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芯片验证分析及测试流程优化技术
被引量：
4
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作者
韩银和
李晓维
+3 位作者
罗
飞
茵
林建京
陈宇川
朱小荣
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2005年第10期2227-2231,共5页
分析了不同测试项目对于一款采用0.18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力.以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的测试流程可以减少...
分析了不同测试项目对于一款采用0.18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力.以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的测试流程可以减少失效芯片的测试时间.该算法和动态规划算法相比,计算复杂度从O(dn2n)降低到O(dn3).最后用实验数据证明了该算法的有效性.
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关键词
失效分析
实速测试
动态规划算法
启发式搜索算法
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职称材料
题名
芯片验证分析及测试流程优化技术
被引量：
4
1
作者
韩银和
李晓维
罗
飞
茵
林建京
陈宇川
朱小荣
机构
中国科学院计算技术研究所信息网络室
北京市微电子技术研究所
泰瑞达(上海)有限公司
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2005年第10期2227-2231,共5页
基金
国家自然科学基金(90207002)
北京市重点科技项目(H020120120130)
文摘
分析了不同测试项目对于一款采用0.18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力.以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的测试流程可以减少失效芯片的测试时间.该算法和动态规划算法相比,计算复杂度从O(dn2n)降低到O(dn3).最后用实验数据证明了该算法的有效性.
关键词
失效分析
实速测试
动态规划算法
启发式搜索算法
Keywords
defect analysis
at-speed test
dynamic programming algorithm
heuristic search algorithm
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
芯片验证分析及测试流程优化技术
韩银和
李晓维
罗
飞
茵
林建京
陈宇川
朱小荣
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2005
4
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