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测试技术的飞跃——边界扫描技术 被引量：5
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作者 蔚英辉 《电信技术》 2002年第2期75-77,共3页
集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难 ,边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可测试性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案 ,极大地方便了系统电路... 集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难 ,边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可测试性设计方法 ,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案 ,极大地方便了系统电路的调试。本文将介绍边界扫描的原理 。 展开更多
关键词 边界扫描技术 测试技术 集成电路
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