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针对RSA-CRT数字签名的光故障攻击研究 被引量：4
1
作者 王红胜 纪道刚 +1 位作者 张阳 陈开颜 《电子设计工程》 2015年第6期12-15,共4页
通过研究密码芯片SRAM存储单元构造,利用激光改变进行运算的SRAM存储单元的逻辑状态,分析光注入对SRAM存储单元的影响。以Montgomery乘的RSA-CRT数字签名算法为攻击对象,分析其算法的实现过程和故障注入机理。针对密码芯片实现的8位RSA-... 通过研究密码芯片SRAM存储单元构造,利用激光改变进行运算的SRAM存储单元的逻辑状态,分析光注入对SRAM存储单元的影响。以Montgomery乘的RSA-CRT数字签名算法为攻击对象,分析其算法的实现过程和故障注入机理。针对密码芯片实现的8位RSA-CRT签名算法,使用半导体激光作为注入光源,搭建光注入实验平台,在计算Sq时刻进行故障注入,从而得到故障签名,通过分析故障签名与N的关系,成功的获得了大素数q,验证了光故障攻击的有效性。 展开更多
关键词 密码芯片 数字签名 RSA-CRT 光故障攻击 Montgomery乘
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基于时间相关单光子计数技术的密码芯片光辐射分析 被引量：3
2
作者 王红胜 纪道刚 +5 位作者 高艳磊 张阳 陈开颜 陈军广 吴令安 王永仲 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第5期414-420,共7页
密码芯片运行时的光辐射可泄露其操作和数据的重要特征信息.基于单光子探测技术,设计并构建了针对CMOS半导体集成电路芯片光辐射信号的采集、传输、处理和分析的光电实验系统.以AT89C52单片机作为实验对象,采用时间相关单光子计数技术,... 密码芯片运行时的光辐射可泄露其操作和数据的重要特征信息.基于单光子探测技术,设计并构建了针对CMOS半导体集成电路芯片光辐射信号的采集、传输、处理和分析的光电实验系统.以AT89C52单片机作为实验对象,采用时间相关单光子计数技术,对不同工作电压下密码芯片的光辐射强度进行了对比,分析了芯片指令级光辐射信息的操作依赖性和数据依赖性.此外,使用示波器对时间相关单光子计数技术在芯片光辐射分析上的可行性进行了验证.实验结果表明,采用时间相关单光子计数技术对密码芯片进行光辐射分析,是一种直接有效的中低等代价光旁路分析攻击手段,对密码芯片的安全构成了严重的现实威胁. 展开更多
关键词 密码芯片安全性分析 旁路攻击 时间相关单光子计数 光辐射的操作/数据依赖性
原文传递
密码芯片光辐射依赖性分析
3
作者 王红胜 纪道刚 +1 位作者 张阳 陈开颜 《计算机与数字工程》 2014年第10期1920-1923,共4页
通过分析CMOS集成电路光辐射机理,利用单光子探测技术,搭建针对CMOS电路光辐射采集平台;以运行固定指令的AT89C52微控制器为分析对象,分析密码芯片光辐射信息与其执行的操作及处理的数据存在的依赖性关系,同时也分析了不同工作电压对密... 通过分析CMOS集成电路光辐射机理,利用单光子探测技术,搭建针对CMOS电路光辐射采集平台;以运行固定指令的AT89C52微控制器为分析对象,分析密码芯片光辐射信息与其执行的操作及处理的数据存在的依赖性关系,同时也分析了不同工作电压对密码芯片光辐射的影响;通过对密码芯片光辐射进行分析,说明光辐射旁路分析对安全芯片构成了严重的威胁。 展开更多
关键词 光辐射 依赖性分析 密码芯片 单光子探测 旁路分析
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