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数字电路故障诊断 被引量:10
1
作者 周继承 黎飞 《应用科技》 CAS 2008年第2期29-32,共4页
针对目前数字电路开发和生产过程中对电路的故障诊断效率低下的问题,开发了故障诊断定位软件,能有效地对数字电路中的固定故障和桥接故障进行诊断定位,应用该软件能有效地缩短查找数字电路中故障的时间,对提高数字电路的开发速度具有重... 针对目前数字电路开发和生产过程中对电路的故障诊断效率低下的问题,开发了故障诊断定位软件,能有效地对数字电路中的固定故障和桥接故障进行诊断定位,应用该软件能有效地缩短查找数字电路中故障的时间,对提高数字电路的开发速度具有重大的现实意义. 展开更多
关键词 数字电路 固定故障 桥接故障 故障诊断
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药房中药调剂的精细化管理策略 被引量:7
2
作者 《中国现代药物应用》 2010年第19期238-239,共2页
对于药房中药调剂工作,要在专人负责的基础上,严格调剂操作规程,进行精细化管理,积极改进中药调配方法,提高配方效率,减少调剂剂量误差。
关键词 药房 中药调剂 精细化管理
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基于高海拔地区的大气中子单粒子效应实时测量试验研究 被引量:3
3
作者 张战刚 雷志锋 +10 位作者 黄云 恩云飞 张毅 童腾 李晓辉 师谦 彭超 何玉娟 李键坷 路国光 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第4期725-733,共9页
开展65 nm高速大容量静态随机存取存储器(SRAM)大气中子单粒子效应特性及试验评价技术研究,基于4 300 m高海拔地区大面积器件阵列实时测量试验,突破效应甄别、智能远程测控等关键技术,在153 d的试验时间内共观测到错误43次,其中器件内... 开展65 nm高速大容量静态随机存取存储器(SRAM)大气中子单粒子效应特性及试验评价技术研究,基于4 300 m高海拔地区大面积器件阵列实时测量试验,突破效应甄别、智能远程测控等关键技术,在153 d的试验时间内共观测到错误43次,其中器件内单粒子翻转39次,多单元翻转(MCU)在单粒子翻转中占比23%,最大的MCU为9位。对高能中子、热中子和封装α粒子的贡献比例进行了分析,并基于多地中子通量数据,推演得到北京地面和10 km高空应用时的单位翻转(SBU)和MCU失效率(FIT)。发现地面处软错误的主要诱因为封装α粒子,随着海拔的增高,大气中子对软错误的贡献比例明显增大;MCU全部由高能中子引起,北京10 km高空处的MCU FIT值明显增大,其占比由地面的8%增大至26%。结合器件版图布局,对MCU产生机理进行了深入分析。最后,提出一种目标导向的存储器软错误加固策略优化方法。 展开更多
关键词 大气中子 单粒子效应 高海拔 软错误率
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倒装芯片塑料球栅阵列封装器件在外应力下的失效机理 被引量:4
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作者 林晓玲 +1 位作者 恩云飞 姚若河 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2012年第12期578-584,共7页
倒装芯片塑料球栅阵列(FC-PBGA)封装形式独特而被广泛应用,分析研究其在实际应用过程中,在高温、电、水汽等多种综合环境应力条件作用下的失效机理对提高其应用可靠性有重要意义.本文对0.13μm 6层铜布线工艺的FC-PBGA FPGA器件,通过暴... 倒装芯片塑料球栅阵列(FC-PBGA)封装形式独特而被广泛应用,分析研究其在实际应用过程中,在高温、电、水汽等多种综合环境应力条件作用下的失效机理对提高其应用可靠性有重要意义.本文对0.13μm 6层铜布线工艺的FC-PBGA FPGA器件,通过暴露器件在以高温回流焊过程中的热-机械应力为主的综合外应力作用下的失效模式,分析与失效模式相对应的失效机理.研究结果表明,FC-PBGA器件组装时的内外温差及高温回流焊安装过程中所产生的热-机械应力是导致失效的根本原因,在该应力作用下,芯片上的焊球会发生再熔融、桥接相邻焊球致器件短路失效;芯片与基板之间的填充料会发生裂缝分层、倒装芯片焊球开裂/脱落致器件开路失效;芯片内部的铜/低κ互连结构的完整性受损伤而影响FC-PBGA器件的使用寿命. 展开更多
关键词 倒装芯片 塑料球栅阵列 失效机理 外应力
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一种数字电路的桥接故障诊断方法 被引量:4
5
作者 黎飞 周继承 《科学技术与工程》 2007年第14期3390-3393,共4页
针对目前数字电路桥接故障诊断效率低的问题,提出了一种基于微分故障模拟算法的数字电路的桥接故障诊断方法,用VHDL语言对电路模型进行了重新建模,利用单固定故障的信息来诊断桥接故障,并对ISCAS85平台下的一些电路进行了模拟,结果表明... 针对目前数字电路桥接故障诊断效率低的问题,提出了一种基于微分故障模拟算法的数字电路的桥接故障诊断方法,用VHDL语言对电路模型进行了重新建模,利用单固定故障的信息来诊断桥接故障,并对ISCAS85平台下的一些电路进行了模拟,结果表明该方法简单、高效,特别适合于数字电路的故障诊断,对于提升我国数字电路可靠性具有重要的理论意义与实际推广应用价值。 展开更多
关键词 微分故障模拟 数字电路 桥接故障 故障诊断
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基于神经网络的IGBT结温预测 被引量:4
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作者 李国元 严伟 +1 位作者 周斌 《华中科技大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第7期68-72,共5页
针对大电流下绝缘栅型双极晶体管(IGBT)饱和压降和集电极电流与结温之间的非线性关系带来的结温预测难题,搭建了大电流下IGBT饱和压降测试系统,获取了结温和集电极电流与饱和压降之间的非线性关系曲线,分析了关系曲线变化规律对应的物... 针对大电流下绝缘栅型双极晶体管(IGBT)饱和压降和集电极电流与结温之间的非线性关系带来的结温预测难题,搭建了大电流下IGBT饱和压降测试系统,获取了结温和集电极电流与饱和压降之间的非线性关系曲线,分析了关系曲线变化规律对应的物理机制.采用Matlab软件建立了误差反向传播(BP)神经网络模型和径向基函数(RBF)神经网络模型进行结温预测.与多项式数学模型预测结果对比表明:两种神经网络模型的预测相对误差和预测误差90%置信区间比多项式数学模型更小,结温预测精度更高;并且BP神经网络模型的预测精度高于RBF神经网络模型,结温预测模型选择时应优先考虑BP神经网络模型. 展开更多
关键词 绝缘栅型双极晶体管(IGBT) 结温预测 饱和压降 神经网络 置信区间
原文传递
CMOS存储器IDD频谱图形测试 被引量:3
7
作者 李少平 《电子产品可靠性与环境试验》 2004年第4期50-52,共3页
通过对 CM OS 存储器 IDD 频谱图形测试过程的介绍,测试及试验数据证实 CM OS 存储器 IDD 频谱图 :形 测 试是 可行 的 。
关键词 互补金属氧化物半导体存储器 电源电流 频谱图形 测试向量 缺陷
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集成电路ESD设计验证技术 被引量:2
8
作者 罗宏伟 +1 位作者 路香香 石晓峰 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2008年第6期757-760,共4页
传输线脉冲(TLP)测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具。分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在ESD大电流应力下的I-V特性曲线,提取特征参数,将有利于ESD加固设计的一... 传输线脉冲(TLP)测试是当前电路设计工程师研究ESD保护器件特性和进行ESD加固设计的有力工具。分析了ESD应力作用下MOSFET的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在ESD大电流应力下的I-V特性曲线,提取特征参数,将有利于ESD加固设计的一次成功;通过对典型TLP测试波形的分析,将TLP试验与器件的大电流响应建立联系;最后对扩散电阻和nMOSFET的TLP典型I-V特性进行了分析,并给出了实际的设计参数。 展开更多
关键词 集成电路 传输线脉冲测试 ESD加固设计
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电路板级互连焊点故障监测和预警 被引量:2
9
作者 万明 陆裕东 +3 位作者 尧彬 恩云飞 王歆 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第10期800-803,812,共5页
针对互连焊点在长期应力作用下的蠕变失效,探讨了焊点阻值退化的一般性趋势,在此基础上提出了一种基于电阻电桥原理的焊点故障监测和预警电路设计方案,并基于电子产品可靠性保障工程应用,讨论了电路板级互连焊点故障监测和预警电路的实... 针对互连焊点在长期应力作用下的蠕变失效,探讨了焊点阻值退化的一般性趋势,在此基础上提出了一种基于电阻电桥原理的焊点故障监测和预警电路设计方案,并基于电子产品可靠性保障工程应用,讨论了电路板级互连焊点故障监测和预警电路的实现路径的方法。嵌入式监测电路在电阻缓慢退化阶段和快速退化阶段设置合理的监测起始和终止点,适合对服役中的焊点健康状况进行实时监测和评估。同时,电路具有预警功能,在焊点电性能退化的初期发出预警,并实时采集焊点阻值数据用于焊点剩余寿命的预测,以实现焊点退化的及时预警和退化焊点剩余寿命的预计。 展开更多
关键词 焊点 蠕变失效 可靠性 电阻电桥 故障预测与健康管理
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CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践 被引量:2
10
作者 李少平 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第2期60-62,共3页
分析了CMOS集成电路电源电流与集成电路芯片缺陷的相关性,介绍了CMOS集成电路新的测试方法--IDD频谱图形测试方法的测试原理,以及实现CMOS集成电路IDD频谱图形测试的测试框图。
关键词 CMOS集成电路 IDD频谱图形 互补金属氧化物半导体集成电路 电源电流 缺陷 测试原理
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栅长对SOI NMOS器件ESD特性的影响 被引量:2
11
作者 恩云飞 何玉娟 +2 位作者 罗宏伟 潘金辉 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2010年第3期350-352,452,共4页
采用TLP测试的方式,研究了不同栅长对栅接地SOI NMOS器件ESD(Electrostatic discharge,静电放电)特性的影响,结果发现栅长越大,维持电压VH越大,ESD二次击穿电流It2越大;其原因可能与薄硅层中的热分布有关。
关键词 静电保护 绝缘层上硅 传输线脉冲测试 栅接地n型金属-氧化物-半导体
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城市广场绿化种植及人性化设计分析 被引量:2
12
作者 《绿色环保建材》 2020年第2期89-89,92,共2页
根据城市化的进程在逐步的加快,人们的生活环境与生活质量都发生了相当大的变化。而如今的城市广场是城市居民生活的重要活动场所,其中的环境与绿化的好坏都会直接的影响着市民的生活质量。在城市中能源、资源以及生态环境问题引起人们... 根据城市化的进程在逐步的加快,人们的生活环境与生活质量都发生了相当大的变化。而如今的城市广场是城市居民生活的重要活动场所,其中的环境与绿化的好坏都会直接的影响着市民的生活质量。在城市中能源、资源以及生态环境问题引起人们对城市社会、自然问题的高度重视。为了广大人群能享受到更好的城市生活,就一定要选择能够让城市、人类、与自然和谐共存的长久发展之路,以全新的人性化设计理念为基础。而且在现代城市的设计中,城市广场现已成为城市开放空间系统中极为重要的组成部分之一。 展开更多
关键词 城市广场 绿化种植 植物的配置 人性化设计
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多种栅结构SOI NMOS器件ESD特性研究 被引量:1
13
作者 何玉娟 罗宏伟 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2013年第5期501-504,共4页
研究了不同栅结构对栅接地SOI NMOS器件ESD(Electrostatic discharge,静电放电)特性的影响,结果发现环源结构的SOI NMOS器件抗ESD能力最强,而环栅结构的器件抗ESD能力最弱,其原因可能与器件有缘区面积和电流分布有关。
关键词 静电保护 绝缘层上硅 传输线脉冲测试 栅接地N型金属-氧化层-半导体器件
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薄层金属晶粒结构定量分析技术研究 被引量:1
14
作者 焦慧芳 施明哲 《电子产品可靠性与环境试验》 1998年第6期20-23,共4页
本文论述了薄层金属晶粒结构定量分析技术的重要性,国内外研究动态,并结合本实验室的软、硬件,阐述了计算机图像分析技术的测试原理,测试程序,同时给出了应用实例,取得了有意义的结果。
关键词 薄层 金属晶粒结构 VLSI IC 计算机图像分析
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乡土植物在娄底市园林绿化中的应用初探 被引量:1
15
作者 《南方农业》 2018年第15期74-75,共2页
乡土树种在园林绿化中具有重要作用,因此越来越受到人们的重视和喜爱。基于此,阐述了乡土树种的概念、优特点和作用,分析了娄底园林绿化中乡土树种应用现状及前景,并对乡土树种在园林绿化中的应用提出一些可行的建议。
关键词 乡土树种 生态环境 景观 物种资源 城市绿化
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中药炮制的思考 被引量:1
16
作者 《中国民族民间医药》 2009年第18期61-62,共2页
本文对中药炮制的现状进行了分析,并在此基础上给出了完善中药炮制的对策,希望对同行有所帮助和借鉴。
关键词 中药炮制 问题 对策
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几味骨伤科常用中药的炮制
17
作者 《亚太传统医药》 2009年第10期33-34,共2页
对几味骨伤科常用中药的成分和功效进行了探讨,并介绍了其炮制方法。
关键词 炮制 骨伤 作用
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文件型病毒的一种防治方法
18
作者 《电脑》 1995年第10期36-39,共4页
在当今计算机病毒泛滥的年代,计算机病毒的确造成了很大的破坏,常常令人谈“毒”色变.但我单位的公用计算机却很少受到病毒的困扰,主要是我们做了较好的预防措施,所以病毒较难传播.因此,在病毒防治中最重要的是做好预防措施.按病毒的引... 在当今计算机病毒泛滥的年代,计算机病毒的确造成了很大的破坏,常常令人谈“毒”色变.但我单位的公用计算机却很少受到病毒的困扰,主要是我们做了较好的预防措施,所以病毒较难传播.因此,在病毒防治中最重要的是做好预防措施.按病毒的引导方式划分,病毒可分为引导型、文件外壳型、复合型.引导型的病毒防治很简单。 展开更多
关键词 文件型病毒 计算机病毒 防治
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机械硬盘加速寿命试验及状态监测技术研究
19
作者 孟苓辉 董明 +3 位作者 张诚权 侯波 周振威 《电子产品可靠性与环境试验》 2024年第3期34-40,共7页
机械硬盘的健康状态监测和诊断对于企业的安全可靠运行和节约运维成本起着至关重要的作用。首先,分析了硬盘的基本组成和不同环境应力下的故障模式和机理;其次,根据实际运行环境制定了加速寿命试验,并在试验过程中对硬盘的SMART数据进... 机械硬盘的健康状态监测和诊断对于企业的安全可靠运行和节约运维成本起着至关重要的作用。首先,分析了硬盘的基本组成和不同环境应力下的故障模式和机理;其次,根据实际运行环境制定了加速寿命试验,并在试验过程中对硬盘的SMART数据进行采集和存储;最后,经过对比和分析发现了该型号硬盘的敏感SMART参数,并发现寻道出错率具有明显的退化趋势,可用于故障预警和预测。 展开更多
关键词 机械硬盘 加速寿命试验 SMART参数 状态监测
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医院中药饮片的质量管理措施探讨 被引量:6
20
作者 《临床和实验医学杂志》 2007年第10期171-171,共1页
关键词 质量管理 中药饮片 医院 质量控制
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