比较,获得了同一失效数据在两种失效分布下的对比结果... 本文研究IC恒定温度应力工作加速寿命试验。在对数正态分布下,参数的估计方法采用极大似然估计(MLE),进行了可靠性特征量估计和假设分布检验。同时,和威布尔分布下的可靠性特征量进行比较,获得了同一失效数据在两种失效分布下的对比结果,为失效分布的选择提供依据。 展开更多
关键词 失效分布 集成电路
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筛选时间的确定
5
作者 薄兰邵 《宇航学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第2期72-77,共6页
本文研究在威布尔分布下筛选时间的点估计和置信上限估计,分别包括图估计和数值估计。推导了为确定筛选时间的置信上限而建立的方程式。确定了IC高温动态老化的筛选时间。为制定筛选技术条件和确定整机老练时间提供理论依据。
关键词 筛选时间 点估计 区间估计
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CMOS电路高温贮存加速试验可靠性估计
6
作者 薄兰邵 程洁超 《质量与可靠性》 1996年第2期17-19,21,共4页
本文研究CMOS数字电路和恒定温度应力加速寿命试验。在对数正态分布下,进行了参数的极大似然估计(MLE)和可靠性特征量估计,并与TTL数字电路相比较,对失效样品进行了分析,为设计、生产和使用提供依据。
关键词 CMOS电路 加速试验 可靠性估计
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